Zetium

L'excellence élémentaire

La spectrométrie à fluorescence de rayons X (XRF) peut effectuer l'analyse élémentaire d'une large gamme de matériaux tels que les solides, les liquides et les poudres libres. Conçu pour répondre au contrôle de processus et aux applications de recherche et développement les plus exigeantes, le spectromètre Zetium est le leader du marché en termes de conception de haute qualité et de caractéristiques innovantes pour l'analyse des niveaux inférieurs au ppm en pourcentage de Be à Am.

S'appuyant sur des années d'expérience et sur le succès de notre vaste portefeuille d'analyse aux rayons X, Zetium constitue une étape révolutionnaire dans l'analyse des matériaux. La plate-forme incarne la technologie SumXcore – une intégration de WDXRF et EDXRF. Cette combinaison unique de possibilités place Zetium dans une classe à part en terme de puissance analytique, de vitesse et de flexibilité des tâches dans de multiples environnements.  

Le Zetium est équipé de la dernière version de notre logiciel SuperQ, comprenant notre Virtual Analyst qui permet même aux utilisateurs non experts de configurer facilement les applications. Une large gamme de modules logiciels supplémentaires est disponible pour des analyses spécifiques, tels que l'analyse non standardisée, l'analyse d'éléments traces en géologie, les corrections de matrice dans les huiles et l'analyse de couches minces

Des éditions industrielles dédiées du spectromètre XRF Zetium sont proposées pour des industries spécifiques : le ciment, les minéraux, les métaux, les produits pétrochimiques et les polymères et les plastiques. La configuration de l'édition Ultimate répond aux besoins les plus exigeants quelle que soit l’industrie. La conception modulaire de la plate-forme Zetium permet d'améliorer les performances des tâches spécifiques grâce à divers packages. Malvern Panalytical propose une gamme complète de solutions d'intégration, de la simple interface avec équipement de préparation des échantillons aux projets d'automatisation complets, qui intègrent plusieurs instruments d'analyse dans un simple container laboratoire.

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Présentation générale

Innovation élémentaire

Développement continu, meilleure expérience client 

Des innovations scientifiquement éprouvées, axées sur les avantages, obtenues grâce à la technologie SumXcore – intégration de WDXRF et EDXRF – et incorporées à la plate-forme Zetium, offrent une flexibilité, des performances et une polyvalence optimales et sont en voie de révolutionner le monde de la XRF.

Innovation élémentaire

Intelligence élémentaire

Le matériel d'analyse de pointe nécessite des logiciels d'analyse et une expertise avancés 

Un pas de géant pour notre logiciel SuperQ renommé qui donne accès à de nouvelles combinaisons technologiques et possibilités d'analyse. Grâce à Virtual Analyst, elle améliore l'expérience de l'utilisateur lors de la configuration et de l'exploitation du système.

Intelligence élémentaire

Assistance élémentaire

Assistance transparente et fiable quel que soit l'endroit

Du service à l'expertise, de la formation à l'analyse en laboratoire, l'utilisateur est soutenu sous tous les angles. Grâce à un réseau mondial constitué d'ingénieurs expérimentés, ainsi qu'au plus grand bassin de scientifiques d’application de l’industrie, Malvern Panalytical est toujours à votre disposition pour vous aider à répondre à vos besoins analytiques. 

Assistance élémentaire

Technologie élémentaire

60 ans d'expérience et d'héritage - le point de départ idéal

Zetium fait partie de la prochaine génération de spectromètres WDXRF remarquablement efficaces, comprenant les spectromètres Axios, MagiX et PW2400. Cet héritage de technologie éprouvée a été affiné et mis au premier plan, constituant ainsi les bases de la plate-forme Zetium.

Technologie élémentaire

Fonctionnalités

Amélioration des performances d'analyse

  • Choix de puissance de 1 à 2,4, 3 ou 4 kW pour une meilleure sensibilité
  • Gamme de matériaux d'anode de tube à rayons X Rh, Cr, Mo et Au pour des applications spécifiques
  • Détecteur Duplex pour une meilleure sensibilité et une plus large gamme dynamique pour les analyses des métaux de transition
  • Détecteur à scintillation HiPer pour une gamme dynamique améliorée pour les éléments lourds (jusqu'à 3,5 Mcps) idéal pour l'analyse haute précision du Nb et Mo dans les aciers

Expérience utilisateur supérieure

  • Logiciel simple et intuitif avec le Virtual Analyst
  • Série complète de modules de configuration d'applications et solutions logicielles
  • Analyse XRF non standardisée leader de l'industrie avec Omnian - analyse de matériaux inconnus ou de matériaux pour lesquels des étalons ne sont pas disponibles
  • Analyse élémentaire multi-élément avec cartographie
  • Masques de collimateur programmables pour des tailles d'échantillon comprises entre 6 et 37 mm

Rendement d'échantillons maximum

  • Technologie sumXcore - Durées de mesure réduites jusqu'à 50 % avec ED core
  • Choix de puissance de 1 à 2,4, 3 ou 4 kW pour des durées d'analyse plus rapides
  • Canaux Hi-Per pour une mesure simultanée des éléments légers
  • Un chargement continu et direct réduit considérablement le temps d'inactivité de l'instrument
  • Lit de passeur d'échantillons haute capacité (jusqu'à 209 positions) pour des applications à rendement élevé
  • Option de lecteur de code-barres pour le chargement d'échantillons et la saisie de données rapides et sans erreur

Robustesse

  • Le dispositif anti-poussière minimise la contamination et optimise le temps en fonctionnement de l'instrument
  • Revêtement CHI-BLUE sur la fenêtre du tube à rayons X pour une meilleure solidité du tube et une plus grande résistance à la corrosion
  • Identification du type d'échantillon (solides et liquides)
  • Lecteur code-barres pour une saisie d'échantillons sans erreur

 Faible coût de propriété

  • Gain de place, conception compacte 
  • Sas de petite taille, pour des mises sous vide rapides et faible consommation d'hélium pour l'analyse de liquides
  • Modules de service faciles d'accès pour un entretien plus rapide de l'instrument et des temps d'arrêt minimaux
  • Un refroidisseur dédié évacue la chaleur dans le laboratoire, évitant un climatiseur supplémentaire.
  • Solution en packages économiques

Éditions industrielles

Solutions adaptées aux différentes industries

Les éditions industrielles du spectromètre XRF Zetium sont proposées avec des modèles d'expertise dédiés et des configurations matérielles et logicielles prévues pour des industries spécifiques. Conçues pour être mises en place et étalonnées rapidement, ces éditions industrielles disposent de modules d'application traçables propriétaires de grande qualité, incluant des étalons de calibration et des instructions de préparation d'échantillons. Les modèles d'applications inclus sont parfaitement adaptés aux applications industrielles standard et conformes aux normes internationales. Les industries utilisant cette approche sont notamment les industries du ciment, des minéraux, des métaux, des produits pétrochimiques, des polymères et des plastiques. La configuration de l'édition Ultimate répond aux besoins les plus exigeants quelle que soit l’industrie.

L'édition Ultimate de Zetium

Elle représente la configuration la plus avancée dans la famille Zetium et fournit des performances analytiques inégalées indépendamment de l'application.
L'édition Ultimate de Zetium

L'édition Cement de Zetium

Elle permet d'effectuer l'analyse élémentaire de la matière première jusqu'au ciment final pour un meilleur contrôle de processus.
L'édition Cement de Zetium

L'édition Metals de Zetium

Elle est préconfigurée avec des solutions d'application appropriées aux besoins analytiques spécifiques de l'industrie des métaux.
L'édition Metals de Zetium

L'édition Petro de Zetium

Elle est préétalonnée pour répondre aux exigences réglementaires de l'industrie pétrochimique.
L'édition Petro de Zetium

L'édition Polymers de Zetium

Elle est conçue pour favoriser l'homogénéité du produit grâce à une analyse élémentaire fiable des échantillons dans l'ensemble du procédé de production.
L'édition Polymers de Zetium

L'édition Mineral de Zetium

L'édition Minerals de Zetium est conçue pour l'analyse des matériaux dans toutes les phases du processus minier, des minerais aux traînées.
L'édition Mineral de Zetium

Accessoires

Étalons (matériaux de référence)

ADPOL

Analyse élémentaire précise par spectrométrie de fluorescence X des additifs de polymère fonctionnels
ADPOL

WROXI

Analyse précise d'une large gamme d'oxydes de minéraux
WROXI

NiFeCO

Idéal pour l'analyse des aciers haute température et des superalliages
NiFeCO

LAS

Analyse des aciers faiblement alliés avec les spectromètres XRF Malvern Panalytical
LAS

RoHS

Analyse élémentaire précise des matériaux limités par la norme LdSD
RoHS

TOXEL

Analyse précise par spectrométrie de fluorescence X des éléments toxiques dans les polymères et les plastiques
TOXEL

CEMOXI

Analyse précise par spectrométrie de fluorescence X des oxydes dans le ciment
CEMOXI

Fondants et produits chimiques

Moniteur de fusion

Contrôle proactif rapide et sans erreur de vos instruments de fusion
Moniteur de fusion

Fondants pré-pesés

Avez-vous déjà pensé au temps que vous passez à peser les fondants ?
Fondants pré-pesés

Moules et creusets

Moules et creusets

Notre matériel de laboratoire en platine est composé à 95 % de platine allié à 5 % d'or
Moules et creusets

Logiciels

Super Q

Le logiciel SuperQ est simple à utiliser et permet aux administrateurs et aux opérateurs de routine d'accéder aux spectromètres Zetium et CubiX.

Super Q

Omnian

Le logiciel Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalons certifiés.

Omnian

Oil-Trace

Oil-Trace est un logiciel comprenant une série d'étalons qui permettent aux utilisateurs d'effectuer des analyses élémentaires fiables et précises des liquides par WDRXF et EDXRF.
Oil-Trace

Pro-Trace

Pro-Trace est parfaitement adapté au calcul des intensités nettes dans l'analyse des éléments traces et corrige les effets de matrice de façon très précise lorsque la matrice totale est inconnue.

Pro-Trace

Stratos

Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches.
Stratos

Options

Packages d'amélioration du système

La conception modulaire de la plate-forme Zetium permet des configurations customisables pour répondre aux besoins les plus exigeants.
 
  •     Améliorations des performances axées sur les tâches
  •     Débit d'échantillons élevé -–augmentation de la capacité du passeur d'échantillons et temps d’inactivité des instruments minimal
  •     Protection contre les échantillons poussiéreux et les déversements de liquides
  •     Introduction d'échantillons sans erreur grâce au lecteur de codes-barres
  •     Manipulation variable selon le type d'échantillon, y compris analyse élémentaire
Packages d'amélioration du système

SumXcore

ED core

La plate-forme Zetium incarne la technologie SumXcore - une intégration de WDXRF et EDXRF. Cette combinaison unique de possibilités le place dans une classe à part en ce qui concerne la puissance analytique, la vitesse et la flexibilité des tâches.

Avantages de la combinaison WD/ED XRF

  • Flexibilité maximale des tâches et performances améliorées grâce aux mesures SumXcore simultanées
  • Bénéficie d'une réduction spectaculaire des durées de mesure allant jusqu'à 50 % ou d'une plus grande précision
  • Détecteur SDD haute résolution, avec atténuation du signal variable, pour une flexibilité de performance optimale
  • Analyse élémentaire du Na – Am, en concentrations en ppm – 100 %
  • Suit les éléments inattendus qui peuvent affecter l'analyse des éléments du procédé sans augmenter la durée de la mesure
  • Améliore votre programme AQ/CQ et augmente la confiance dans la qualité grâce à deux résultats indépendants pour chaque mesure
SumXcore

SuperQ 6 avec Virtual Analyst

Virtual Analyst prend des informations de diverses sources, telles que les compositions des étalons, les mesures réelles et les objectifs des données utilisateur, pour calculer la réponse du système, le configurer et réaliser la méthode.

  • Accès à la puissance de la plate-forme Zetium
  • Simple et intuitif avec flux adapté aux tâches
  • Améliorations de la correction de matrice pour une plus grande précision des données, des métaux aux polymères 
  • Virtual Analyst - l'incarnation de décennies de savoir-faire spécialisé.
SuperQ 6 avec Virtual Analyst

Analyse élémentaire avec cartographie

L'analyse élémentaire avec cartographie de distribution élémentaire est un outil idéal pour la recherche de matériaux et le dépannage de procédé de production. Cette technique ne se limite désormais plus aux établissements de recherche et est maintenant disponible partout où vous en avez besoin.

  • Idéale pour la recherche de matériaux et le dépannage de procédé de production
  • Temps d'analyse pratique
  • Chemin optique à couplage direct pour une plus grande sensibilité
  • Utilisation d'ED Core pour une analyse multi-éléments rapide, simultanée par zone
  • Surface d'analyse de 500 µm (FWHM), amplitude du pas de 100 µm
  • Analyse Omnian quantitative, qualitative et non standardisée
  • Préparation d'échantillons simple
Analyse élémentaire avec cartographie

A nice instrument, small footprint, easy to use software, great after the sale support and training!!

Victoria Weathers — Ascend Performance Materials