XRD-Softwarepaket von Malvern Panalytical

Unsere XRD-Softwarepakete helfen Ihnen, alle verfügbaren Informationen über die Materialien zu gewinnen. Unser Angebot umfasst intuitive Datenerfassungssoftware, die auf Anwendungen in der Forschung oder Prozesskontrolle zugeschnitten ist, sowie modernste Analysemodule für die vielen XRD-Anwendungen, die mit unseren Geräten realisiert werden können.

Datenerfassungssoftware für Mehrzweckdiffraktometer

Diese Softwaremodule nutzen die gesamte Funktionalität der Mehrzwecksysteme Empyrean, X’Pert³ Powder und X’Pert³ MRD.

Data Collector ist die zentrale Datenerfassungs-Toolbox für Empyrean, X’Pert³ MRD (XL) und X’Pert³ Powder. XRD2DScan ermöglicht die mühelose Konvertierung von 2D-Datensätzen in 1D-Spuren für die weitere Analyse. 

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Data Collector

Data Collector ist Ihre Bedienschnittstelle für alle Messungen an Pulvern, dünnen Schichten, Nanomaterialien und Feststoffen.

XRD2DScan

Visualisieren Sie Ihre 2D-Diffraktionsdaten und konvertieren Sie diese mithilfe von XRD2DScan in mehrere 1D-Scans.

Software für Pulverdiffraktometrie-Anwendungen in der Prozesskontrolle

Überwachen Sie Ihre mit CubiX³ oder X’Pert³ Powder durchgeführten Pulverdiffraktometrie-Messungen und extrahieren Sie quantitative Ergebnisse auf Basis von Kalibrierkurven.

Industry ist für industrielle Umgebungen ausgelegt und verfügt über eine Drucktasterschnittstelle sowie umfassende LIMS- und Automatisierungsfähigkeiten. Über die optionale Walk-up-Schnittstelle können Mehrfachbenutzerumgebungen effizient unterstützt werden. Quantify ist eine vereinfachte Version mit 10 vorprogrammierten quantitativen Analysemodulen.

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Industry

Unsere Industry Software ist für routinemäßige Röntgen-Diffraktionsanalysen mit hohem Durchsatz in industriellen Umgebungen ausgelegt.

Quantify

Quantify ist eine Standalone-Software für die grundlegende Datenerfassung sowie die quantitative Phasenanalyse anhand von Kalibrierkurven

Softwaremodule für Pulverdiffraktometrie-Anwendungen

Unsere Pulverdiffraktionssoftware der HighScore-Serie hilft Ihnen, aus losen und gepressten Pulverproben und anderen polykristallinen Proben alle verfügbaren Phaseninformationen zu gewinnen.

Erfahren Sie mehr über die weltweit am höchsten entwickelte Such- und Abgleichsoftware HighScore und deren umfassende Unterstützung von verschiedenen Such- und Abgleichdatenbanken wie CanDI-X. Die HighScore Plus-Option bietet zusätzliche Routinen für Kristallographie, unbegrenztes Clustering und Rietveld-Analyse, zusätzlich zur gesamten HighScore-Funktionalität. RoboRiet bietet Rietveld-Quantifizierung und -Profilübereinstimmung für den Modus „nur Ausführung“ für industrielle Umgebungen.

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HighScore

HighScore, unsere Pulverdiffraktionssoftware, kann für die Phasenidentifizierung und die tiefenabhängige Bestimmung von Phasen in polykristallinen Beschichtungen eingesetzt werden.

Plus-Option für HighScore 

Als Ergänzung zu HighScore ermöglicht die Plus-Option u. a. kristallographisches, unbegrenztes Clustering und Rietveld-/Strukturübereinstimmungen in derselben Benutzerschnittstelle.

Referenzdatenbanken für Suche und Abgleich

Wir unterstützen das breiteste Spektrum an Such- und Abgleichdatenbanken und ermöglichen somit Höchstleistungen bei der Phasenidentifizierung.

RoboRiet

RoboRiet ist eine spezielle Implementierung für den Modus „nur Ausführung“ der Rietveld-Methode und -Profilübereinstimmung für industrielle Umgebungen.

XRD-Analyse dünner Schichten

Unsere Softwaremodule für Dünnschicht-Anwendungen liefern detaillierte Informationen zur Dicke, Zusammensetzung, Vorzugsorientierung, epitaktischen Qualität und Eigenspannung von Schichten.

Diese essenziellen Dünnschichtparameter können rasch und mühelos mit dem neuen All-in-one-AMASS (Advanced Material Analysis and Simulation Software)-Softwarepaket quantifiziert werden. 

Für polykristalline Schichten und Schichtstapel können Sie mithilfe unserer HighScore-Software die Phasenzusammensetzung bestimmen, auch als Funktion der Tiefe, und Restspannungen mit unserer StressPlus-Software ermitteln.

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AMASS

Unser AMASS-Softwarepaket bietet alle Funktionen, die Sie zur Bestimmung von Schichtstrukturen benötigen, wodurch eine rasche und mühelose Bestimmung kritischer Dünnschichtparameter möglich wird.

Stress Plus

Mit unserem StressPlus-Modul zur Ergänzung unseres Stress-Softwarepakets lassen sich Restspannungen in polykristallinen Schichten bestimmen.

Analyse der Größe und Form von Nanomaterialien

EasySAXS-Datenanalysesoftware für die Analyse von Nanopartikeln und Nanostrukturen. So lassen sich Informationen über Strukturen und Abmessungen im Nanobereich sowie die Formen und Oberflächenbereiche von Nanopartikeln erfassen. Die Software unterstützt ebenso die Analyse von Ultrakleinwinkel-Röntgenstreuungsdaten (USAXS).

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Fortgeschrittene SAXS-Datenanalysesoftware

EasySAXS ist ein fortschrittliches, anwenderfreundliches Softwarepaket für die Analyse von SAXS-Daten (Small-Angle X-Ray Scattering).

Analyse von Feststoffen

Unsere Softwaremodule Texture und Stress ermitteln die Vorzugsorientierung und Eigenspannung in bearbeiteten Komponenten, wie gewalzten und stranggepressten Metallen.

Stress wird weltweit von Experten für die umfassenden Funktionen und dennoch intuitive Bedienung gelobt. Das optionale Modul Stress Plus erweitert das Stress-Paket um die Analyse von Restspannungen in Dünnschichten.
Texture bietet umfassende Funktionen zur Analyse von Polfiguren, Ausrichtungsverteilungsfunktionen (ODF, orientation distribution function) und invertierten Polfiguren.

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Stress

Unser intuitives Stress-Paket berechnet die Restspannungen in Ihren Proben mithilfe der sin2Ψ-Methode.

Stress Plus

Mithilfe der Stress Plus-Option erweitern Sie die Funktionalität Ihrer Stress-Software auf die Analyse von polykristallinen Schichten und Dünnschichten.

Texture

Texture ist unser Softwarepaket zur Analyse, Berechnung und Visualisierung bevorzugter Kristallitausrichtungen.