Wafer XRD 200 Pre-installation Manual (English)
Número de versión: 1
Basado en el escaneado azimutal, Wafer XRD 200 es una solución ultrarrápida, de alta precisión y totalmente equipada para la metrología de obleas, con multitud de opciones adicionales.
Número de versión: 1
Por favor, póngase en contacto con soporte para la última versión del software.