Wafer XRD 200

Basado en el escaneado azimutal, Wafer XRD 200 es una solución ultrarrápida, de alta precisión y totalmente equipada para la metrología de obleas, con multitud de opciones adicionales.

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Productos:
Wafer XRD 200, Omega/Theta
Tecnología:
X-ray Diffraction (XRD)
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