XRD，X射線繞射分析軟體：HighScore！

X射線繞射分析的最全面軟體

材料研究和生產的成功取決於在過程的多個階段獲得的樣品的高質量結果。

確認測量數據的準確性和無異常非常重要。此外，以智能和徹底的方式分析這些數據以獲得乾淨、準確且具有代表性的結果是必不可少的。

什麼是X射線繞射？

X射線繞射(XRD)是一種多用途無損分析技術，用於分析粉末、固體和液體樣品的相組成、晶體結構和方向等物理特性。許多物質由小的結晶組成。

這些結晶的化學組成和結構類型稱為“相”。物質可以是單相或多相混合物，並且可以包含結晶和非結晶成分。

從X射線繞射分析儀中，不同的晶相會產生不同的繞射圖樣。

通過將未知樣品獲得的X射線繞射圖樣與參考數據庫中的圖樣進行比較，可以識別相。這個過程類似於法庭中指紋的比對。最全面的化合物數據庫由ICDD（國際繞射數據中心）維護。

此外，可以通過測量的純相繞射圖樣、科學文獻中發佈的圖樣或自我測量來構建參考數據庫。來自多相混合物的多個相的圖樣的相對強度用於確定樣品的整體組成。

HighScore的最新信息

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目前使用的是版本5.3。如果已經有版本5.0或5.1, 可以獲得免費更新。

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