Nosso Programa de Bolsas Acadêmicas ajuda instituições educacionais a acessar nossos instrumentos analíticos de ponta, fornecendo aos cientistas os recursos necessários para publicar pesquisas de alta qualidade.
A nossa gama de analisadores de tamanho das partículas líder mundial permite que você maximize a produtividade e desenvolva produtos superiores mais rapidamente.
Oferecemos uma gama versátil de espectrômetros de fluorescência de raios X e produtos relacionados para análise elementar e de filme espesso.
Nossas soluções de XRD são usadas em vários ambientes, desde universidades e institutos de pesquisa até laboratórios de controle de processos industriais.
Espectrômetros de infravermelho próximo e espectrorradiômetros
Espectrômetros portáteis e alternativas portáteis
Fácil preparação de amostras para análises XRF precisas
Reduzindo custos e otimizando a qualidade para a indústria
Nossa equipe de vendas ficará feliz em ajudar - nosso objetivo é entrar em contato em até 1 dia útil.
Fale com VendasBaixe o software e os manuais do usuário mais recentes para o seu produto.
Navegue por nossa linha completa de instrumentos premiados.
Fazemos parcerias com nossos clientes em uma ampla variedade de setores e aplicações para tornar suas soluções possíveis por meio do poder das medições de precisão, nossa experiência, dados confiáveis e insights.
Melhorar as taxas de recuperação e a eficiência do processo, desde a exploração até o processamento mineral
A percepção físico-química necessária para acelerar o lançamento de medicamentos no mercado
Soluções analíticas para análise de metais e fabricação de ligas
Armazenamento de energia renovável: capacite sua pesquisa e produção com as melhores soluções analíticas
Os sistemas mais usados no mundo inteiro para medição de nanopartículas, tamanho de partículas biomoleculares e coloides e de carga de partículas
A maneira mais inteligente de medir o tamanho das partículas
Rapidez e precisão na análise elementar e em linha
A solução multifuncional para suas necessidades analíticas
Uma técnica não destrutiva destinada a estudar todos os tipos de materiais
Espalhamento de luz dinâmico para caracterização de tamanho de proteínas, nanopartículas, polímeros e dispersões coloidais
Visualização e mensuração do tamanho e da concentração das partículas
Espectroscopia de fluorescência de raios X e aplicações de XRF
Análise das distribuições de tamanho das partículas, de subnanômetros a milímetros.
Medições do potencial zeta para melhorar a estabilidade da formulação, o prazo de validade e reduzir o tempo e os custos da formulação
Soluções de análise de interação de proteína ligante sem marcadores usando GCI e ITC
Equipamento de análise de umidade e instrumentação que utiliza espectroscopia NIR
A ciência se move mais rapidamente quando compartilhamos conhecimento. Precisa de novas maneiras de repensar grandes desafios, quer aprimorar suas habilidades técnicas ou participar de uma comunidade de especialistas? Temos um webinar, um seminário ou um curso de treinamento perfeito para você.
{{ event.content }}
Navegue pela nossa enorme biblioteca de manuais e informações sobre instrumentos e aplicações, disponível gratuitamente.
Obtenha rapidamente o suporte de que você precisa.
Encontre seu escritório local da Malvern Panalytical.
Nossa visão é tornar o mundo mais limpo, saudável e produtivo. Descubra mais sobre como nossos instrumentos científicos ajudam os usuários a entender e modelar melhor tudo, desde proteínas, metais e polímeros até o solo e o ar ao nosso redor. De tópicos importantes a histórias de clientes, percepções do setor e treinamento técnico - nosso blog está aqui para ajudá-lo a se manter atualizado.
I’m thrilled to announce that OmniTrust software, our data integrity and 21 CFR Part 11 compliance-ready solution, is now available for NanoSight Pro. Designed for pharmaceutical laboratories operating in regulated environments, OmniTrust extends the power of NSXplorer – the intuitive software platform behind NanoSight Pro – with features that support data integrity, user management, and […]
Na produção moderna de semicondutores, onde a precisão é crítica, inconsistências na reprodutibilidade de medições podem comprometer o controle de processo, rendimento e desempenho. A fluorescência de raios X por dispersão de comprimento de onda (WD-XRF) é uma técnica de metrologia importante que tem provado atender a critérios rigorosos quando se trata de resultados reproduzíveis […]
X-ray fluorescence (XRF) analysis is a key component of wafer metrology, a critical process for ensuring the performance and reliability of semiconductor devices. As the challenges faced by the semiconductor industry evolve, XRF wafer metrology must keep up. Here, we will explore the latest innovations in XRF wafer metrology, focusing on how the industry is […]
