Tecnologías para el análisis de la composición elemental de los materiales
El análisis elemental de los materiales es a menudo un parámetro fundamental en la calidad y seguridad de los productos. Por ejemplo, la composición elemental correcta de alimentación de materia prima a un horno de cemento es esencial para conseguir un buen funcionamiento y la máxima eficiencia. Igualmente importante, se debe controlar cuidadosamente la presencia de sustancias potencialmente nocivas, como sodio, potasio, azufre y mercurio, ya que estos pueden interferir con el proceso o dañar el medioambiente. La técnica más apta para llevar a cabo el análisis elemental depende del material, de su ubicación y de los criterios específicos de la industria.
Malvern Panalytical tiene una gama de analizadores elementales que ofrecen una selección de técnicas de análisis elemental. Cuando se requieren análisis precisos con una mínima preparación de la muestra, la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica interesante que considerar. Esta se ha convertido en el “estándar de oro” para el análisis de la composición elemental en muchas industrias. La XRF es especialmente apta al analizar sólidos, polvos, lodos, filtros y aceites. Para análisis en línea de materiales acarreados en transportadores de correa, el análisis de activación de neutrones térmicos rápida a pulso (PFTNA) es una técnica valiosa. El análisis elemental en tiempo real permite el control de avance y retroceso de la alimentación, lo cual es esencial en muchos procesos.
![]() ZetiumExcelencia elemental |
![]() Gama EpsilonAnálisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea |
![]() Axios FASTAlto rendimiento de muestras |
![]() 2830 ZTSolución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores |
![]() Gama de equipos CNAAnalizadores elementales en línea para un control eficaz de muchos procesos industriales |
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Más detalles | Más detalles | Más detalles | Más detalles | Más detalles | |
Tipo de medición | |||||
Metrología de película delgada | |||||
Detección y análisis de contaminantes | |||||
Identificación química | |||||
Tecnología | |||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA) | |||||
Rango primario | Be-Am | F-Am | B-Am | B-Am | |
LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
Resolución (Mg-Ka) | 35eV | 145eV | 35eV | 35eV | |
Rendimiento de muestra | 160per 8h day - 240per 8h day | Up to - 160per 8h day | 240per 8h day - 480per 8h day | up to 25 wafers per hour |