Análisis elemental

Tecnologías para el análisis de la composición elemental de los materiales

El análisis elemental de los materiales es a menudo un parámetro fundamental en la calidad y seguridad de los productos. Por ejemplo, la composición elemental correcta de alimentación de materia prima a un horno de cemento es esencial para conseguir un buen funcionamiento y la máxima eficiencia. Igualmente importante, se debe controlar cuidadosamente la presencia de sustancias potencialmente nocivas, como sodio, potasio, azufre y mercurio, ya que estos pueden interferir con el proceso o dañar el medioambiente. La técnica más apta para llevar a cabo el análisis elemental depende del material, de su ubicación y de los criterios específicos de la industria.

Malvern Panalytical tiene una gama de analizadores elementales que ofrecen una selección de técnicas de análisis elemental. Cuando se requieren análisis precisos con una mínima preparación de la muestra, la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica interesante que considerar. Esta se ha convertido en el “estándar de oro” para el análisis de la composición elemental en muchas industrias. La XRF es especialmente apta al analizar sólidos, polvos, lodos, filtros y aceites. Para análisis en línea de materiales acarreados en transportadores de correa, el análisis de activación de neutrones térmicos rápida a pulso (PFTNA) es una técnica valiosa. El análisis elemental en tiempo real permite el control de avance y retroceso de la alimentación, lo cual es esencial en muchos procesos.

Zetium

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Excelencia elemental

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Gama Epsilon

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Análisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea

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Axios FAST

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Alto rendimiento de muestras

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2830 ZT

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Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

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Gama de equipos CNA

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Analizadores elementales en línea para un control eficaz de muchos procesos industriales

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Tipo de medición
Metrología de película delgada
Detección y análisis de contaminantes
Identificación química
Tecnología
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)
Rango primario Be-Am F-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolución (Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
Rendimiento de muestra 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour