Parsum IPP 70-SE

概述

本质安全型Parsum IPP 70-SE可用于化学、食品及医药行业中的终点检测、工艺控制/优化以及实时质量控制。 适合在如磨碎、团聚、造粒、筛分以及喷雾干燥等设备操作中使用。

• 轻巧且便于安装，可与新型加工设备或现有加工设备快速整合。    
• 动态检测范围宽—粒度为50 - 6000µm的颗粒，高达50m/s的速率检测。    
• 对高固体负荷测量结果重复性高，即使是无规律移动的颗粒，是流化床监测的理想产品。    
• 通过综合型、客制化软件进行实时测量及反馈。    
• 无需采样或校准。    
• 多种附件，可应用于研磨类、油脂类、粘性及附着性颗粒。    
• 经ATEX 100认证。

工作原理

Parsum IPP 70-SE探头采用成熟的空间滤波测速测量理论。 无需校准或采样且无颗粒为球型的假设。 探头本身可用于0、1以及2、20、21与22区，配有用于1区及21区的电子器件外壳。

空间滤波测速是一种以数字为基础的弦长测定法，通过收集各个颗粒的数据，得出颗粒粒度分布。

穿过激光束坠落的颗粒投射出一片阴影，中断了至线性监测器阵列（由光纤组成）的光线流。 由空间滤波检测器线性相邻纤维元件的连续中断来计算颗粒的速度。 采用第二信号—脉冲信号来确定粒度，即测量颗粒阻挡一个信号光纤的时间长度。 

测量大量颗粒可得出令人满意的可靠结果，从而根据用户需要，导出各种粒度参数以及体积分布的参数。 

Parsum IPP 70-SE可直接安装在管线内或容器内。 虽然无需备制样品，但可采用内部压缩空气来分散聚颗粒，保持样品池与光学器件无附着的颗粒，同时可在高固体负荷及高温下进行测量。 

信息从测量区域通过光纤电缆传递至探头的电子外壳，增加了仪器的稳健性。 然后，数据可传递至控制室或现有的控制系统，进行工艺监测及控制。 由于该仪器在传感区进行集中测量，可采用适合的关联性对流量的变化进行预测。

技術指標

颗粒粒度

测量范围：	50-6000µm

颗粒速度

测量范围：	0.01 – 50m/s

常规

测量原理：	空间滤波测速仪
光源	670nm
激光安全：	1 类

运行环境

温度	10°C – 60°C
湿度	35% - 80%无冷凝
外壳防护等级	IP 65