In der Materialforschung stehen Wissenschaftler vor vielen analytischen Fragen im Zusammenhang mit der Kristallzusammensetzung von Materialproben. Die Röntgendiffraktometrie (XRD) ist das einzige Laborverfahren, mit dem strukturelle Informationen, z. B. über die chemische Zusammensetzung, die Kristallstruktur, die Kristallitgröße, Spannungen, Vorzugsorientierung und Schichtdicke gewonnen werden können. Materialforscher nutzen daher die XRD zur Analyse unterschiedlichster Materialien von Pulvern und Feststoffen bis hin zu Dünnschichten und Nanomaterialien.

Wissenschaft und Industrie

Viele Forscher sowohl in industriellen als auch in wissenschaftlichen Laboren vertrauen auf die Röntgendiffraktometrie als Werkzeug zur Entwicklung neuer Materialien oder zur Effizienzsteigerung bei der Produktion. Innovationen in der Röntgendiffraktometrie sind eng mit der Erforschung neuer Materialien verknüpft, wie z. B. im Bereich der Halbleitertechnologien oder bei der Suche nach neuen Pharmazeutika. Die industrielle Forschung ist auf die stetig wachsende Geschwindigkeit und Effizienz von Produktionsprozessen ausgerichtet. Vollständig automatisierte Röntgendiffraktometrieverfahren im Bergbau und bei der Produktion von Baustoffen führen zu kosteneffizienteren Lösungen für die Produktionskontrolle.

Antworten auf analytische Fragen

Die Röntgendiffraktometrie erfüllt viele analytische Anforderungen von Materialforschern. In Pulvern können chemische Phasen sowohl qualitativ als auch quantitativ ermittelt werden. Die hochauflösende Röntgendiffraktometrie ermöglicht die Ermittlung von Schichtparametern wie Zusammensetzung, Dicke, Rauheit und Dichte in Halbleiter-Dünnschichten. Per Kleinwinkel-Röntgenstreuung und Paarverteilungsfunktion (PDF) können genauere Aussagen über die strukturellen Eigenschaften von Nanomaterialien getroffen werden. Spannungen und Vorzugsorientierung können in einer Vielzahl von Feststoffen und Konstruktionsteilen ermittelt werden.

Machen Sie sich ein Bild!

Malvern Panalytical lädt Sie ein, sich ein genaueres Bild von der breiten Palette von Anwendungen zu machen, in denen ein Diffraktometer zur Lösung analytischer Probleme beitragen kann.

Aeris

Empyrean

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Aeris Empyrean X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Benchtop X-ray diffractometer

Die Vielzwecklösung für Ihre analytischen Anforderungen

Versatile research & development XRD system

Versatile research, development & quality control XRD system

Mehr Details Mehr Details Mehr Details Mehr Details
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)
Typ der Messung
Partikelform
Partikelgröße
Crystal structure determination
Phasenidentifizierung
Phase quantification
Detektion und Analyse von Kontaminationen
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Dünnschicht-Messtechnik
Residual stress