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¿Necesita un análisis elemental de objetos o inclusiones pequeños en dispositivos electrónicos, juguetes, joyas, rocas o productos acabados?
Epsilon 1 para análisis de puntos pequeños, un espectrómetro compacto de fluorescencia de rayos X con un tamaño de punto de 0,8 x 1,2 mm, es la solución analítica ideal para lograr un análisis flexible y de perfecta exactitud.
Gracias a su diseño autónomo y baja necesidad de espacio, Epsilon 1 se puede colocar cerca de la ubicación de la muestra, lo que hace del instrumento una solución ideal para cualquier análisis elemental en instalaciones de producción, sitios de exploración, el cajero de una tienda o incluso en sitios de delitos para investigación forense.
El funcionamiento del espectrómetro cumple con los métodos de prueba estándar que diferentes pautas y normas requieren en varios mercados industriales, como RoHS-3 para sistemas electrónicos y CPSIA para diversos bienes de consumo.
Análisis no destructivo: Las mediciones se realizan directamente en la muestra con poco o nada de preparación. Debido a que la XRF es una técnica no destructiva, la muestra se puede medir posteriormente mediante otras técnicas analíticas, si es necesario.
Análisis de puntos pequeños: Las piezas o inclusiones pequeñas en las muestras se pueden analizar fácilmente con un haz de rayos X colimado. El tamaño de punto de las muestras es normalmente de 0,8 x 1,2 mm.
Posicionamiento de muestras: Con la ayuda de la cámara de color y el punto de mira en la imagen, el usuario puede ubicar manualmente la muestra en el punto de análisis del instrumento.
Informes de análisis: Después de cada análisis, se almacena una fotografía del punto de la muestra en la computadora integrada. Con un solo clic, se genera un informe de análisis que incluye la fotografía.
Los resultados exactos se proporcionan para una amplia gama de aplicaciones, como RoHS-3, WEEE, ELV, juguetes, joyas, rocas e inspección de productos finales. Omnian, el paquete de software líder en el mercado de análisis sin estándares de PANalytical, hizo esto posible. También se utiliza en los instrumentos de XRF más avanzados.
Como una solución lista para usar, Omnian se puede utilizar para analizar una amplia variedad de composiciones elementales, desde el sodio hasta el americio en la tabla periódica.
Con calibraciones especializadas, es posible seguir los métodos de prueba internacionales, como ASTM F2617 (RoHS), o realizar análisis según las especificaciones descritas por ASTM F963 (juguetes) e IEC 62123 (dispositivos electrónicos).
La XRF es una solución bien establecida para la detección y cuantificación de metales y compuestos tóxicos.
El contenido tóxico del metal en los bienes electrónicos está regulado por las directivas globales, como RoHS-3, WEEE, ELV, la Administración para el Control de la Contaminación causada por los Productos de Información Electrónica (equivalente chino de RoHS) y otras directivas similares. Todas estas directivas tienen un alcance ligeramente diferente, pero las semejanzas son la restricción de cadmio, plomo, mercurio, cromo hexavalente y varios retardadores de fuego bromados de fenol.
ASTM F2617-15 es un método de prueba ampliamente aceptado para cuantificar la concentración de los elementos y compuestos restringidos. Nuestra hoja de datos demuestra las capacidades del Epsilon 1 para cumplir con ASTM F2617-15, incluso con un tamaño de punto de análisis de 0,8 x 1,2 mm.
Epsilon 1 para análisis de puntos pequeños se utiliza para una amplia gama de aplicaciones en todo el mundo, que incluyen:
| Carga de muestra | Posicionamiento de la muestra con cámara de color y punto de mira digital proyectado |
|---|---|
| Tamaño de muestra | Cualquier muestra con dimensiones máximas de 15 x 12 x 10 cm (An x P x Al) |
| Safety | Protección contra polvo y daños |
| Features | Tubo de ventana lateral semicerámica de alta estabilidad de 15 vatios
Ánodo de plata, ideal para la mayoría de los elementos del sistema periódico |
|---|---|
| Current | Corriente máxima de 1,5 mA para lograr la sensibilidad máxima de oligoelementos |
| Voltage | Voltaje máximo de 50 kV, ideal para el análisis de elementos más pesados |
| Resolución | Alta resolución, generalmente de 135 eV |
|---|---|
| Features | Detector SDD10 con una capacidad de velocidad de conteo alta
Ventana de berilio delgada de alta transparencia |
| Software | Análisis sin estándares, listo para cualquier muestra |
|---|---|
| Almacenamiento | Almacenamiento automático de la imagen de la cámara
|
| Interface | Modo del operador para un funcionamiento más sencillo
Modo avanzado para el ajuste de aplicaciones especializadas
|
Claisse proporciona a sus clientes materiales de referencia certificados (CRM) y materiales de referencia (RM) de calidad en todo el mundo a precios competitivos. Sea cual sea su necesidad, Claisse se esfuerza por proporcionarle los servicios integrales necesarios a fin de obtener la solución perfecta para su análisis de espectroscopia XRF, AA e ICP.
El software Epsilon es la plataforma de software de análisis de XRF que se utiliza con la gama de sistemas de EDXRF para mesas de trabajo Epsilon 1 y Epsilon 4 de PANalytical. El software ofrece todas las funciones necesarias para configurar y utilizar un sistema de mesas de trabajo Epsilon. El montaje del programa analítico se ve facilitado en gran medida por el alto grado de inteligencia integrado en el software, lo que permite a los usuarios beneficiarse de medio siglo de experiencia en aplicaciones. El análisis diario de XRF es una tarea rutinaria que puede ser realizada fácilmente por personal inexperto después de un mínimo de instrucción. Muchas características están presentes para mejorar la facilidad de uso del software.
El módulo del software Stratos presenta un algoritmo que permite la determinación simultánea de la composición química y el espesor de los materiales en capas a partir de las medidas tomadas. El software proporciona un medio rápido, simple y no destructivo de análisis de recubrimientos, capas superficiales y estructuras multicapa. El Virtual Analyst proporciona inteligencia durante la configuración de programas de medición para pilas complicadas.
Disponible tanto para los espectrómetros Epsilon 4 EDXRF como para Zetium, Stratos ofrece resultados rápidos y confiables, independientemente del tipo de muestra o matriz.
Omnian permite que los usuarios obtengan el mejor análisis posible cuando no hay disponibles métodos especializados o estándares certificados. Omnian, un paquete vanguardista y sin estándares, incorpora software de última generación y muestras de configuración que trascienden las tecnologías. Disponible para los espectrómetros Epsilon 1, Epsilon 4 y Zetium, Omnian ofrece resultados rápidos y confiables, independientemente del tipo de muestra o la matriz.
Un módulo de software de FingerPrint, combinado con un sistema de Epsilon 4 EDXRF, es ideal para la prueba de materiales cuando la velocidad del análisis es importante, pero la composición real no es de interés. La identificación de características específicas generalmente implica poca o ninguna preparación de muestras y no es destructiva.
El módulo Seguridad de datos mejorada (EDS) es una opción de software que proporciona una mayor confianza en los resultados para los usuarios del espectrómetro Zetium XRF (a través del software SuperQ) y el espectrómetro Epsilon XRF. Con funciones que incluyen la administración avanzada de usuarios, el registro de acciones, la protección de datos y la asignación del estado de la aplicación, EDS lo ayuda a reforzar su registro de auditoría, minimizar el riesgo de error y demostrar que su instrumento XRF funciona como se espera.
A la vanguardia con la experiencia de Claisse en fusión.
El instrumento de fusión Claisse LeNeo prepara los discos de vidrio para XRF, además de las soluciones de borato y peróxido para los análisis AA e ICP. Se trata de un instrumento eléctrico de posición única.
Más información
Cuando se instala correctamente, el nuevo Epsilon 1 brinda resultados de análisis confiables. La instalación del Epsilon 1 es sencilla: desempaque el sistema, conéctelo y siga las instrucciones que lo guiarán en el proceso. Finalmente, la instalación se completa con una simple prueba de radiación y así se confirma que el sistema funciona de forma segura. Sí, es así de fácil comenzar a usar su Epsilon 1. Y lo más importante es que puede estar seguro de que el sistema se entrega con la certificación de seguridad necesaria.
La instalación inteligente garantiza que pueda poner en funcionamiento los instrumentos nuevos, incluso cuando ocurran circunstancias inesperadas o cuando las ubicaciones remotas impidan que un ingeniero acceda al lugar. Para el Epsilon 1, ofrecemos una instalación inteligente guiada, lo que le permite instalar el sistema usted mismo, además de mantener la integridad del instrumento y su certificación de seguridad.
Las ventajas de la instalación inteligente guiada son las siguientes:
Obtenga más información sobre la instalación inteligente.
Número de versión: 1
Número de versión: 5
Número de versión: 5
Por favor, póngase en contacto con soporte para la última versión del software.
Eche un vistazo a nuestra serie de videos de instrucciones básicas para aprender más acerca del Epsilon 1:
Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
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