Geistiges Eigentum

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Registrierte Warenzeichen

MarkeStatus
1DER®
AERIS®
AERIS PANALYTICAL®
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AMASS®
AMPLIFY ANALYTICS®
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CONCEPT LIFE SCIENCES®
CONCEPT LIFE SCIENCES (+ Logo)®
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CUBIX®
CUBIX3®
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Eagon 2®
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EMPYREAN®
EPSILON®
EPSILON X-FLOW®
EXPERT SAXS®
EASY SAXS®
FieldSpec®
FIPA
FLUOR’X®
GALIPIX 3D®
Gemini
goLab
HandHeld 2
HIGHSCORE®
Hydrosight
iCore
Indico Pro
Insitec®
(Insitec logo)®
(Insitec Measurement Systems logo)®
ISys®
LabSizer
LabSpec®
LeNeo®
LeDoser
LeDoser-12
M3 PALS
M4
MADLS®
Malvern®
(Triangular hills logo + Malvern Instruments)®
Malvern in Chinese characters®
Malvern Instruments®
Malvern Instruments in Chinese characters®
Malvern Link
(Malvern Plus Hills Logo)®
MALVERN PANALYTICAL®
MALVERN PANALYTICAL in Chinese characters®
MALVERN PANALYTICAL in Katakana®
MALVERN PANALYTICAL in Korean script®
MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo)®
Mastersizer®
Mastersizer 2000
MC (stylised)®
MDRS®
Microcal®
Morphologi®
(Triangular hills logo)®
Nanosight®
NIBS
OIL-TRACE®
OMNIAN®
OMNISEC®
OMNITRUST®
PANALYTICAL®
PANALYTICAL LOGO (picture)®
PANTOS®
PEAQ-ITC®
PIXCEL®
PIXCEL 1D®
PIXCEL 3D®
PIXIRAD®
QualitySpec®
Spraytec
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SST-MAX®
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STRATOS®
SUPER Q®
SyNIRgi
TerraSpec®
TheOx® Advanced®
Ultrasizer
VENUS MINILAB®
ViewSpec
Viscogel
Viscotek®
Viscotek SEC-MALS
WAVECHIP®
WE'RE BIG ON SMALL
(X Logo)®
X’CELERATOR®
XPERT3®
Zetasizer®
ZETIUM®
ZS Helix®

Patente

Malvern Panalytical bietet eine einzigartige marktführende Produktpalette, die durch folgende Patente und Patentanmeldungen geschützt ist

Mastersizer

PatentnummernPatenttitelInstrumente
EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1)ProbenhandhabungssystemHydro MV, Hydro LV, Hydro EV
GB2364774B
US6800251B2
Probenhandhabungssystem zur Verwendung in einem Gerät zur PartikelcharakterisierungHydro MV, Hydro LV
GB2494735BVorrichtung zur Messung der Partikelgrößenverteilung durch LichtstreuungMS3000, MS3000E
CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707,0)
US9869625B2
JP6154812B
Vorrichtung und Methode zur Messung der Partikelgrößenverteilung durch LichtstreuungMS3000, MS3000E
US10837889B2
GB2494734B
Vorrichtung und Methode zur Messung der Partikelgrößenverteilung durch LichtstreuungMS3000, MS3000E

Zetasizer

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US7217350B2
Mobilität und Auswirkungen durch OberflächenladungZetasizer Advance-Produktpalette, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix
EP2467701A1
CN102575984B
US9279765B2
JP5669843B2
US10317339B2
US20200096443A1
Dynamische Lichtstreuung auf Basis der Mikrorheologie komplexer Flüssigkeiten mit verbesserter EinzelstreuungserkennungZetasizer Advance-Produktpalette, Nano ZSP, Helix
CN103608671B
CN105891304B
EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268)
JP06023184B2
US9829525B2
US10274528B2
US20200072888A1
Messung der OberflächenladungZubehör für Zeta-Plattenzellen
US8702942B2
CN103339500B
EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1)
JP06006231B2
JP06453285B2
US10648945B2
Laser-Doppler-Elektrophorese mit DiffusionsbarriereZetasizer Advance-Produktpalette, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano-ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2
Doppelcharakterisierung von PartikelnZetasizer Helix
US10197485B2
US10520412B2
US10845287B2
EP3353527A1
JP2018535429A
CN108291861A
PartikelcharakterisierungZetasizer Advance-Produktpalette
US10119910B2PartikelcharakterisierungsvorrichtungZetasizer Advance: Ultra und Pro
US8675197B2
JP6059872B2
EP2404157B1
PartikelcharakterisierungZetasizer Advance-Zubehör
EP3521806A1
US20210063295A1
CN111684261A
WO2019154882A1
Dynamische Mehrwinkel-LichtstreuungZetasizer Advance: Ultra

Insitec

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US7418881B2
EP1592957B1 (GB)
Verdünnungssystem und -methodeInsitec (einige Produkte)
US7871194B2
EP1869429A2
Verdünnungssystem und -methodeInsitec (einige Produkte)
EP2640499B1 (GB)Inline-Dispergiergerät und PulvermischmethodeInsitec trocken

Morphologi

PatentnummernPatenttitelInstrumente
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2
US8564774B2
Spektrometrische Untersuchung der HeterogenitätMorphologi G3-ID
GB2522735B
JP6560849B2
Methode und Gerät zur PulverdispersionMorphologi G3-ID, Morphologi G3

Viscosizer

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US2018067901A1
JP2018511129A
EP3274864A1
CN107430593A
Mehrkomponenten-ModellparametrisierungViscosizer TD

Hydro Sight

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US8456633B2Spektrometrische ProzessüberwachungHydro Sight
CN104704343B
EP2864760A2
US10509976B2
Charakterisierung heterogener FlüssigkeitsprobenHydro Sight

NanoSight

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US7751053B2
JP04002577B2
EP1499871B1 (FR, DE60335872.1)
GB2388189B
US7399600B2
Optischer Nachweis zur PartikelanalyseNanoSight NS300
NanoSight NS500
NanoSight LM10
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2
JP6505101B2
CN105765364A
Verbesserungen an oder in Bezug auf die Kalibrierung von GerätenNanoSight NS300

MicroCal ITC

PatentnummernPatenttitelInstrumente
CN101855541B
EP2208057A1
JP05542678B2
US8449175C1
US8827549C1
Vorrichtung und Methode zur isothermischen Titrations-MikrokalorimetrieMicroCal ITC-Produktpalette
CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1)
JP5476394B2
US9103782B2
US9404876B2
US10036715B2
US10254239B2
EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1)
US20200025698A1
EP3647776A1
Vorrichtung und Methode zur automatischen isothermischen Titrations-MikrokalorimetrieMicroCal ITC-Produktpalette

MicroCal DSC

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US8635045B2
CN103221808B
EP2646811A1
IN336472
JP5925798B2
Methode zur automatischen Spitzenwerterkennung in kalorimetrischen DatenMicroCal DSC-Produktpalette

OmniSEC

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US9759644B2
US10551291B2
Ausbalanciertes Kapillarbrücken-ViskosimeterOmniSEC
US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4)
JP05916734B2
CN103168223B
IN341558
Modulares Kapillarbrücken-ViskosimeterOmniSEC

XRF, freistehend

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
PerlenofenZetium
Axios FAST
Epsilon5
US6823043B2Bestimmung der Materialparameter
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (Wafer-Analysator)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7949092B2
Vorrichtung und Methode zur Durchführung von Röntgenanalysen
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (Wafer-Analysator)*
Epsilon5*
SEMYOS
US6574305B2
Vorrichtung und Methode zur ProbenzustandsüberprüfungZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (Wafer-Analysator)*
Epsilon5*
SEMYOS*
JP4111336B2Vorrichtung zur Probenüberprüfung mittels Röntgen
Epsilon5

US7042978B2Untersuchung von MaterialprobenZetium*
Axios FAST*
Epsilon5
SEMYOS*
JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7)
Methode zur Herstellung einer Mehrschichtstruktur mit seitlichem Muster zur Anwendung im xuv-Wellenlängenbereich sowie nach dieser Methode hergestellte BF- und IMAG-StrukturenZetium*
Axios FAST
2830 ZT (Wafer-Analysator)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US9658352B2
CN104833557B
JP656263B2
JP6804594B2
Methode zur Erstellung eines StandardsZetium
Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
Vorbereitung der Proben-Pellets durch DrückenZetium
Axios FAST
US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
JP6559486B2
CN105258987B
Probenvorbereitung für XRF mithilfe von Flussmitteln und PlatintiegelZetium
Axios FAST
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Quantitative Röntgenanalyse – MatrixdickenkorrekturZetium*
Axios FAST
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Quantitative Röntgenanalyse – Gerät mit mehreren optischen PfadenZetium*
Axios FAST
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
Quantitative Röntgenanalyse – VerhältniskorrekturZetium*
Axios FAST
JP3936912B2Probenbehälter mit schwimmender Abdeckung zur Röntgenanalyse von FlüssigkeitenZetium
Axios FAST
2830 ZT (Wafer-Analysator)
Epsilon5
SEMYOS
US9239305B2ProbenhalterZetium*
Axios FAST*
Epsilon5
US7978820B2
Röntgenbeugung und FluoreszenzZetium
Axios FAST*
2830 ZT (Wafer-Analysator)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7720192B2
JP5574575B2
CN101311708B
RöntgenfluoreszenzgerätZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (Wafer-Analysator)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7194067B2
Röntgenoptisches SystemZetium
Axios FAST*
2830 ZT (Wafer-Analysator)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
Röntgenquelle mit Metalldraht-KathodeZetium
Axios FAST
2830 ZT (Wafer-Analysator)
Epsilon5
SEMYOS
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Anordnung der Röntgenröhrenanoden
Zetium
Axios FAST
2830 ZT (Wafer-Analysator)
Epsilon5
SEMYOS
US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2)
EP3480587A1
US10393683B2
JP6767961B2
CN108132267A
Konischer RöntgenmesskollimatorZetium*
*· Optional/nicht serienmäßig im Produkt

XRF-Tischgeräte

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
PerlenofenEpsilon 1 Serie
Epsilon 3X Spektralphotometer
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
US6823043B2Bestimmung der Materialparameter
Epsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US7949092B2
Vorrichtung und Methode zur Durchführung von Röntgenanalysen
Epsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US6574305B2
Vorrichtung und Methode zur ProbenzustandsüberprüfungEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US7042978B2Untersuchung von MaterialprobenEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9658352B2
CN104833557B 
JP6562635B2
JP6804594B2
Methode zur Erstellung eines StandardsEpsilon 1 Serie
Epsilon 3X Spektralphotometer
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
Vorbereitung der Proben-Pellets durch DrückenEpsilon 1 Serie
Epsilon 3X Spektralphotometer
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
US10107551B2
JP6559486B2
CN105258987B 
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
Probenvorbereitung für XRF mithilfe von Flussmitteln und PlatintiegelEpsilon 1 Serie
Epsilon 3X Spektralphotometer
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Quantitative Röntgenanalyse – MatrixdickenkorrekturEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B 
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)
Quantitative Röntgenanalyse – Gerät mit mehreren optischen PfadenEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
Quantitative Röntgenanalyse – VerhältniskorrekturEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
JP3936912B2Probenbehälter mit schwimmender Abdeckung zur Röntgenanalyse von FlüssigkeitenEpsilon 1 Serie
Epsilon 3X Spektralphotometer
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
US9239305B2ProbenhalterEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9547094B2
CN104849295B
EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2)
JP6526983B2
Röntgenanalysegerät
Epsilon 1 Serie
Epsilon 3X Spektralphotometer
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung
US7978820B2
Röntgenbeugung und FluoreszenzEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US7194067B2
Röntgenoptisches SystemEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
Röntgenquelle mit Metalldraht-KathodeEpsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Anordnung der Röntgenröhrenanoden
Epsilon 1 Serie*
Epsilon 3X Spektrometer *
Epsilon 4 Luftqualitätsausführung *
* Optional/nicht serienmäßig im Produkt

XRD, freistehend

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US6815684B2
Röntgenanalysegeräte, standardmäßig mit positionsempfindlichem Festkörper-RöntgendetektorEmbyrean
X'Pert³ Pulver
X'Pert³ Mrd (XL)
CubiX³ Produktpalette
US6823043B2Bestimmung der Materialparameter
Empyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US6574305B2
Vorrichtung und Methode zur ProbenzustandsüberprüfungEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
BeugungsbildgebungEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US7116754B2DiffraktometerEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
Diffraktometer
Empyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
BildgebungsdetektorEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)BildgebungsdetektorEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US9110003B2
CN103383363B
EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2)
JP6198406B2
Mikrobeugung
Embyrean
X'Pert³ Pulver
X'Pert³ Mrd (XL)
CubiX³ Produktpalette
US6704390B2
Röntgenanalysegerät mit Mehrschichtspiegel und AusgangskollimatorEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US9640292B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
JP6564683B2
Röntgengerät
Empyrean
X'Pert³ Pulver
CubiX³-Produktpalette
US7756248B2
JP5145263B2
CN101545873B
EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)
Röntgenerkennung in der Verpackung
Empyrean
X'Pert³ Pulver
X'Pert³ Mrd (XL)
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
Röntgenbeugung und ComputertomographieEmpyrean
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
Röntgenbeugungsausrüstung zur Röntgenstreuung
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)RöntgendiffraktometerEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
RöntgengerätEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette
US7194067B2
Röntgenoptisches SystemEmpyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
Anordnung der RöntgenblendeEmbyrean
X'Pert³ Pulver
X'Pert³ Mrd (XL)
CubiX³ Produktpalette
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Anordnung der Röntgenröhrenanoden
Empyrean*
X'Pert³ Pulver*
X'Pert³ Mrd (XL)*
CubiX³ Produktpalette*
EP3553508A2
US20190317030A1
JP2019184609A
CN110389142A
Vorrichtung und Methode zur RöntgenanalyseEmpyrean*
US10359376B2
EP3273229A1
JP6701133B2
CN107643308A
Probenhalter für RöntgenanalysenEmpyrean*
* Optional/nicht serienmäßig im Produkt

QualitySpec 7000

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US8164747B2
CA2667650C
EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)
Vorrichtung, System und Methode für optische spektroskopische MessungenQualitySpec 7000

TerraSpec Halo

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US9207118B2Vorrichtung, System und Methode zum Scannen von Monochromator- und Diodenarray-SpektrometernTerraSpec Halo

QualitySpec Trek

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US9207118B2Vorrichtung, System und Methode zum Scannen von Monochromator- und Diodenarray-SpektrometernQualitySpec Trek

XRD-Tischgeräte

PatentnummernPatenttitelInstrumente
US6815684B2
Röntgenanalysegeräte, standardmäßig mit positionsempfindlichem Festkörper-RöntgendetektorAeris*
US6823043B2Bestimmung der Materialparameter
Aeris*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
BeugungsbildgebungAeris*
US7116754B2DiffraktometerAeris*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
DiffraktometerAeris*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
BildgebungsdetektorAeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)BildgebungsdetektorAeris*
US6704390B2
Röntgenanalysegerät mit Mehrschichtspiegel und AusgangskollimatorAeris*
US9640292B2
JP6564572B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
RöntgengerätAeris
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
Röntgenbeugung und ComputertomographieAeris*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
Röntgenbeugungsausrüstung zur Röntgenstreuung
Aeris*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)RöntgendiffraktometerAeris*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
RöntgengerätAeris*
US7194067B2
Röntgenoptisches SystemAeris*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
Anordnung der RöntgenblendeAeris
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Anordnung der Röntgenröhrenanoden
Aeris*

* Optional/nicht serienmäßig im Produkt