Parsum IPP 70-SE

用于实时测量的安全型线内颗粒测定探头

紧凑轻便、易于安装的IPP-70-SE是一种可进行实时粒度及速度测量的本质安全型探头,测量的固体颗粒粒度达6000 µm。 该探头防尘防水且无需采样或校准,可在气体或粉尘区域危险环境中以高固体负荷或波动固体负荷进行连续性工艺监测。

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概述

本质安全型Parsum IPP 70-SE可用于化学、食品及医药行业中的终点检测、工艺控制/优化以及实时质量控制。 适合在如磨碎、团聚、造粒、筛分以及喷雾干燥等设备操作中使用。

  • 轻巧且便于安装,可与新型加工设备或现有加工设备快速整合。    
  • 动态检测范围宽—粒度为50 - 6000µm的颗粒,高达50m/s的速率检测。    
  • 对高固体负荷测量结果重复性高,即使是无规律移动的颗粒,是流化床监测的理想产品。    
  • 通过综合型、客制化软件进行实时测量及反馈。    
  • 无需采样或校准。    
  • 多种附件,可应用于研磨类、油脂类、粘性及附着性颗粒。    
  • 经ATEX 100认证。

工作原理

Parsum IPP 70-SE探头采用成熟的空间滤波测速测量理论。 无需校准或采样且无颗粒为球型的假设。 探头本身可用于0、1以及2、20、21与22区,配有用于1区及21区的电子器件外壳。

空间滤波测速是一种以数字为基础的弦长测定法,通过收集各个颗粒的数据,得出颗粒粒度分布。

测量原理

穿过激光束坠落的颗粒投射出一片阴影,中断了至线性监测器阵列(由光纤组成)的光线流。 由空间滤波检测器线性相邻纤维元件的连续中断来计算颗粒的速度。 采用第二信号—脉冲信号来确定粒度,即测量颗粒阻挡一个信号光纤的时间长度。 

测量大量颗粒可得出令人满意的可靠结果,从而根据用户需要,导出各种粒度参数以及体积分布的参数。 

Parsum IPP 70-SE可直接安装在管线内或容器内。 虽然无需备制样品,但可采用内部压缩空气来分散聚颗粒,保持样品池与光学器件无附着的颗粒,同时可在高固体负荷及高温下进行测量。 

信息从测量区域通过光纤电缆传递至探头的电子外壳,增加了仪器的稳健性。 然后,数据可传递至控制室或现有的控制系统,进行工艺监测及控制。 由于该仪器在传感区进行集中测量,可采用适合的关联性对流量的变化进行预测。

技術指標

颗粒粒度

测量范围: 50-6000µm

颗粒速度

测量范围: 0.01 – 50m/s

常规

测量原理: 空间滤波测速仪
光源 670nm
激光安全: 1 类

运行环境

温度 10°C – 60°C
湿度 35% - 80%无冷凝
外壳防护等级 IP 65

附件

D23 线内喷射器 (4mm)

用于精细颗粒工艺的线内分散器。

D23样品分散器稀释并分散从工艺中选取的材料,同时将其送至IPP 70探头测量区域。 使用Dv50对50至1200µm的颗粒进行可靠的测量,特别适合在流化床中进行直接测量。

D11 线内分散器 (8mm)

用于粗颗粒及高固体负荷的线内分散装置

D11样品分散器稀释并分散从工艺中选取的材料,同样将其送至测量区域。 确保对高固体负荷的工艺内粗颗粒进行坚固耐用的准确测定,例如:造粒。

近线测量站

用于工艺应用的近线式颗粒测定。

与Parsum IPP70-S或IPP70-SE探头结合使用的近线式测量站,可以对试验室或设备上的工艺样品进行快速有效地颗粒测定。

4 –20 mA接口板(8通道)

自Parsum探头到中央控制系统的有效数据传递。

有效数据传递至中央控制系统,用于自动化或数据显示。 八个通道可供于四个探头使用,与计算机安装距离可达100米。

支持

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