納米粒子特徵化的所有資訊

經過 Myung-hee Hong, Friday, 3rd July 2015 人工智慧翻譯

納米粒子特徵化的必要資源

在執行所有分析和實驗之前，理解基本理論是最重要的。在Malvern，我們提供關於納米粒子特徵化的所有基礎和入門資料。所有資料均可在Malvern的網站資料中心獲得，並且可以查看納米粒子特徵的應用資料和最新技術趨勢。■ DLS：動態光散射
– 技術說明：
• 動態光散射方法的基礎理論介紹
• Zeta電位的基礎理論及其影響因素
– 白皮書：
• 介紹動態光散射方法中使用的常見術語
• 動態光散射微流變學理論及概述
– 視頻：介紹簡便多用途的動態光散射系統
■ NTA：納米粒子追蹤分析
– 記錄的網絡研討會：納米粒子追蹤分析技術的介紹和新視角
– 電子書：數千種納米粒子追蹤分析的應用
– 視頻：90秒內了解納米粒子追蹤分析技術視頻

使用Malvern進行納米粒子分析

• 動態光散射 (DLS)：Zetasizer Nano 系列
Zetasizer Nano 設備是市面上最便於使用的系統之一，用於膠體、納米粒子和大分子的特徵分析。
• 膠體及乳狀液特徵分析
• 蛋白制劑及普遍產品的穩定性評估，改進產品的儲存壽命
• 改善油墨、碳粉及顔料的性能

• 納米粒子追蹤分析(NTA)：NanoSight系列
NanoSight 系列提供高解像度的粒徑分佈，能對10nm到2000nm的納米粒子單個測量並將其可視化。
• 用於開發藥物運輸系統及研究各種疾病狀態的細胞外囊泡特性
• 病毒疫苗研究
• 聚合物、膠體、噴墨墨水及顔料特性的研究

{{ product.product_name }}