Análisis de obleas WD XRF

Solución para el análisis del rendimiento de dispositivos semiconductores

En un mundo tecnológico que cambia rápidamente, las tendencias vienen y se van. Las cintas de video, discos compactos, teléfonos para automóviles y el Walkman fueron en su momento «avances» que ayudaron enormemente a la sociedad, pero fueron reemplazados por una ingeniería más moderna y sofisticada.

Sin embargo, hay una tendencia tecnológica que no ha cambiado con el tiempo: el tamaño. Incluso en 2022 (como cada año), la frase «lo pequeño es mejor» sigue teniendo validez.

Desafíos de la industria semiconductora

Pero hacerse más pequeño también significa volverse más complejo. Hay que incorporar mayor rendimiento técnico en componentes y dispositivos cada vez más pequeños. Esto es una tendencia clara en el mercado actual de semiconductores. Para satisfacer las demandas cambiantes de los sectores del automóvil, la informática y el almacenamiento de datos, los fabricantes están presionados a producir dispositivos más compactos y complejos.

Tecnología más pequeña, mayores requisitos

A medida que las capas de semiconductores siguen adelgazándose y volviéndose más complejas, técnicas de medición como la metrología de rayos X también se han vuelto más complejas. Mejorar la precisión se ha vuelto esencial, y se necesitan soluciones innovadoras para generar resultados consistentemente confiables.

La industria de semiconductores enfrenta múltiples desafíos en la metrología de obleas XRF. Esto incluye sustratos variados, variabilidad de resultados entre equipos y fábricas, además de capas cada vez más delgadas que incluyen materiales 2D. La consistencia de las herramientas de metrología, el monitoreo de calidad automatizado y la sensibilidad son consideraciones importantes. ¿Cómo se pueden superar estos desafíos para preparar las fábricas para el futuro de la industria?

2830 ZT Analizador de obleas

El 2830 ZT Analizador de obleas es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersiva en longitud de onda (WDXRF) que proporciona la mejor solución para medir el espesor y la composición de pelícuas. Esto resuelve todos los desafíos industriales mencionados anteriormente.

Proporciona análisis XRF en un rango de 0.2 nm a 10 μm y puede manejar sustratos planos de hasta 300 mm de diámetro. El 2830 ZT está completamente automatizado, cumple con los estándares de salas blancas y es la solución más estable para fábricas.

Esfuerzo continuo hacia la optimización

Malvern Panalytical está preparado para apoyar a aquellos que trabajan en la industria de semiconductores. Estamos dedicados a mejorar continuamente nuestras herramientas e innovar con tecnologías avanzadas. No importa cuánto dure la crisis de escasez de microchips, estamos listos para proporcionar las soluciones más recientes para una industria que no puede permitirse esperar.

Enlaces adicionales para leer más

Video introductorio sobre soluciones para semiconductores

Malvern Panalytical Future Days: Enfocándose en semiconductores