Información general
Cuantificación consistente y flexible
Los resultados exactos se proporcionan para una amplia gama de aplicaciones, como RoHS-3, WEEE, ELV, juguetes, joyas, rocas e inspección de productos finales. Omnian, el paquete de software líder en el mercado de análisis sin estándares de PANalytical, hizo esto posible. También se utiliza en los instrumentos de XRF más avanzados.
Como una solución lista para usar, Omnian se puede utilizar para analizar una amplia variedad de composiciones elementales, desde el sodio hasta el americio en la tabla periódica.
Con calibraciones especializadas, es posible seguir los métodos de prueba internacionales, como ASTM F2617 (RoHS), o realizar análisis según las especificaciones descritas por ASTM F963 (juguetes) e IEC 62123 (dispositivos electrónicos).
Cumplimiento con ASTM F2617-15 para RoHS-3
La XRF es una solución bien establecida para la detección y cuantificación de metales y compuestos tóxicos. El contenido tóxico del metal en los bienes electrónicos está regulado por las directivas globales, como RoHS-3, WEEE, ELV, la Administración para el Control de la Contaminación causada por los Productos de Información Electrónica (equivalente chino de RoHS) y otras directivas similares. Todas estas directivas tienen un alcance ligeramente diferente, pero las semejanzas son la restricción de cadmio, plomo, mercurio, cromo hexavalente y varios retardadores de fuego bromados de fenol. ASTM F2617-15 es un método de prueba ampliamente aceptado para cuantificar la concentración de los elementos y compuestos restringidos. Nuestra hoja de datos demuestra las capacidades del Epsilon 1 para cumplir con ASTM F2617-15, incluso con un tamaño de punto de análisis de 0,8 x 1,2 mm.
Características
Análisis no destructivo
Las mediciones se realizan directamente en la muestra con poco o nada de preparación. Debido a que la XRF es una técnica no destructiva, la muestra se puede medir posteriormente mediante otras técnicas analíticas, si es necesario.
Análisis de puntos pequeños
Las piezas o inclusiones pequeñas en las muestras se pueden analizar fácilmente con un haz de rayos X colimado. El tamaño de punto de las muestras es normalmente de 0,8 x 1,2 mm.
Posicionamiento de muestras
Con la ayuda de la cámara de color y el punto de mira en la imagen, el usuario puede ubicar manualmente la muestra en el punto de análisis del instrumento.
Informes de análisis
Después de cada análisis, se almacena una fotografía del punto de la muestra en la computadora integrada. Con un solo clic, se genera un informe de análisis que incluye la fotografía.
Aplicaciones clave
Especificación
| Manipulación de muestras | Tubos de rayos X | Detector | Características del software |
|---|---|---|---|
| Cualquier muestra con dimensiones máximas de 15 x 12 x 10 cm (An x P x Al) | Tubo de ventana lateral semicerámica de alta estabilidad de 15 vatios | Alta resolución, generalmente de 135 eV | Análisis sin estándares, listo para cualquier muestra |
| Posicionamiento de la muestra con cámara de color y punto de mira digital proyectado | Corriente máxima de 1,5 mA para lograr la sensibilidad máxima de oligoelementos | Detector SDD10 con una capacidad de velocidad de conteo alta | Almacenamiento automático de la imagen de la cámara |
| Protección contra polvo y daños | Ánodo de plata, ideal para la mayoría de los elementos del sistema periódico | Ventana de berilio delgada de alta transparencia | Modo del operador para un funcionamiento más sencillo |
| Voltaje máximo de 50 kV, ideal para el análisis de elementos más pesados | Modo avanzado para el ajuste de aplicaciones especializadas |
Accesorios
Estándares (materiales de referencia)
Software
Software Epsilon
El software Epsilon es la plataforma de software de análisis de XRF que se utiliza con la gama de sistemas de EDXRF para mesas de trabajo Epsilon 1 y Epsilon 4 de PANalytical.
Stratos
Omnian
El software Omnian permite a los usuarios obtener el mejor análisis posible cuando no hay disponibles métodos especializados o normas certificadas.
FingerPrint
Un módulo de software de FingerPrint, combinado con un sistema de EDXRF Epsilon, es ideal para la prueba de materiales cuando la velocidad del análisis es importante, pero la composición real no es de interés.
Seguridad de datos mejorada
Soporte
Servicios
Soluciones para maximizar la rentabilidad de su inversión
Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
Soporte
Servicio durante toda la vida útil
- Asistencia telefónica y remota
- Mantenimiento preventivo y revisiones
- Acuerdos flexibles de atención al cliente
- Certificados de rendimiento
- Actualizaciones de hardware y software
- Asistencia local y global
Experiencia
Agregamos valor a sus procesos
- Desarrollo y optimización de preparación de muestras
- Metodologías analíticas
- Soluciones listas para usar para XRD
- Operaciones a través de IQ/OQ/PQ, aseguramiento de la calidad (GLP, ISO17025) o estudios interlaboratorios o cooperativos
- Automatización de los procesos del laboratorio
- Servicios de asesoría
Capacitación y educación
- Capacitación in situ o en nuestros centros de competencia
- Amplia gama de cursos básicos y avanzados sobre productos, aplicaciones y software
Servicios analíticos y materiales de calibración
- Servicios de análisis con expertos (XRF)
- Análisis de óxidos y trazas
- Materiales de calibración personalizada