Produktpalette für Kristallausrichtung

Schnelle, präzise Kristallorientierung

Produktpalette für Kristallausrichtung

Ein Kristall besteht aus einem sich wiederholenden Muster von Atomen. Das bedeutet, dass sich die Struktur eines Kristalls aus der Perspektive eines Elektrons/Photons, das in einen Kristall eindringt, je nach dem Winkel, in dem wir in diesen Kristall blicken, ändert. Wir könnten einen Kanal sehen, der sich durch das gesamte Kristallmaterial erstreckt, oder nur die oberen drei Schichten des Materials. Daher können die Materialeigenschaften je nach Winkel sehr unterschiedlich sein. Eine gute Kontrolle der Materialeigenschaften erfordert eine gute Kontrolle der Kristallausrichtung.

Dies ist ein wichtiger Prozess bei der Ionenimplantation, Lithographie und Epitaxie, aber auch bei der Herstellung von Laser- oder optischen Komponenten.

Die Produktpalette für Kristallausrichtung basiert auf dem Azimut-Scan. Dies ist eine intelligente Technologie für die geometrische Messung der Ausrichtung von Kristallen. Das bedeutet, dass nicht nur die Neigung der Hauptachse, sondern auch alle ebenen Richtungen in nur 10 Sekunden erfasst werden können. Mit den Geräten kann fast jede Form gemessen werden, solange es sich dabei um einen einzelnen Kristall handelt, wie z. B. Wafer, Barren, Säulen, Pucks usw.

Unsere hochpräzisen Kristallausrichtungssysteme sind besonders für industrielle Anwendungen wie die Herstellung von Einzelkristallen oder Wafern, für Forschungszwecke, aber auch für die Qualitätskontrolle der Wafer und anderer Geräte entwickelt worden. 

Sie bieten einfache und schnelle Messungen der Kristallausrichtung, sodass die gewünschten Eigenschaften für die nächsten Verarbeitungsschritte zur Verfügung stehen.

DDCOM

Ultra-fast, bottom surface measuring crystal orientation in a compact package

Zu den Funktionen gehören

  • Benchtop device
  • Higher throughput due to no height alignment
DDCOM

SDCOM

Ultra-fast, flexible, top surface measuring crystal orientation in a compact package

Zu den Funktionen gehören

  • Benchtop device
  • Outstanding accuracy, fit for samples from 2 mm² up to 300 mm Ø wafers
SDCOM

Omega/Theta

Fully automated vertical three-axis X-ray diffractometer for ultra-fast crystal orientation

Zu den Funktionen gehören

  • As fast as 10 seconds per full crystal measurement
  • Higher throughput and outstanding accuracy compared to conventional systems
  • Flexible with accessories for marking, mapping, alignments for transfers of all single crystalline materials
Omega/Theta

Wafer XRD 200

Fast, precise and fully equipped solution for wafer orientation and sorting

Zu den Funktionen gehören

  • High capacity wafer metrology; full cassette of 25 wafers measured in less than 10 minutes
  • Optimal for Wafer Production: measure crystal orientation, recognize wafer ID, flat/notch and shape of wafer edge
Wafer XRD 200

Wafer XRD 300

Integratable wafer orientation solution

Zu den Funktionen gehören

  • High throughput wafer metrology system
  • Supports 300mm Si wafers
  • Optimal for Wafer Production: measure crystal orientation, recognize wafer ID, flat/notch and shape of wafer edge
Wafer XRD 300

XRD-OEM

Fully automated in-line orientation and handling of ingots, boules, and pucks

Zu den Funktionen gehören

  • Measurement head for crystal orientation
  • Built for integration into e.g. cutting and grinding machines
XRD-OEM

So vergleichen Sie unsere Produkte

  • DDCOM

    Ultraschnelle Messung der Kristallausrichtung an der Bodenoberfläche in einem kompakten Gehäuse

    DDCOM
    • Röntgendiffraktometrie (XRD)
    • Kristallausrichtung

    Systemtyp

    • Tischspektrometer
    • Mapping-Bühne
    • Mahlstufe
    • Stapelbühne

    Röhrenleistung

    • 30 kV/1 mA

    Kühlsystem

    • Luftkühlung
    • Kennzeichnung

    Optische Geometrieerkennung

    • Nein
    • Rockingkurve (Kristallqualität der Probe)
    • Theta-Scans (nur zur Ausrichtung mit Basisoptik)

    Durchsatzgeschwindigkeit

    • >10 Sekunden
  • SDCOM

    Ultraschnelle Messung der Oberseite für die Kristallausrichtung in einem kompakten Gehäuse

    SDCOM
    • Röntgendiffraktometrie (XRD)
    • Kristallausrichtung

    Systemtyp

    • Tischspektrometer
    • Mapping-Bühne
    • Mahlstufe
    • Stapelbühne

    Röhrenleistung

    • 30 kV/1 mA

    Kühlsystem

    • Luftkühlung
    • Kennzeichnung

    Optische Geometrieerkennung

    • Für Säulen optional
    • Rockingkurve (Kristallqualität der Probe)
    • Theta-Scans (nur zur Ausrichtung mit Basisoptik)

    Durchsatzgeschwindigkeit

    • Höhenanpassung + 10 Sekunden
  • Omega/Theta

    Vollautomatisches vertikales Drei-Achsen-Röntgendiffraktometer für ultraschnelle Kristallausrichtung

    Omega/Theta
    • Röntgendiffraktometrie (XRD)
    • Kristallausrichtung

    Systemtyp

    • Standgerät
    • Mapping-Bühne
    • Mahlstufe
    • Stapelbühne

    Röhrenleistung

    • 30 kV/10 mA

    Kühlsystem

    • Wasserkühlung
    • Kennzeichnung

    Optische Geometrieerkennung

    • Für Säulen optional
    • Rockingkurve (Kristallqualität der Probe)
    • Theta-Scans (nur zur Ausrichtung mit Basisoptik)

    Durchsatzgeschwindigkeit

    • Höhenanpassung + 10 Sekunden
  • Wafer XRD 200

    Schnelle, präzise und vollständig ausgestattete Lösung für die Wafer-Ausrichtung und -Sortierung

    Wafer XRD 200
    • Röntgendiffraktometrie (XRD)
    • Kristallausrichtung

    Systemtyp

    • Standgerät
    • Mapping-Bühne
    • Mahlstufe
    • Stapelbühne

    Röhrenleistung

    • 30 kV/1 mA

    Kühlsystem

    • Luftkühlung
    • Kennzeichnung

    Optische Geometrieerkennung

    • Ja
    • Rockingkurve (Kristallqualität der Probe)
    • Theta-Scans (nur zur Ausrichtung mit Basisoptik)

    Durchsatzgeschwindigkeit

    • 10 Minuten für 25 Wafer
  • Wafer XRD 300

    Ihre integrierbare Wafer-Ausrichtungslösung

    Wafer XRD 300
    • Röntgendiffraktometrie (XRD)
    • Kristallausrichtung

    Systemtyp

    • Standgerät
    • Mapping-Bühne
    • Mahlstufe
    • Stapelbühne

    Röhrenleistung

    • 30 kV/1 mA

    Kühlsystem

    • Wasserkühlung
    • Kennzeichnung

    Optische Geometrieerkennung

    • Ja
    • Rockingkurve (Kristallqualität der Probe)
    • Theta-Scans (nur zur Ausrichtung mit Basisoptik)

    Durchsatzgeschwindigkeit

    • --
  • XRD-OEM

    Vollautomatische Inline-Ausrichtung und Handhabung von Barren, Säulen und Pucks

    XRD-OEM
    • Röntgendiffraktometrie (XRD)
    • Kristallausrichtung

    Systemtyp

    • Messkopf
    • Mapping-Bühne
    • Mahlstufe
    • Stapelbühne

    Röhrenleistung

    • 30 kV/1 mA

    Kühlsystem

    • Luftkühlung
    • Kennzeichnung

    Optische Geometrieerkennung

    • In Kürze verfügbar
    • Rockingkurve (Kristallqualität der Probe)
    • Theta-Scans (nur zur Ausrichtung mit Basisoptik)

    Durchsatzgeschwindigkeit

    • Von der Maschine abhängig