2830 ZT

El analizador de láminas 2830 ZT de fluorescencia de rayos X con dispersión de longitud de onda (WDXRF, por sus siglas en inglés) ofrece la capacidad más reciente para medir el grosor y la composición de películas. Diseñado específicamente para la industria de semiconductores y de almacenamiento de datos, el analizador de láminas 2830 ZT permite determinar la composición, el grosor, los niveles de dopaje y la uniformidad de la superficie de las capas para una amplia gama de láminas de hasta 300 mm.

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Productos:: Crystal orientation range, 2830 ZT, X'Pert3 range
Tecnología:: X-ray Fluorescence (XRF), Dispersión de luz dinámica, Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), X-ray Diffraction (XRD)
Industria:: Semiconductores/Electrónica

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