Edición Research de Aeris

La combinación de la facilidad de uso y el rendimiento hace que su trabajo alcance un nuevo nivel, lo que le proporciona mejor información y conocimientos más profundos para que pueda encontrar las respuestas de manera más eficaz, perfeccionar sus materiales, avanzar en sus conocimientos y expandir las fronteras de la ciencia.

Lo que le deja tiempo para trabajar en el lado interesante de la ciencia

Cualquier proyecto en que esté trabajando, la adquisición rápida de la información de la fase de la muestra en cuestión puede ser crucial para su investigación. Simplemente recopile los datos de difracción de los rayos X con Aeris Research y, a continuación, utilice el paquete HighScore para obtener una gran cantidad de información cristalográfica. Usted tiene todo lo que necesita para obtener los mejores datos de cualquier tipo de material policristalino, ya que cuenta con configuraciones de medición que incluyen reflexión, transmisión e incidencia rasante de difracción de rayos X (GIXRD, del inglés Grazing Incidence X-Ray Diffraction).

Descargar folleto
Contactar a soporte técnico Regístrese ahora

User manuals

Software downloads

16 December 2021

1.40

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.40