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Letzte Aktualisierung der Markenliste: 20. März 2025

Marke	Status
1DER	®
AERIS	®
AERIS PANALYTICAL	™
ASD	™
(ASD Inc)-Logo	®
AMASS	®
AMPLIFY ANALYTICS	®
AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo)	®
Archimedes	®
AXIOS	®
CHI-BLUE	®
CLAISSE	®
Claisse (+ Logo)	®
CREOPTIX	®
CUBIX	®
CubiX³	®
dCore	™
EAGON	®
Eagon 2	™
EasySAXS	®
EMPYREAN	®
EPSILON	®
EPSILON Xflow	®
ExpertSAXS	®
FIELDSPEC	®
FIPA	™
FLUOR’X	®
FORJ	™
GaliPIX^3D	®
Gemini	™
goLab	™
HandHeld 2	™
HighScore	®
Hydrosight	™
iCore	™
Indico Pro	™
INSITEC	®
(Insitec-Logo)	®
(Insitec Measurement Systems Logo)	®
ISYS	®
LabSizer	™
LABSPEC	®
LeNeo	®
LeDoser	™
LeDoser-12	™
M3 PALS	™
M4	™
MADLS	®
MALVERN	®
(Dreieckshügel-Logo + Malvern Instruments)	®
马尔文 (Malvern in chinesischen Schriftzeichen)	®
MALVERN INSTRUMENTS	®
马尔文仪器 (Malvern Instruments in chinesischen Schriftzeichen)	™
Malvern Link	™
(Malvern-Logo mit Hügeln)	®
MALVERN PANALYTICAL	®
马尔文帕纳科 (MALVERN PANALYTICAL in chinesischen Schriftzeichen)	®
マルバーン·パナリティカル (MALVERN PANALYTICAL in Katakana)	®
말번 파날리티칼 (MALVERN PANALYTICAL in koreanischer Schrift)	®
MALVERN PANALYTICAL (+ X-LOGO)	®
MASTERSIZER	®
Mastersizer 2000	™
MC (stilisiert)	™
MDRS	®
MICROCAL	®
MORPHOLOGI	®
(Dreieckshügel-Logo)	®
NanoSight	®
NIBS	™
Oil-Trace	®
Omnian	®
OmniSEC	®
OmniTrust	®
PANALYTICAL	®
帕纳科 (PANALYTICAL in chinesischer Schrift)	®
パナリティカル (PANALYTICAL in Katakana)	®
PANalytical AERIS	®
PANalytical + Logo	®
PANTOS	™
PEAQ-ITC	®
PIXcel	®
PIXcel^1D	®
PIXcel^3D	®
PIXIRAD	®
QUALITYSPEC	®
REVONTIUM	®
SMART RETURN	™
Spraytec	™
SST	®
SST-mAX	®
SUPER SHARP TUBE	®
Stratos	®
SuperQ	®
SyNIRgi	™
TERRASPEC	®
TheOx	®
Ultrasizer	™
VENUS MINILAB	™
ViewSpec	™
Viscogel	™
VISCOTEK	®
Viscotek SEC-MALS	™
WAVEchip	®
WAVEcore	®
waveRAPID	®
WE'RE BIG ON SMALL	®
(X-Logo)	®
X'CELERATOR	®
X'Pert³	®
ZETASIZER	®
ZETIUM	®
ZS Helix	™

Patente

Malvern PANalytical und/oder seine verbundenen Unternehmen verfügen über eine Reihe einzigartiger, marktführender Produkte, die durch die folgenden Patente, Patentanmeldungen, eingetragenen Designs und/oder anhängigen Designanmeldungen geschützt sind.

Diese Website dient zur Recherche, um unseren Wettbewerbern konstruktive Hinweise zu liefern, sowie zur Erfüllung der Bestimmungen zur virtuellen Patentkennzeichnung unterschiedlicher Rechtsordnungen (einschließlich Abschnitt 16 des „America Invents Act“ und 35 U.S.C. § 287 des Patentrechts der Vereinigten Staaten von Amerika sowie gemäß Abschnitt 62(1) des britischen Patentgesetzes).

Aus Gründen der Übersichtlichkeit sind Veröffentlichungsnummern nachfolgend aufgeführt. Die Endungen „A“, „A1“, „A2“ oder „A3“ beziehen sich auf anhängige Patentanmeldungen. Die Endungen „B“, „B1“ oder „B2“ beziehen sich auf erteilte Patente.

Obwohl wir uns um Vollständigkeit bemühen, ist das Patentverfahren dynamisch, und der Inhalt dieser Liste wird sich im Laufe der Zeit aus Gründen wie beispielsweise neuen Anmeldungen, Veröffentlichungen, Erteilungen, Rücknahmen, Ablauf, Erlöschen, Produktänderungen, Lizenzvergaben oder anderen Umständen ändern.

Diese Auflistung erhebt keinen Anspruch auf Vollständigkeit. Die aufgeführten Produkte können durch zusätzliche Patente oder anhängige Patentanmeldungen geschützt sein. Andere hier nicht aufgeführte Produkte können durch ein oder mehrere Patente oder anhängige Patentanmeldungen geschützt sein. Das Fehlen eines Patents oder Produkts in dieser Liste schließt eine Durchsetzung sämtlicher mit dem jeweiligen Patent oder Produkt verbundenen gesetzlichen Rechte nicht aus.

Letzte Aktualisierung der Patentliste: 20. März 2025

Mastersizer

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
GB2494735B	Vorrichtung zur Messung der Partikelgrößenverteilung durch Lichtstreuung	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E, Mastersizer 3000+ Reihe
CN104067105B (ZL201280042740.0) EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B2	Vorrichtung und Methode zur Messung der Partikelgrößenverteilung durch Lichtstreuung	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000+ Ultra
US10837889B2 GB2494734B	Vorrichtung und Methode zur Messung der Partikelgrößenverteilung durch Lichtstreuung	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E, Mastersizer 3000+ Reihe
WO2024023498A2 EP4312015A1	PARTIKELCHARAKTERISIERUNG	Mastersizer 3000+: Pro und Ultra
WO2024023497A1	Datenqualität	Mastersizer 3000+: Pro und Ultra
WO2024180386A1	PARTIKELCHARAKTERISIERUNG	Mastersizer 3000+: Ultra

Zetasizer

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
EP2467701B1 (CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8) CN102575984B (ZL201080036806.6) US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2	Dynamische Lichtstreuung auf Basis der Mikrorheologie komplexer Flüssigkeiten mit verbesserter Einzelstreuungserkennung	Zetasizer Advance-Produktlinie, Nano ZSP, Helix
CN103608671B (ZL201280027695.1) CN105891304B (ZL201610324224.7) EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2	Messung der Oberflächenladung	Zubehör für Zeta-Plattenzellen
US8702942B2 CN103339500B (ZL201180060863.2) EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP6006231B2 JP6453285B2 US10648945B2 US11988631B2	Laser-Doppler-Elektrophorese mit Diffusionsbarriere	Zetasizer Advance-Produktlinie, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano-ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2) US9816922B2	Doppelcharakterisierung von Partikeln	Zetasizer Helix
US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527B1 (GB, FR, DE602016077138.1) JP6936229B2 CN108291861B (ZL201680068213.5) JP7361079B EP4215900A1	Partikelcharakterisierung	Zetasizer Advance-Produktlinie
US10119910B2	Partikelcharakterisierungsvorrichtung	Zetasizer Advance: Ultra und Pro
US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1 (GB, FR, DE602010066495.3)	Partikelcharakterisierung	Zetasizer Advance-Zubehör
EP3521806B1 (AT, FR, GB, DE602018077164.6) US11441991B2 CN111684261B (ZL201980011816.5) JP7320518B2	Dynamische Mehrwinkel-Lichtstreuung	Zetasizer Advance: Ultra
Designs: DM/100202 (EM: D100202-0001, D100202-0002; GB: 81002020001000, 81002020002000; JP: JP1614066S; US: D878227S) CN304816039S (ZL201730635419.9)	Partikelcharakterisierungsgeräte	Zetasizer Advance-Produktlinie

Insitec

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US7871194B2 EP1869429B1 (GB, FR, DE602006060213.8)	Verdünnungssystem und -methode	Insitec (einige Produkte)
EP2640499B1 (GB)	Inline-Dispergiergerät und Pulvermischmethode	Insitec trocken

Morphologi

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2	Spektrometrische Untersuchung der Heterogenität	Morphologi G3-ID, Morphologi 4-ID
GB2522735B JP6560849B2	Methode und Gerät zur Pulverdispersion	Morphologi G3-ID, Morphologi G3, Morphologi 4, Morphologi 4-ID
EP3510526B1 (GB, FR, DE60217072468.8) US11068740B2 CN109716355B (ZL201780054158.9) JP7234106B2	Partikelgrenzenidentifizierung	Morphologi 4, Morphologi 4-ID
US8004662B2 US8842266B2	EVALUIERUNG PHARMAZEUTISCHER MISCHUNGEN	Morphologi 4-ID
Designs: DM/100537 (EM: D100 537-0001, D100 537-0002; GB: 81005370001000, 81005370002000; JP: JP1622788S, JP1623345S; US: D862261S1) CN304677453S (ZL201730616458.4)	Andere Messgeräte (ausgenommen für die Zeitmessung)	Morphologi 4, Morphologi 4-ID

Viscosizer

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US11113362B2 JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B (ZL201680017577.0)	Mehrkomponenten-Modellparametrisierung	Viscosizer TD

Hydro Sight

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
CN104704343B (ZL201380044016.6) EP2864760B1 (GB, FR, DE602013085354.1) US10509976B2	Charakterisierung heterogener Flüssigkeitsproben	Hydro Sight

NanoSight

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0) US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B (ZL201480063550.6)	Verbesserungen an oder in Bezug auf die Kalibrierung von Geräten	NanoSight NS300, NanoSight Pro
WO2023148528A1 EP4476523A1 CN118984933A JP2025505204A	PARTIKELANALYSE	NanoSight Pro
WO2024094987A1	VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR CHARAKTERISIERUNG VON PARTIKELN	NanoSight Pro

MicroCal ITC

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
CN101855541B (ZL200880114826.3) EP2208057B1 (CH+LI, GB, FR, DE602008065108.8) JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2	Vorrichtung und Methode zur isothermischen Titrations-Mikrokalorimetrie	MicroCal ITC-Produktpalette
CN102232184B (ZL200980149081.9) EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009065333.4)	Vorrichtung und Methode zur automatischen isothermischen Titrations-Mikrokalorimetrie	MicroCal ITC-Produktpalette

MicroCal DSC

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US8635045B2 CN103221808B (ZL201180057401.5) EP2646811B1 (GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2	Methode zur automatischen Spitzenwerterkennung in kalorimetrischen Daten	MicroCal DSC-Produktpalette
Designs: DM/097302 (EM: D097 302; GB: 80973020001000; JP: JP1619772S, JP1643496S; US: D826739S1) CN304227374S (ZL201730043139.9)	DSC-Mikrokalorimeter	PEAQ-DSC Reihe

OMNISEC

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US9759644B2 US10551291B2	Ausbalanciertes Kapillarbrücken-Viskosimeter	OMNISEC
US9612183B2 EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP5916734B2 CN103168223B (ZL201180046166.1) IN341558	Modulares Kapillarbrücken-Viskosimeter	OMNISEC

QualitySpec 7000

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US8164747B2 CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)	Vorrichtung, System und Methode für optische spektroskopische Messungen	QualitySpec 7000

TerraSpec Halo

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US9207118B2	Vorrichtung, System und Methode zum Scannen von Monochromator- und Diodenarray-Spektrometern	TerraSpec Halo

QualitySpec Trek

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US9207118B2	Vorrichtung, System und Methode zum Scannen von Monochromator- und Diodenarray-Spektrometern	QualitySpec Trek

XRF, freistehend

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2	Perlenofen	Zetium Axios FAST Epsilon5
JP4950523B2	Apparatur und Methode zur Korrektur von Abweichungen	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (Wafer-Analysator)* Epsilon5* SEMYOS*
US7949092B2	Vorrichtung und Methode zur Durchführung von Röntgenanalysen	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (Wafer-Analysator)* Epsilon5* SEMYOS
US9658352B2 CN104833557B (ZL201510120748.X) JP656263B2 JP6804594B2	Methode zur Erstellung eines Standards	Zetium Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	Vorbereitung der Proben-Pellets durch Drücken	Zetium Axios FAST
US10107551B2 EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4)	Probenvorbereitung für XRF mithilfe von Flussmitteln und Platintiegel	Zetium Axios FAST
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	Quantitative Röntgenanalyse – Matrixdickenkorrektur	Zetium* Axios FAST
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	Quantitative Röntgenanalyse – Gerät mit mehreren optischen Pfaden	Zetium* Axios FAST
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	Quantitative Röntgenanalyse – Verhältniskorrektur	Zetium* Axios FAST
US9239305B2	Probenhalter	Zetium* Axios FAST* Epsilon5
US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B (ZL200810127759.0)	Röntgenfluoreszenzgerät	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (Wafer-Analysator)* Epsilon5* SEMYOS*
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)	Röntgenquelle mit Metalldraht-Kathode	Zetium Axios FAST 2830 ZT (Wafer-Analysator) Epsilon5 SEMYOS
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Anordnung der Röntgenröhrenanoden	Zetium Axios FAST 2830 ZT (Wafer-Analysator) Epsilon5 SEMYOS
US10281414B2 EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1 (GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267B (ZL201711251653.7)	Konischer Röntgenmesskollimator	Zetium*
*· Optional/nicht serienmäßig im Produkt

XRF-Tischgeräte

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)	Perlenofen	Epsilon 1 Serie Epsilon 3X Spektrometer Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
JP4950523B2	Apparatur und Methode zur Korrektur von Abweichungen	Epsilon 1 Serie* Epsilon 3X Spektrometer * Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US7949092B2	Vorrichtung und Methode zur Durchführung von Röntgenanalysen	Epsilon 1 Serie* Epsilon 3X Spektrometer * Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9658352B2 CN104833557B (ZL201510120748.X) JP6562635B2 JP6804594B2	Methode zur Erstellung eines Standards	Epsilon 1 Serie Epsilon 3X Spektrometer Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	Vorbereitung der Proben-Pellets durch Drücken	Epsilon 1 Serie Epsilon 3X Spektrometer Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4) EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)	Probenvorbereitung für XRF mithilfe von Flussmitteln und Platintiegel	Epsilon 1 Serie Epsilon 3X Spektrometer Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	Quantitative Röntgenanalyse – Matrixdickenkorrektur	Epsilon 1 Serie* Epsilon 3X Spektrometer * Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	Quantitative Röntgenanalyse – Gerät mit mehreren optischen Pfaden	Epsilon 1 Serie* Epsilon 3X Spektrometer * Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	Quantitative Röntgenanalyse – Verhältniskorrektur	Epsilon 1 Serie* Epsilon 3X Spektrometer * Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9239305B2	Probenhalter	Epsilon 1 Serie* Epsilon 3X Spektrometer * Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9547094B2 CN104849295B (ZL201510155965.2) EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2	Röntgenanalysegerät	Epsilon 1 Serie Epsilon 3X Spektrometer Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)	Röntgenquelle mit Metalldraht-Kathode	Epsilon 1 Serie* Epsilon 3X Spektrometer * Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Anordnung der Röntgenröhrenanoden	Epsilon 1 Serie* Epsilon 3X Spektrometer * Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US11183355B2 EP3675148A1 JP7601502B2 CN111383876B (ZL201911390180.8)	Röntgenröhre	Revontium
EP24169034.6 (noch nicht veröffentlicht)	Iterativ berechnetes komplementäres Untergrund-Fitting	Revontium
EP24169094.0 (noch nicht veröffentlicht)	Eine Vorrichtung zur Handhabung von Proben	Revontium
* Optional/nicht serienmäßig im Produkt

XRD, freistehend

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
JP4950523B2	Apparatur und Methode zur Korrektur von Abweichungen	Empyrean X'Pert³ Pulver X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ Produktpalette
US9506880B2 CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	Beugungsbildgebung	Empyrean# X'Pert³ Pulver# X'Pert³ Mrd (XL)# CubiX³ Produktpalette
US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B (ZL200910129197.8) EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)	Bildgebungsdetektor	Empyrean# X'Pert³ Pulver# X'Pert³ Mrd (XL)# CubiX³ Produktpalette
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)	Bildgebungsdetektor	Empyrean# X'Pert³ Pulver# X'Pert³ Mrd (XL)# CubiX³ Produktpalette
US9110003B2 CN103383363B (ZL201310069293.4) EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2	Mikrodiffraktion	Empyrean# X'Pert³ Pulver# X'Pert³ Mrd (XL)# CubiX³ Produktpalette
US9640292B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2	Röntgengerät	Empyrean X'Pert³ Pulver CubiX³-Produktpalette
US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B (ZL200910134609.7) EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)	Röntgenerkennung in der Verpackung	Empyrean X'Pert³ Pulver X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)	Röntgenbeugung und Computertomographie	Empyrean X'Pert³ Pulver* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ Produktpalette*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	Geräte zur Röntgendiffraktion und zur Röntgenstreuung	X'Pert³ Pulver* X'Pert³ MRD (XL)*
US7477724B2	Röntgengerät	Empyrean* X'Pert³ Pulver* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ Produktpalette
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	Anordnung der Röntgenblende	Empyrean X'Pert³ Pulver X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ Produktpalette
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Anordnung der Röntgenröhrenanoden	Empyrean* X'Pert³ Pulver* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ Produktpalette*
EP3553508A2 US11035805B2 JP7398875B2 CN110389142B (ZL201910295269.X)	Vorrichtung und Methode zur Röntgenanalyse	Empyrean*
US10359376B2 EP3273229B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017069169.0) JP6701133B2 CN107643308B (ZL201710593858.7)	Probenhalter für Röntgenanalysen	Empyrean*
US10782252B2 CN110376231A EP3553506A2 JP7258633B2	Apparatur und Methode zur Röntgenanalyse mit hybrider Steuerung der Strahldivergenz	Empyrean*
US10753890B2 EP3372994B1 (AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2	Methode und Apparatur zur hochauflösenden Röntgendiffraktion	Empyrean*
EP3553509B1 (AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8) JP7208851B2 US10900912B2 CN110389143B (ZL201910300453.9)	Röntgenanalysegerät	Empyrean*
US10352881B2 EP3343209B1 (GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B (ZL201711404282.1) JP6839645B2	Computertomographie	Empyrean*
US9753160B2 CN104285164B (ZL201380025271.6) EP2850458B1 (GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2	Digitaler Röntgensensor	Empyrean X'Pert³ CubiX³ Produktpalette
EP3719484B1 (AT, CZ, FR, GB, NL, PL, DE602019046393.6, IT502024000012301) US12007343B1 CN113661389B (ZL202080027081.8) JP7503076B2	Vorrichtung und Methode zur Formung eines Röntgenstrahls	Empyrean*
EP4111184A1 US20230296538A1 CN116368379A JP2023538446A	Röntgendetektor für Röntgendiffraktionsvorrichtung	Empyrean* (mit 1Der-Detektor)
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	Nachweis der Ladungsteilung mittels Röntgendiffraktion	Empyrean* (mit 1Der-Detektor)
*Optional/nicht serienmäßig im Produkt enthalten # Auf gesonderte Anfrage erhältlich

XRD-Tischgeräte

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
JP4950523B2	Apparatur und Methode zur Korrektur von Abweichungen	Aeris
US9506880B2 CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	Beugungsbildgebung	Aeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)	Bildgebungsdetektor	Aeris*
US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)	Röntgengerät	Aeris
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)	Röntgenbeugung und Computertomographie	Aeris*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	Geräte zur Röntgendiffraktion und zur Röntgenstreuung	Aeris*
US7477724B2	Röntgengerät	Aeris*
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	Anordnung der Röntgenblende	Aeris
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Anordnung der Röntgenröhrenanoden	Aeris*
US10753890B2 EP3372994B1 (AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2	Methode und Apparatur zur hochauflösenden Röntgendiffraktion	Aeris*
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	Nachweis der Ladungsteilung mittels Röntgendiffraktion	Aeris* (mit 1Der-Detektor)
* Optional/nicht serienmäßig im Produkt

Probenvorbereitung

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
WO2024164079A1	FUSIONSSYSTEM UND METHODE ZUR DURCHFÜHRUNG EINER PROBENFUSION MIT DIESEM SYSTEM	FORJ
WO2024164080A1	FUSIONSSYSTEM UND METHODE ZUR DURCHFÜHRUNG EINER PROBENFUSION MIT DIESEM SYSTEM	FORJ
WO2024164081A1	FUSIONSSYSTEM UND METHODE ZUR DURCHFÜHRUNG EINER PROBENFUSION MIT DIESEM SYSTEM	FORJ
WO2024164082A1	FUSIONSSYSTEM UND METHODE ZUR DURCHFÜHRUNG EINER PROBENFUSION MIT DIESEM SYSTEM	FORJ
WO2024164086A1	FUSIONSSYSTEM UND METHODE ZUR DURCHFÜHRUNG EINER PROBENFUSION MIT DIESEM SYSTEM	FORJ*
WO2024164083A1	PILLENABGABESYSTEM FÜR EIN FUSIONSGERÄT	FORJ*
Designs: US 29/873.668 (noch nicht veröffentlicht) CA 224.605;235.581; 235.582; 235.583; 235.584; 235.585; 235.586; 235.587 (alle registriert) DM/232583: EM, GB (beide registriert); BR (noch nicht veröffentlicht) AU202316700 AU202410300 CN308681450S (ZL202330644590,1) ZA: A2023/01083, A2023/01084, A2023/01085, A2023/01086	Probenhalter	FORJ Tiegel und/oder Abgießschale
* Optional/nicht serienmäßig im Produkt

WAVEsystem (Creoptix)

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
EP3824469B1 (CH+LI, GB, FR, SE, DE602019066157.6)	Methode zur Berechnung der kinetischen Parameter eines Reaktionsnetzwerks	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN113811771B (ZL202080036463.7) EP3969910B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2022532479A US20220162697A1	Methoden zur Bestimmung kinetischer Parameter einer Reaktion zwischen Analyten und Liganden	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN115667930A EP4172625B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2023531046A US20230273202A1	Eine Methode zur Bestimmung kinetischer Parameter einer Reaktion	WAVEdelta, WAVEcontrol
EP3448564B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602017039989.2) CN108883414B (ZL201780021418.2) JP6846434B2 US11135581B2	Methoden und Baugruppen für die Molekülrückgewinnung	WAVEdelta
EP2137514B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE502008016144.9) US8325347B2	Integrierter optischer Sensor	WAVE, WAVEdelta, WAVEchip

BreakThrough Analyzer (BTA)

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
10.487.954 B2 10.514.332	Automatisierte Detektorkalibrierung und individuelle Gasmischung	BreakThrough Analyzer (BTA), AutoChem III

AutoChem III

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
10.487.954 11.105.825 B2	KwikConnect-Verriegelungsmechanismus für Probenreaktoren	AutoChem III

AccuPyc III

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
11.874.155 B2 Patente in den USA und anderen Ländern angemeldet	Systeme und Methoden zur Kalibrierung von Gaspyknometern und Gasadsorptions-Analysatoren	AccuPyc III

AccuPore

Patentnummern	Patenttitel	Instrumente
Patente in den USA und anderen Ländern angemeldet	- -	AccuPore