Orthogonale und komplementäre Verfahren zur Nanopartikelcharakterisierung

Sind die Daten verlässlich? Werden sie u. U. durch die Messtechnik, durch den Anwender bei der Probenvorbereitung oder durch die verwendeten Analyseparameter beeinflusst? Zur Validierung der Messwerte sollten unabhängige und orthogonale Messmethoden verwendet werden. Zwei solche komplementäre Verfahren sind die Nanopartikel-Tracking-Analyse und die dynamische Lichtstreuung. Im Folgenden werden wir beide Verfahren und die von ihnen gelieferten komplementären Daten beschreiben. Zudem werden wir erörtern, wie diese Verfahren bei kombinierter Anwendung dank ihrer einzigartigen Fähigkeiten eine umfassende Reihe von Messparametern bereitstellen, die für die Charakterisierung von nanoskaligen Materialien verfügbar sind.

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