Detección y análisis de contaminantes

Identificación y entendimiento de los problemas del proceso y aseguramiento de la calidad y la seguridad del producto

Detección y análisis de contaminantes

La contaminación puede resultar perjudicial para la calidad del producto y la eficiencia de los procesos, y también puede presentar graves preocupaciones sobre la seguridad medioambiental o la salud pública. Por lo tanto, los niveles de elementos peligrosos en los bienes electrónicos y en los productos de consumo se limitan mediante reglamentos de salud y seguridad. 

Los contaminantes o las partículas extrañas provienen de una amplia variedad de fuentes, como piezas corroídas o dañadas de equipos, catalizadores, contaminación cruzada de un proceso, envasado o incluso de origen biológico.

Nuestros instrumentos

La detección de contaminantes, la enumeración y, en algunos casos, la identificación de contaminantes permiten detectar los problemas de los procesos y garantizar la seguridad y la calidad del producto. 

Malvern Panalytical proporciona soluciones para el análisis de contaminantes, que le permiten comprender y controlar los procesos y los productos. Estas se utilizan en diversas de industrias, como ciencia forense, tratamiento del agua, fabricación de aditivos, productos farmacéuticos y biofarmacéuticos, materiales de construcciónbebidas y alimentos, combustibles y productos químicos finos.

Cómo se comparan nuestros productos

  • Rango de equipos Morphologi

    Imágenes automatizadas para la caracterización avanzada de partículas

    Rango de equipos Morphologi

    Tecnología

    • Análisis de imágenes
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • X-ray Diffraction (XRD)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)
  • Zetium

    Espectrómetros WDXRF de pie de alta gama

    Zetium

    Tecnología

    • Análisis de imágenes
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • X-ray Diffraction (XRD)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)
  • Gama Epsilon

    Espectrómetros EDXRF de sobremesa y en línea

    Gama Epsilon

    Tecnología

    • Análisis de imágenes
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • X-ray Diffraction (XRD)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)
  • Gama Empyrean

    Difractómetros de rayos X multipropósito

    Gama Empyrean

    Tecnología

    • Análisis de imágenes
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • X-ray Diffraction (XRD)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)
  • 2830 ZT

    Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

    2830 ZT

    Tecnología

    • Análisis de imágenes
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • X-ray Diffraction (XRD)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)
  • Gama de equipos CNA

    Analizadores elementales en línea para cinta transportadora transversal

    Gama de equipos CNA

    Tecnología

    • Análisis de imágenes
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • X-ray Diffraction (XRD)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)