顆粒形狀

不只是顆粒尺寸測量

顆粒形狀

除了顆粒尺寸之外,顆粒形狀也可能顯著影響各類顆粒材料的效能及製程處理。

Malvern Panalytical 顆粒特性分析系統的成像分析產品陣容可用以測量 0.5 微米至數毫米大小之乾濕分散樣品的顆粒形狀。 

Morphologi 系列

為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統
Morphologi 系列

產品應用

可透過顆粒形狀測量改善產品效能的應用包括:

  • 錠片及懸浮液中藥物顆粒的生物利用率
  • 金屬及陶瓷燒結元件的材料強度
  • 碳粉與錫膏印刷品質
  • 層析管柱填充行為
  • 礦物質塗層品質
  • 用於太陽能板製造的碳化矽研磨料切割效能

奈米大小顆粒

小角度 X 光散射 (SAXS) 測量可用以研究奈米大小顆粒的形狀。 

此測量類型可用以判定生物高分子的 (低解析) 套模形狀。通常只要材料中包含的結構特徵在奈米長度尺度上介於 1-100 nm 的範圍之間,即可觀察到 SAXS 訊號。

SAXS 是最多樣化的技術之一,可分析奈米材料的結構特性。 

動態成像

想要將雷射繞射與動態成像搭配使用? 

敬請參考 Mastersizer 系列動態成像配件 Hydro Insight

Hydro Insight 是一款動態成像配件,除了粒徑分佈外,還能帶您深入瞭解顆粒影像和定量顆粒形貌的數據。 

我們的產品如何比較

  • Morphologi 系列

    為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統

    Morphologi 系列

    量測類型

    • 顆粒形狀
    • 顆粒尺寸

    粒度范围

    • 0.5 µm - 1300µm

    技術類型

    • 影像分析
    • X光散射
  • Empyrean Nano 版

    多功能 X 射线散射平台

    Empyrean Nano 版

    量測類型

    • 顆粒形狀
    • 顆粒尺寸

    粒度范围

    • 1 - 100 nm

    技術類型

    • 影像分析
    • X光散射