As layers of pure metals or alloys are used to enhance certain features of a product, it is important to precisely and accurately determine coating thickness. Quality control of metal coatings requires non-destructive, elemental analysis as well as detailed characterization of physical properties. X-ray fluorescence (XRF), X-ray diffraction (XRD) and particle shape analysis are non-destructive, non-contact analytical techniques that require little or no sample preparation, making them ideal for this application. 

Typical applications include:

  • Steel pre-treatment processes 
  • TiN for machining iron-based materials
  • CrC with high temperature oxidation resistance used in die casting
  • Tungsten carbide/carbon (WC/C) for coating and protecting highly-loaded precision components, gears and drives, engine components, hydraulic pumps and compressors
  • Conductive coatings such as metalized plastic used in food packaging 

Rango de equipos Morphologi

Rango de equipos Morphologi

Imágenes automatizadas para la caracterización avanzada de partículas

Más detalles
Medición Identificación química, Forma de partícula, Tamaño de partícula
Rango de tamaño de partículas 0.5µm - 1000µm
Tecnología Análisis de imágenes
Tipo de dispersión Wet, Dry

Empyrean

Empyrean

El difractómetro inteligente

Más detalles
Medición Crystal structure determination, Phase identification, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Texture analysis, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
Configuración del goniómetro Vertical goniometer, Θ-Θ
Rango de tamaño de partículas 1 - 100 nm
Tecnología X-ray Diffraction (XRD)

La edición Metals de Zetium

La edición Metals de Zetium

El nuevo elemento en los metales

Más detalles
Medición Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Rendimiento de muestra 160per 8h day - 240per 8h day
Potencia 2,4-4 kW
Tecnología Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 3X range

Epsilon 3X range

For every analytical problem there is a tailored solution

Más detalles
Medición 3D structure / imaging
Rango primario C-Am
Resolución (Mg-Ka) 145eV
LLD 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra 80per 8h day - 160per 8h day
Tecnología X-ray Fluorescence (XRF)

Rango de equipos Morphologi

Rango de equipos Morphologi

Imágenes automatizadas para la caracterización avanzada de partículas

Empyrean

Empyrean

El difractómetro inteligente

La edición Metals de Zetium

La edición Metals de Zetium

El nuevo elemento en los metales

Epsilon 3X range

Epsilon 3X range

For every analytical problem there is a tailored solution

Más detalles Más detalles Más detalles Más detalles
Medición Identificación química, Forma de partícula, Tamaño de partícula Crystal structure determination, Phase identification, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Texture analysis, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification 3D structure / imaging
Rango de tamaño de partículas 0.5µm - 1000µm 1 - 100 nm    
Configuración del goniómetro   Vertical goniometer, Θ-Θ    
Rendimiento de muestra     160per 8h day - 240per 8h day 80per 8h day - 160per 8h day
Potencia     2,4-4 kW  
Rango primario       C-Am
Resolución (Mg-Ka)       145eV
LLD       1 ppm - 100%
Tecnología Análisis de imágenes X-ray Diffraction (XRD) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF)
Tipo de dispersión Wet, Dry      

Rango de equipos Morphologi

Empyrean

La edición Metals de Zetium

Gama Epsilon

Rango de equipos Morphologi Empyrean La edición Metals de Zetium Gama Epsilon

Imágenes automatizadas para la caracterización avanzada de partículas

El difractómetro inteligente

El nuevo elemento en los metales

Análisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea

Más detalles Más detalles Más detalles Más detalles
Tecnología
Análisis de imágenes
X-ray Diffraction (XRD)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
X-ray Fluorescence (XRF)