Aeris Guía de usuario
버전 번호: 8
Aeris XRD가 광산, 금속 등의 재료 분석을 어떻게 변화시키는지 알아보세요. 자세히 알아보기
자세히 알아보기Aeris 광물 모델인 탁상용 X선 회절 분석기는 광업에서 누구나 광석의 다목적 분석을 할 수 있게 해줍니다.
광석과 광물의 효과적인 가공
XRD는 가장 경제적인 공정 조건을 위해 습식제련 모델을 위한 정확한 광물 모니터링 및 입력 정보를 제공합니다.
Aeris 광물 모델은 원재료부터 최종 제품까지 생산 공정 전 과정의 파트너입니다.
신속한 분석으로 피드백 루프가 최소화되고 공정 최적화를 위한 빠른 개입이 가능해집니다. Aeris의 일반적인 측정 시간은 샘플당 10분 미만입니다.
분석 장비의 가동 시간은 믿을 수 있는 공정 제어에 있어서 핵심입니다. Aeris는 처음부터 가동률을 최대화하는 데 목표를 두고 설계되었습니다.
가장 직관적인 X선 회절 분석기
내장형 터치스크린을 몇 번만 누르면 언제든지 결과가 표시됩니다.
| 샘플 로딩 | 외부 샘플 로딩 |
|---|---|
| Sample holders | 모든 요구 사항을 충족할 수 있는 다양한 최대 크기의 샘플 홀더 |
| 샘플 변경 | 수동 로딩 도크, 6위치 시료 주입기 또는 67위치 대용량 시료 주입기 중에서 선택
|
| 자동화 | 자동화 통합과 호환 |
| 파장 | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | 30kV 또는 40kV 설정에서 300W~600W 옵션 |
| Tube housing | 부식 방지 입사 스마트 빔 경로 기술(CRISP)을 사용한 특허받은 설계
CRISP 기술은 X선이 유발하는 이온화 공기로 인한 입사빔 경로에서 부식을 방지합니다. 특허 번호 US 8437451 B2
|
| Base configuration | 수직 측각기, 결합 및 분리 θ-θ, 샘플은 항상 수평 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, 투과, 입계각 입사 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142°(스캐닝 검출기 및 전체 활성 길이) |
| Angle positioning | 수명 주기 위치 지정 정확도로 직접 광학 위치 감지(DOPS3) |
| Scan Speed | 최대 2.17°/초 |
| 해상도 | LaB6에서 < 0.04° 2θ(0.01rad Soller 슬릿) |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 스피너 단계 선택 |
|---|---|
| Non-ambient | 가열 단계 옵션(BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | 정렬이 불필요한 PreFIX 단계 교체 |
| Special stages | 요청 시(수동, MPSS, 현장) |
| 검출기 | PIXcel1D, PIXcel3D 및 1Der 검출기 중에서 선택 |
| 크기 | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 외부 샘플 로딩이 가능한 폐쇄 시스템 |
| External cooling water supply | 필요 없음 |
| Compressed air supply | 필요 없음 |
| 전원 공급 장치 | 100~240V, 단상 |
| 컴퓨터 | 내부 기기 PC |
| 작동 | 10.4인치 터치스크린의 직관적인 사용자 인터페이스 |
| 인터페이스 | LAN, USB, HDMI |
버전 번호: 8
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버전 번호: 6
버전 번호: 7
버전 번호: 8
버전 번호: 8
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버전 번호: 2
버전 번호: 4
버전 번호: 3
버전 번호: 2
버전 번호: 4
버전 번호: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
기기가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 기기가 최적의 기능을 발휘할 수 있도록 보장합니다.
평생 서비스
공정에 가치 추가
Aeris 광물 모델인 탁상용 X선 회절 분석기는 광업에서 누구나 광석의 다목적 분석을 할 수 있게 해줍니다.
광석과 광물의 효과적인 가공
XRD는 가장 경제적인 공정 조건을 위해 습식제련 모델을 위한 정확한 광물 모니터링 및 입력 정보를 제공합니다.
Aeris 광물 모델은 원재료부터 최종 제품까지 생산 공정 전 과정의 파트너입니다.
신속한 분석으로 피드백 루프가 최소화되고 공정 최적화를 위한 빠른 개입이 가능해집니다. Aeris의 일반적인 측정 시간은 샘플당 10분 미만입니다.
분석 장비의 가동 시간은 믿을 수 있는 공정 제어에 있어서 핵심입니다. Aeris는 처음부터 가동률을 최대화하는 데 목표를 두고 설계되었습니다.
가장 직관적인 X선 회절 분석기
내장형 터치스크린을 몇 번만 누르면 언제든지 결과가 표시됩니다.
| 샘플 로딩 | 외부 샘플 로딩 |
|---|---|
| Sample holders | 모든 요구 사항을 충족할 수 있는 다양한 최대 크기의 샘플 홀더 |
| 샘플 변경 | 수동 로딩 도크, 6위치 시료 주입기 또는 67위치 대용량 시료 주입기 중에서 선택
|
| 자동화 | 자동화 통합과 호환 |
| 파장 | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | 30kV 또는 40kV 설정에서 300W~600W 옵션 |
| Tube housing | 부식 방지 입사 스마트 빔 경로 기술(CRISP)을 사용한 특허받은 설계
CRISP 기술은 X선이 유발하는 이온화 공기로 인한 입사빔 경로에서 부식을 방지합니다. 특허 번호 US 8437451 B2
|
| Base configuration | 수직 측각기, 결합 및 분리 θ-θ, 샘플은 항상 수평 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, 투과, 입계각 입사 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142°(스캐닝 검출기 및 전체 활성 길이) |
| Angle positioning | 수명 주기 위치 지정 정확도로 직접 광학 위치 감지(DOPS3) |
| Scan Speed | 최대 2.17°/초 |
| 해상도 | LaB6에서 < 0.04° 2θ(0.01rad Soller 슬릿) |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 스피너 단계 선택 |
|---|---|
| Non-ambient | 가열 단계 옵션(BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | 정렬이 불필요한 PreFIX 단계 교체 |
| Special stages | 요청 시(수동, MPSS, 현장) |
| 검출기 | PIXcel1D, PIXcel3D 및 1Der 검출기 중에서 선택 |
| 크기 | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 외부 샘플 로딩이 가능한 폐쇄 시스템 |
| External cooling water supply | 필요 없음 |
| Compressed air supply | 필요 없음 |
| 전원 공급 장치 | 100~240V, 단상 |
| 컴퓨터 | 내부 기기 PC |
| 작동 | 10.4인치 터치스크린의 직관적인 사용자 인터페이스 |
| 인터페이스 | LAN, USB, HDMI |
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버전 번호: 3
버전 번호: 2
버전 번호: 4
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More information can be found in the Release and Installation Notes.
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기기가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 기기가 최적의 기능을 발휘할 수 있도록 보장합니다.
평생 서비스
공정에 가치 추가