Análisis elemental

Tecnologías para el análisis de la composición elemental de los materiales

Análisis elemental

El análisis elemental de los materiales es a menudo un parámetro fundamental en la calidad y seguridad de los productos. Por ejemplo, la composición elemental correcta de alimentación de materia prima a un horno de cemento es esencial para conseguir un buen funcionamiento y la máxima eficiencia. 

Es igual de importante, se debe controlar cuidadosamente la presencia de sustancias con potencial de nocivas, como sodio, potasio, azufre y mercurio, ya que estos pueden interferir en el proceso o dañar el medioambiente. 

La técnica más apta para llevar a cabo el análisis elemental depende del material, de su ubicación y de los criterios específicos de la industria.

Técnicas de análisis elemental

Existen muchas técnicas de análisis elemental que sirven para entender la composición elemental de las sustancias. Proporciona información valiosa acerca de la composición química de los materiales, lo que ayuda a investigadores e industrias a tomar decisiones fundamentadas. Tiene aplicaciones como el análisis de la pureza de los productos farmacéuticos, la identificación de contaminantes en los alimentos o la caracterización de muestras geológicas.

Fluorescencia de rayos X (XRF)

La fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica no destructiva, que se basa en la emisión de rayos X característicos cuando una muestra se expone a radiación de rayos X. 

Se utiliza ampliamente para el análisis elemental en diversas aplicaciones, las que incluyen la identificación de aleaciones, la exploración de minerales y el control de calidad en la manufactura.

Análisis de impulsos rápidos y activación térmica de neutrones (PFTNA)

El análisis de impulsos rápidos y activación térmica de neutrones (PFTNA, del inglés Pulsed Fast Thermal Neutron Activation) es una técnica especializada que utiliza neutrones térmicos rápidos a pulso para activar los materiales. 

Ofrece ventajas exclusivas en el análisis de elementos traza e isótopos en diversas muestras, las que incluyen materiales geológicos, medioambientales y nucleares.

Espectroscopia de plasma inducido por láser (LIBS)

La espectroscopia de plasma inducido por láser (LIBS, del inglés "Laser-Induced Breakdown Spectroscopy") es una técnica rápida y mínimamente destructiva que analiza la composición elemental de los materiales a través del enfoque de un pulso de láser de alta energía en la superficie de una muestra. Esto crea un microplasma que emite luz característica de los elementos presentes. 

La LIBS portátil está particularmente valorada por su velocidad, portabilidad y capacidad de analizar elementos ligeros como el litio, el berilio y el boro, a menudo difíciles para otras técnicas. Su versatilidad la hace ideal para aplicaciones en terreno en metalurgia, fabricación de baterías, minería y monitoreo medioambiental.

SciAps Serie Z

Análisis sofisticado de concentraciones elementales ultrabajas
SciAps Serie Z

Plasma acoplado inductivamente (ICP)

El ICP (del inglés Inductively Coupled Plasma, plasma acoplado inductivamente) es una fuente de plasma a alta temperatura, que excita átomos e iones en una muestra, lo que permite una cuantificación precisa de los elementos. 

Es una técnica versátil utilizada en el análisis medioambiental, la geoquímica y la determinación de elementos traza en varias matrices.

Espectroscopia de absorción atómica (AAS)

La AAS (del inglés Atomic Absorption Spectroscopy, espectroscopia de absorción atómica) mide la absorción de luz por parte de átomos libres en una muestra. Es particularmente útil para cuantificar elementos traza en muestras biológicas y medioambientales, por lo que es indispensable en la química analítica.

Análisis de activación de neutrones (NAA)

El NAA (del inglés Neutron Activation Analysis, análisis de activación de neutrones) consiste en bombardear muestras con neutrones para inducir reacciones nucleares. Es un método sensible para identificar y cuantificar elementos traza en una amplia gama de materiales, desde artefactos arqueológicos hasta muestras forenses.

¿Qué soluciones de análisis elemental ofrece Malvern Panalytical?

Malvern Panalytical tiene una gama de analizadores elementales que ofrecen una selección de técnicas de análisis elemental. Cuando se requieren análisis precisos con una mínima preparación de la muestra, la fluorescencia de rayos X (XRF, del inglés "X-Ray Fluorescence") es una técnica interesante para considerar. Esta se ha convertido en el “estándar de oro” para el análisis de la composición elemental en muchas industrias. 

La XRF es especialmente apta al analizar sólidos, polvos, lodos, filtros y aceites. Para análisis en línea de materiales acarreados en transportadores de correa, el análisis de impulsos rápidos y activación térmica de neutrones (PFTNA, del inglés Pulsed Fast Thermal Neutron Activation) es una técnica valiosa. El análisis elemental en tiempo real permite el control de avance y retroceso de la alimentación, lo cual es esencial en muchos procesos.

Nuestra amplia gama de soluciones elementales posee un amplio espectro de aplicaciones, lo que garantiza resultados exactos y confiables. Explore nuestra gama de instrumentación de análisis elemental a continuación.

Cómo se comparan nuestros productos

  • Zetium

    Espectrómetros WDXRF de pie de alta gama

    Zetium

    Tipo de medición

    • Metrología de película delgada
    • Detección y análisis de contaminantes
    • Identificación química

    Tecnología

    • X-ray Fluorescence (XRF)
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)

    Rango primario

    • Be-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    Resolución (Mg-Ka)

    • 35eV

    Rendimiento de muestra

    • Up to - 240per 8h day
  • Gama Epsilon

    Espectrómetros EDXRF de sobremesa y en línea

    Gama Epsilon

    Tipo de medición

    • Metrología de película delgada
    • Detección y análisis de contaminantes
    • Identificación química

    Tecnología

    • X-ray Fluorescence (XRF)
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)

    Rango primario

    • F-Am

    LLD

    • 1 ppm - 100%

    Resolución (Mg-Ka)

    • 145eV

    Rendimiento de muestra

    • Up to - 160per 8h day
  • Axios FAST

    Espectrómetro WDXRF simultáneo de alto rendimiento

    Axios FAST

    Tipo de medición

    • Metrología de película delgada
    • Detección y análisis de contaminantes
    • Identificación química

    Tecnología

    • X-ray Fluorescence (XRF)
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)

    Rango primario

    • B-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    Resolución (Mg-Ka)

    • 35eV

    Rendimiento de muestra

    • Up to 480
  • 2830 ZT

    Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

    2830 ZT

    Tipo de medición

    • Metrología de película delgada
    • Detección y análisis de contaminantes
    • Identificación química

    Tecnología

    • X-ray Fluorescence (XRF)
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)

    Rango primario

    • B-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    Resolución (Mg-Ka)

    • 35eV

    Rendimiento de muestra

    • up to 25 wafers per hour
  • Gama de equipos CNA

    Analizadores elementales en línea para cinta transportadora transversal

    Gama de equipos CNA

    Tipo de medición

    • Metrología de película delgada
    • Detección y análisis de contaminantes
    • Identificación química

    Tecnología

    • X-ray Fluorescence (XRF)
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)

    Rango primario

    LLD

    Resolución (Mg-Ka)

    Rendimiento de muestra

  • SciAps Serie Z

    Análisis sofisticado de concentraciones elementales ultrabajas

    SciAps Serie Z

    Tipo de medición

    • Metrología de película delgada
    • Detección y análisis de contaminantes
    • Identificación química

    Tecnología

    • X-ray Fluorescence (XRF)
    • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
    • Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
    • Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)

    Rango primario

    LLD

    Resolución (Mg-Ka)

    Rendimiento de muestra