Aeris 광물 모델

광물 처리 공정 최적화

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Aeris 광물 모델인 탁상용 X선 회절 분석기는 광업에서 누구나 광석의 다목적 분석을 할 수 있게 해줍니다.

광석과 광물의 효과적인 가공

XRD는 가장 경제적인 공정 조건을 위해 습식제련 모델을 위한 정확한 광물 모니터링 및 입력 정보를 제공합니다.

Aeris 광물 모델은 원재료부터 최종 제품까지 생산 공정 전 과정의 파트너입니다.

대량 샘플 처리가 가능한 유일한 자동화 탁상용 회절 분석기: 신속하고 자동화된 샘플 처리를 위해 벨트나 로봇에 Aeris를 연결할 수 있습니다
기술 결합의 힘: Aeris와 Zetium을 함께 사용하면 Zetium이 제공하는 기본 조성 정보가 Aeris의 상분석에 추가되어 재료 특성을 완벽하게 파악할 수 있습니다
맞춤화된 산업 표준 샘플 홀더: 51.5mm 샘플 홀더 컬렉션 / 40mm 샘플 홀더

신속한 분석으로 피드백 루프가 최소화되고 공정 최적화를 위한 빠른 개입이 가능해집니다. Aeris의 일반적인 측정 시간은 샘플당 10분 미만입니다.

분석 장비의 가동 시간은 믿을 수 있는 공정 제어에 있어서 핵심입니다. Aeris는 처음부터 가동률을 최대화하는 데 목표를 두고 설계되었습니다.

가장 직관적인 X선 회절 분석기

내장형 터치스크린을 몇 번만 누르면 언제든지 결과가 표시됩니다.

샘플 로딩	외부 샘플 로딩
Sample holders	모든 요구 사항을 충족할 수 있는 다양한 최대 크기의 샘플 홀더
샘플 변경	수동 로딩 도크, 6위치 시료 주입기 또는 67위치 대용량 시료 주입기 중에서 선택
자동화	자동화 통합과 호환

파장	Cu / Co
Tube setting	30kV 또는 40kV 설정에서 300W~600W 옵션
Tube housing	부식 방지 입사 스마트 빔 경로 기술(CRISP)을 사용한 특허받은 설계 CRISP 기술은 X선이 유발하는 이온화 공기로 인한 입사빔 경로에서 부식을 방지합니다. 특허 번호 US 8437451 B2

Base configuration	수직 측각기, 결합 및 분리 θ-θ, 샘플은 항상 수평
Geometry	Bragg-Brentano, 투과, 입계각 입사
Radius	145 mm
Maximum 2θ range	-4° < 2θ ≤ 142°(스캐닝 검출기 및 전체 활성 길이)
Angle positioning	수명 주기 위치 지정 정확도로 직접 광학 위치 감지(DOPS3)
Scan Speed	최대 2.17°/초
해상도	LaB6에서 < 0.04° 2θ(0.01rad Soller 슬릿)
2θ linearity	< 0.04° 2θ
Smallest addressable increment	0.001 °

Spinning	스피너 단계 선택
Non-ambient	가열 단계 옵션(BTS-500, BTS-150)
Exchange of stages	정렬이 불필요한 PreFIX 단계 교체
Special stages	요청 시(수동, MPSS, 현장)
검출기	PIXcel^1D, PIXcel^3D 및 1Der 검출기 중에서 선택

크기	690 x 770 x 786 mm
Dust protection	외부 샘플 로딩이 가능한 폐쇄 시스템
External cooling water supply	필요 없음
Compressed air supply	필요 없음
전원 공급 장치	100~240V, 단상
컴퓨터	내부 기기 PC
작동	10.4인치 터치스크린의 직관적인 사용자 인터페이스
인터페이스	LAN, USB, HDMI