X선 분석

X선 형광 및 X선 회절 기기를 사용한 X선 분석 기법

많은 생산 또는 R&D 환경에서 X선을 사용하여 물질과 시료를 특성화할 수 있습니다. X선 파장 범위(0.01~10nm)는 원자 수준에서 구조 및 요소를 분석하는 데 매우 적합합니다. X선을 사용하여 시료 특성을 분석하는 몇 가지 주요 기술이 있습니다. 

XRD 분석 

예를 들어 X선 회절(XRD) 및 X선 산란을 사용하여 시료의 결정 구조(X선 결정화)를 분석하거나 시료의 결정상(X선 분말 회절/XRPD)을 식별 및 정량화할 수 있습니다. XRD 장비는 물체의 내부 구조를 시각화하기 위한 도구와 액세서리로 확장할 수도 있고, X선 산란을 사용하여 나노입자의 크기 분포를 결정할 수도 있습니다.    

XRF 분석 

X선 형광(XRF)은 시료 전처리가 최소한으로만 필요한 물질의 원소 조성을 결정하기 위해 널리 사용되는 비파괴 및 고속 기술입니다. XRF 분석기는 수입품의 독성 원소 선별 검사부터 처리량이 많은 생산 핵심 환경의 정밀한 분석에 이르기까지 다양한 분야에 사용할 수 있습니다. Malvern Panalytical은 고객의 문제를 해결할 수 있는 다양한 XRF 분석기를 보유하고 있습니다

XRD와 XRF 비교 - 무엇이 가장 적합합니까?

XRD와 XRF는 X선 소스와 X선 검출기를 모두 사용하는 면에서 여러 모로 유사한 보완적 기법이지만, 두 가지 기법에서 제공하는 정보는 매우 다릅니다. 

XRD는 시료에 존재하는 결정상에 대한 정보를 제공하며, 화합물을 구분할 수 있습니다. 다양한 산화 상태(Fe2O3/Fe3O4) 또는 여러 가지 다형성(반질성 vs 마헤마이트, 둘 다 페릭 옥사이드 Fe2O3) 간의 구분을 예로 들 수 있습니다. 

XRF는 시료의 화학적(원소) 조성, 즉 어떤 원소(Fe, O)가 있고 양이 얼마큼인지에 대한 정보를 제공합니다. XRF의 주요 장점 중 하나는 화학 원소의 양을 100ppb(10억분율)까지 검출할 수 있다는 것입니다. XRF 시료 전처리도 다른 기법에 비해 빠르고 쉽고 안전합니다. 

Malvern Panalytical의 X선 분석 솔루션

Malvern Panalytical은 수십 년 간의 경험을 갖춘 세계 최고의 X선 분석 장비 공급업체입니다. 당사는 사용이 간편한 탁상용 시스템부터 XRF와 XRD를 위한 전력의 종합적인 직립형 시스템에 이르기까지 다양한 솔루션을 제공합니다. 이러한 기술은 무료로 제공되며 많은 생산 관리 환경에서 최적의 품질 보증을 위해 두 가지 유형의 장비가 모두 사용됩니다.