物理學與應用物理學

了解我们的解决方案如何能够提高您对物理学与应用物理学的认识

想利用我们的分析解决方案增进您对物理学与应用物理学的了解吗? 我们提供了大量有用的文章,介绍了与我们的物理学研究解决方案高度相关的应用例子,无论您是学生、研究人员还是教授,均可从中获益。

该领域所研究的材料和所使用的分析设备通常与化学与应用化学以及材料科学与工程领域的应用重叠,因此请查看这些页面以了解更多有用信息! 有关方法缩写的解释,请参见此页面的底部。

物理学中还研究和发明了仪器和分析方法。 这里我们只介绍与浓缩物质物理学研究相关的应用。 我们的仪器和研究科学家在科学期刊上发表了著作。 如果您在查找与我们仪器所依据的物理学技术(例如 X 射线散射、X 射线荧光、激光衍射或动态光散射)有关的研究级质量资料时需要帮助,请联系我们。

物理学与应用物理学

应用物理学研究包括:

  • 纳米颗粒和纳米技术
  • 胶体科学
  • 光学材料
  • 生物物理学
  • 材料物理学
  • 凝聚态物理学
  • 超导体
  • 半导体
  • 光电
  • 电磁材料


我们汇总了一些文章,举例说明了我们的分析方法可以在哪些领域提供物理学研究解决方案。 敬请查看,了解更多信息!

物理学与应用物理学

方法

样品

应用说明标题(链接)

陶瓷粉末、玻璃熔片 - 颗粒粒度

LD

陶瓷粉末、玻璃熔片

使用激光衍射粒度分析法检测陶瓷粉末中的超大颗粒

玻璃 - 元素分析

XRF

苏打玻璃/显微镜载玻片

苏打玻璃中的主量、微量和痕量化合物分析

磁性合金 - 晶体结构与温度

XRD

MnBi

高分辨率晶体学:研究新型永磁体

磁性纳米晶体 - 粒度/簇大小

DLS

Fe3O4 胶体纳米晶簇 (CNC)、Fe3O4@SiO2 胶体的烷醇溶液

使用 Zetasizer Nano 表征磁调胶体光子晶体

纳米颗粒 - 晶相和粒度

XRD/SAXS/PDF

TiO2 纳米粉末、TiO2 锐钛矿和金红石

使用实验室 X 射线衍射仪进行多技术纳米颗粒表征

磷光体 - 颗粒粒度和形状

成像技术

聚合物中的磷光体颗粒

使用 Sysmex FPIA-3000 表征 LED 照明下的磷光体颗粒

量子点 - 粒度、分子量和 Zeta 电位

DLS/ELS

量子点、CdSe 晶核与用羧基或聚乙二醇 (PEG) 功能化的 ZnS 壳

使用 Zetasizer Nano 测量量子点

量子点 - 表面体积比

XRD

胶体 CdS 量子点

胶体量子点上的 SAXS

单晶 - 取向

XRD

钨酸镉(单晶)

单晶钨酸镉的取向

玻璃上的薄膜 - 厚度和粗糙度

XRD

硼硅酸盐 (BK7) 玻璃上的离子镀 (IP) 和反应蒸发 (RE) TiO2

对玻璃上的薄层进行表征

名詞說明

我們的產品與技術在產品頁面提供相關說明。您可在下方找到我們儀器量測屬性的快速參考連結,以及量測名稱及其縮寫。進入以下連結來深入瞭解! 

英文縮寫

方法名稱

儀器

測量的特性

DLS (DLS)

動態光散射技術 (DLS)

Zetasizer

分子大小、流體力學半徑 RH、粒子大小、大小分佈、穩定性、濃度、凝聚度

ELS

電泳光散射技術

Zetasizer

Zeta 界面電位、粒子電荷、懸浮穩定性、蛋白質活動力

ITC

等溫滴定熱分析法

MicroCal  ITC

結合親和力、溶液分子反應熱力學

DSC

差示掃描量熱法

Microcal DSC

大分子變性 (重新摺疊)、大分子穩定性

GCI

光柵耦合干涉法 (GCI)

Creoptix WAVEsystem

使用無標記法進行即時結合動力學與結合親和力分析

IMG

自動影像分析

Morphologi 4

粒子成像、自動形狀與大小量測

MDRS

形貌導向拉曼光譜技術

Morphologi 4-ID

粒子成像、自動形狀與大小量測、化學識別與污染物偵測

LD

雷射繞射

Mastersizer

Spraytec

Insitec

Parsum

適用分析的材料

NTA:

奈米粒子追蹤分析

NanoSight

粒子大小、大小分佈及濃度

SEC  或   GPC

尺寸篩選層析法 (SEC)

凝膠滲透層析法

OMNISEC

分子大小、分子量、減數狀態、聚合物或蛋白質大小及分子結構

SPE

經由熔融法進行樣本製備

Le Neo

LeDoser

Eagon 2

The OxAdvanced

M4

rFusion

適合 XRF 熔融樣本製備、適合 ICP 過氧化物溶液製備、適合熔融樣品通率加權

UV/Vis/NIR/ SWIR

紫外光 / 可見光 / 近紅外線 / 短波紅外線光譜儀

LabSpec

FieldSpec

TerraSpec

QualitySpec

材料識別與分析、濕度、礦物質、碳含量。空中及衛星光譜技術的地面實況。

PFTNA

脈衝快速熱中子活化

CNA

即時元素分析

XRD-C

X 光繞射 (晶體學)

Aeris

Empyrean

分子結晶結構精算、

結晶相識別與定量、結晶與非結晶比例、結晶體尺寸分析

XRD-M

X 光繞射 (微結構)

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

殘餘應力、織構 (Texture)

XRD-CT

由斷層掃描所產生的 X 光吸收成像

Empyrean

固體、孔隙和密度 3D 成像

SAXS

小角度 X 光散射 SAXS

Empyrean

奈米顆粒、尺寸、形狀與結構

GISAXS

低掠角小角度 X 光散射

Empyrean

奈米結構薄膜與表面

HR-XRD

高解析度 X 光繞射

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

薄膜與多磊晶層、組成、應力、厚度、品質

XRR

X 光反射法

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

薄膜與表面、薄膜厚度、表面與介面平整度

XRF

X 光螢光光譜儀 (XRF)

Epsilon

Zetium

Axios FAST

2830 ZT

元素成分、元素濃度、微量元素、污染物偵測