Die Messung der Partikelgröße und -form sowie des Zetapotenzials ist in der Elektronikbranche besonders bei der Herstellung von Rohmaterialien für integrierte Schaltungen wichtig. Diese sind in den meisten elektronischen Geräten wie Computern, Mobiltelefonen und Digitalgeräten zu finden. Das Auftreten eines einzigen übergroßen Partikels kann einen Wafer beschädigen oder einen Defekt in einem LCD verursachen.

Sowohl in Forschung und Entwicklung als auch bei Herstellung und Qualitätskontrolle von Elektronikbauteilen unterstützen Sie die einfach zu bedienenden Geräte gemeinsam mit dem Branchen- und Anwendungs-Know-How von Malvern bei der Charakterisierung von Materialien, darunter:

  • CMP-Slurries zum Polieren von Silikon und anderen Wafern für die Herstellung von Solarzellen
  • Lötpartikel und Siebdruckfarben für Leiterplatinen
  • Silber, leitender Kohlenstoff und Pasten für Leiterplatinen und verschiedene Displays (EL, LCD, LED)
  • Nanopartikel für Farbstoffe in Farb-LCDs

Mastersizer

Zetasizer

Morphologi

Epsilon 1 für die Punktanalyse

Epsilon 4

Mastersizer

Die am weitesten verbreiteten Partikelgrößenmessgeräte der Welt

Zetasizer

Die weltweit am weitesten verbreiteten Systeme zur Messung der Größe und Ladung von Nanopartikeln, Kolloiden und Proteinen.

Morphologi

Automatisierte Bildgebung für die erweiterte Partikelcharakterisierung

Epsilon 1 für die Punktanalyse

Mit dem Schwerpunkt auf Details größere Zusammenhänge erfassen

Epsilon 4

Schnelle und genaue Vor-Ort-Elementaranalyse

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Typ der Messung Particle size Molecular size, Particle size, Molecular weight, Zeta potential Particle shape, Particle size, Chemical identification Contaminant detection and analysis, Elemental analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Elemental quantification, Contaminant detection and analysis
Partikelgrößenbereich 0.01µm - 3500µm 0.3nm - 10µm 0.5µm - 1000µm
Temperaturbereich 0°C - 120°C
Elementbereich Na-Am C-Am
Probendurchsatz 40per 8h day - 80per 8h day 80per 8h day - 160per 8h day
Auflösung (Mg-Ka) 145eV 135eV
Technologie Laser Diffraction Dynamic Light Scattering, Static Light Scattering, Size Exclusion Chromatography (SEC), Electrophoretic Light Scattering Image analysis X-ray Fluorescence (XRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
Dispergierungstyp Dry, Wet, Wet and Dry Wet
Typ der Probenzelle Cuvette