Download the brochure - In-operando XRD battery research and quality control solutions. Download now

Download now

Röntgendiffraktometer (XRD)

Fast ein Jahrhundert Erfahrung in der Röntgendiffraktometrie

Röntgendiffraktometer (XRD)

Röntgendiffraktometer von Malvern Panalytical sind so konzipiert, dass sie Beugungsdaten in höchster Qualität liefern. Dabei bieten sie einen hohen Bedienkomfort und die Flexibilität, schnell zwischen verschiedenen Anwendungen zu wechseln.

XRD-Lösungen

Unsere Diffraktometer werden in zahlreichen Umgebungen eingesetzt – von Universitäten und Forschungsinstituten bis zu industriellen Prozesskontroll-Laboren. Unabhängig von Ihren Anforderungen an die Röntgendiffraktometrie (XRD) bieten wir Ihnen stets das geeignete Gerät. Dabei unterstützen wir Sie durch unsere weltweite Vertriebs- und Kundendienstorganisation.

Unsere Mehrzweckdiffraktometer (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD XL) sind alle mit PreFIX-Modulen ausgestattet (von engl.: Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules; vorjustierte, schnell auswechselbare Röntgenmodule). Hierdurch können problemlos und schnell Änderungen am Strahlengang vorgenommen werden. Daher können wir auf einer einzelnen Diffraktometerplattform eine maximale Anzahl von Applikationen anbieten. In unserem Knowledge-Center finden Sie weitere Informationen über die vielen interessanten XRD-Anwendungen, die mit unseren Geräten möglich sind.

Aeris

Lassen Sie sich von unserem hochpräzisen und schnellen XRD-System überraschen. Präzise Ergebnisse können in weniger als fünf Minuten vorliegen.
Aeris

Empyrean

Unsere neu entwickelte MultiCore-Optik ermöglicht die größte Vielfalt an Messungen ohne manuellen Eingriff.
Empyrean

X'Pert³

Die lange und erfolgreiche Geschichte unserer Diffraktometer für die Materialforschung wird mit einer neuen Generation von X'Pert³ fortgesetzt.
X'Pert³

Lösungen zur Kristallorientierung

Unser Angebot an Kristallausrichtungslösungen ist auf Ingot-, Wafer- und Kristallanwendungen ausgelegt. Mit unseren Instrumenten wird die Kristallorientierung in einer Reihe von Umgebungen vereinfacht – von der Online-Analyse bis zur Desktop-Recherche sind wir für Sie da.

So vergleichen Sie unsere Produkte

  • Aeris

    Die Zukunft ist kompakt

    Aeris

    Technologie

    • Röntgendiffraktometrie (XRD)

    Typ der Messung

    • Partikelform
    • Partikelgröße
    • Bestimmung von Kristallstrukturen
    • Phasenidentifizierung
    • Phasenquantifizierung
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Epitaxieanalyse
    • Grenzflächenrauheit
    • 3D-Struktur/Bildgebung
    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Eigenspannung
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
  • Empyrean

    Mehrzweck-Röntgendiffraktometer

    Empyrean

    Technologie

    • Röntgendiffraktometrie (XRD)

    Typ der Messung

    • Partikelform
    • Partikelgröße
    • Bestimmung von Kristallstrukturen
    • Phasenidentifizierung
    • Phasenquantifizierung
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Epitaxieanalyse
    • Grenzflächenrauheit
    • 3D-Struktur/Bildgebung
    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Eigenspannung
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
  • X'Pert³

    Vielseitiges Forschungs- und Entwicklungs-XRD-System

    X'Pert³

    Technologie

    • Röntgendiffraktometrie (XRD)

    Typ der Messung

    • Partikelform
    • Partikelgröße
    • Bestimmung von Kristallstrukturen
    • Phasenidentifizierung
    • Phasenquantifizierung
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Epitaxieanalyse
    • Grenzflächenrauheit
    • 3D-Struktur/Bildgebung
    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Eigenspannung
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
  • Produktpalette für Kristallausrichtung

    Schnelle, präzise Kristallorientierung

    Produktpalette für Kristallausrichtung

    Technologie

    • Röntgendiffraktometrie (XRD)

    Typ der Messung

    • Partikelform
    • Partikelgröße
    • Bestimmung von Kristallstrukturen
    • Phasenidentifizierung
    • Phasenquantifizierung
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Epitaxieanalyse
    • Grenzflächenrauheit
    • 3D-Struktur/Bildgebung
    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Eigenspannung
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM