強強聯手：SciAps 是 Malvern Panalytical 旗下公司
概述
SciAps X-550 含電池僅重1.35 公斤 (2.98 磅)，是迄今為止最輕量、最快速且分析精準度最高的手持式 X 光螢光 (XRF) 分析儀。
X-550 以完美平衡的設計，實現了 SciAps X 系列的小巧體積、極速偵測與高精度分析效能。其偵測速度於所有合金 (包括鋁合金) 皆表現卓越。X-550 搭載行業最強 X 光管，適用於 NDT 與回收材料分析，其 Beam 2 設定操作功率可達 SciAps X-505 及其他所有手持式 XRF 分析儀的 3 倍。
獨特幾何與頂級 X 光管功率設計，專為低原子序測量應用進行效能最佳化，涵蓋硫化腐蝕 (低矽環境)、磷與硫，及鋁合金成分分析，以及 API 751 與 5L 規格的殘留物分析應用。
使用 X-550 Enviro/HUD 進行土壤測試示範
SciAps 團隊展示 X-550 如何成為環境/HUD 測試的終極工具。
產品應用
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- NDT-PMI
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可於 1 秒內完成多數合金的 PMI 偵測，並具備卓越精準度。
可於 1 秒內完成多數合金的 PMI 偵測，並具備卓越精準度。部分 NDT-PMI 應用需較長測試時間或多光束測試。我們的 Android 應用程式平台提供預先設定的專用應用程式，使每位操作員都能像使用智慧型手機一樣輕鬆進行品質測試 – 包括殘餘物偵測 (API 751)、硫化腐蝕偵測 (API 939)、API 5L 及其他測試。閱讀 X-550 合金規格。
針對關鍵 PMI 應用 (如殘餘物與硫化腐蝕偵測) 進行最佳化。
對於多數 PMI 應用而言，快速測試已足以驗證合金等級與地球化學成分。較複雜的應用需較長測試時間或多光束操作 (一光束最佳化用於過渡金屬與重金屬；另一光束用於低原子序元素，如 Mg、Si、Al、P 與 S)。專用應用程式可確保測試遵循正確流程，例如建議的測試時間與 X 光光束設定。舉例而言，殘餘物偵測應用程式預設為 15 秒測試時間，因需測量 Ni、Cr 與 Cu 含量各 <0.03% (總和 <0.15%)，以及 Nb 與 V 含量 <0.02%。硫化腐蝕偵測應用程式預設需進行雙光束測試，以測量鋼材中低至 0.03% 的 Si 含量。
專為 NDT 與 PMI 使用者設計，可觸及難以測試的區域與焊縫。
完美平衡、輕量且靈巧的設計，讓您能全天測試而不疲勞。窄型設計可觸及幾乎所有測試點與焊縫。
- 廢料處理
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尤其擅長高溫合金與貴金屬偵測。
與多數 XRF 設備相同，X-550 能對多種高溫合金、不鏽鋼、紅銅金屬及貴金屬提供快速精準的化學成分分析。與眾不同之處在於這款金屬架構分析儀兼具卓越韌性，同時保持難以置信的輕量化 (< 3 磅) 與完美平衡設計。可全天進行分類偵測而不感到疲勞。內建手機級微距攝影機，可對測試材料進行照片記錄；藍牙標籤印表機能即時輸出含時間戳記、等級 ID 與化學成分的實體標籤。
配備鋁合金專用應用程式：可在 1-2 秒內完成所有 Al 合金分類。
若您從事廢料處理，選擇 X-550 而非 X-505 的關鍵理由在於其對鋁合金的極速與精準偵測能力。X-550 配備我們正在申請專利中的鋁合金應用程式。可在 1-2 秒內完成鋁合金分類，包括僅因鎂 (Mg) 含量差異而不同的合金。例如 3003/3004/3005、鑄造 356 與 357，以及 2014/2024 等合金，過去無法以其他 XRF 設備分類或需耗時數分鐘測試，如今皆能快速判別。現在能以經濟高效的方式分類多種相似 Al 合金牌號。
污染物磷與硫
X-550 的高功率 X 光管能快速分析銅中的磷 (P)，以及鋼與不鏽鋼中的磷與硫 (S)，讓您可根據低 P 與 S 含量經濟高效地提升銅材與黑色金屬的品級。X-550 在 P 與 S 的偵測速度上，比 X-505 或其他競爭對手 XRF 快三倍。更快的測試速度使提升低 P 與 S 材料品級的過程更經濟高效。
雜質元素
廢料處理已超越單純的牌號分類。如今許多消費者要求對普通鋼、鎳與銅合金中的雜質或殘餘元素進行分析。X-505 針對常見雜質元素實現低偵測極限最佳化，包括鋼中的 Cr、Ni、Cu、V、Nb、Mo，鎳合金中的 Pb 與 Bi，以及銅合金中的各類不良元素。
- 礦業
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現已開放用於勘探與礦石品位管控應用。X-550 在地球化學應用中的優勢在於能對礦石/土壤樣本中的低原子序元素 (包括 Mg、P、S、Al、Si、Ca 與 K) 進行極速分析。如需瞭解我們的勘探應用程式 (用於元素分析與探途元素偵測)，請與我們聯絡以取得詳細資訊。SciAps XRF分析儀已獲全球多家大型勘探公司與礦業實驗室服務公司採用。另可搭配緊湊型測試架，實現閉束操作模式。
- 土壤
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X-550 可配備用於環境土壤元素分析的應用程式。分析套件包含 8 種 RCRA 金屬與 12 種EPA 優先污染物金屬中的 11 種 (鈹除外 – 請使用我們的 LIBS 技術偵測)。X-505 符合長期沿用的 EPA Method 6200 標準。
- RoHS 應用
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X-550 可搭配我們的 RoHS 與無鹵素應用程式，提供對 RoHS 元素 (Pb、Cd、Br、總 Cr、Hg) 以及無鹵需求所需的 Cl 之快速精準分析。X-550 的高功率光管能提供比 X-505 更快速的 Cl 分析。
- 一般分析
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您是否有特殊的分析應用需求？X-505 可配備我們的經驗分析法應用程式，讓使用者能設定獨特的光束條件、定義特定目標元素，並建立自訂校正曲線。針對合金、礦石與聚合物領域以外的分析需求，X-505 搭配經驗分析法應用程式能為特殊或專屬分析需求提供完全彈性的解決方案。
簡要比較：X-550 相較於 X-505
頂級 X-550 與高效能 X-505 型號之間有何差異？ 答案很簡單：在低原子序元素 (Mg、Al、Si、P 與 S) 測速能力上表現卓越。
X-550在「光束2」設定 (亦稱低電壓設定) 下的 X 光功率，約為 X-505 或其他手持式 XRF 分析儀的三倍。 這表示由 Mg、Al、Si、P 與 S (及其他應用中的 K、Ca 與 Cl) 測得的強度提升三倍，使偵測速度加快三倍。以下列舉幾項常見範例。
| 產品應用 | X-550 | X-505 | 註解 |
|---|---|---|---|
| 測量鋁合金中 0.3%的 Mg 含量 | 2 秒 | 7 秒 | 例如：區分 Al 合金 356 與 357 牌號。 |
| 測量鋼材中 0.1% 的 Si 含量 | 6 秒 (1s 光數 1；5s 光束 2) | 16 秒 (1s 光數 1；15s 光束 2) | 硫化腐蝕偵測要求鋼材中 Si 含量需 > 0.1%。 |
| 測量鋼或不鏽鋼中的 P 與 S 含量 | 在相同濃度下，偵測速度比 X-505 快約三倍。 | -- | 實際測試時間取決於 P 與 S 的具體濃度。 |
| 分析礦業樣本中的低原子序元素 | 測量 Mg、Al、Si、P、S、Ca 與 K 3x 的速度快於 X-505。 | 能有效測量這些元素，且速度與其他高階 XRF 設備相當。 | X-550 對主要金屬、硫化物及污染物 P 的偵測速度更快。 |
