【ウェビナーレポート】半導体業界に革新をもたらす「単結晶方位測定ソリューション」とは?
半導体やエレクトロニクス分野で重要な役割を果たす「結晶方位測定」。その最前線を紹介するウェビナーが、先日開催されました。今回はその内容をわかりやすくまとめてご紹介します。
高精度・高速測定で業界をリード
今回のウェビナーでは、X線結晶方位測定装置 Crystal Orientation製品です。特に注目すべきは、0.003度という高精度と、最短10秒での高速測定を両立している点です。
主な測定ソリューション

🔹 高性能でコンパクト、卓上型X線結晶方位SDCOM
- 最大4×4cmのサンプルをマッピング可能
- 小型サンプルにも対応(最小2×2mm)
🔹 多目的高精度全自動X線単結晶方位測定装置 Omega/Theta
- 最大300mmのウェーハを非接触で測定
- 干渉を避ける広いスペース設計
🔹 全自動デスクトップX線単結晶方位測定装置 DDCOM
- より複雑な結晶構造の解析に対応
こんな方におすすめ
- 単結晶の成長や加工に関わる研究者・技術者
- ウェーハ製造や品質管理に携わる方
- ラボで多用途な測定装置をお探しの方
ウェビナーで得られること
- 各装置の測定原理と特徴
- 実際の測定事例と応用例
- ラボでの柔軟な運用方法
まとめ
結晶方位の測定は、半導体製造の品質と効率を左右する重要な工程です。Crystal Orientation製品は、その精度と柔軟性で、研究開発から量産現場まで幅広く活用されています。ぜひウェビナーを通じて、最新の技術動向をチェックしてみてください。
ウェビナーは無料でご覧いただけます。
Dieser Artikel wurde möglicherweise automatisch übersetzt
{{ product.product_name }}
{{ product.product_strapline }}
{{ product.product_lede }}