SciAps X-555

業界最佳的偵測極限

  • 對關鍵元素 (如 Ag、Cd、Sn、Sb 與 Ba) 具備超低偵測極限
  • 配備 55 kV 強效 X 光管,支援最多 3 種自動化光束設定模式
  • 市場上最先進的手持式 XRF 技術

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先進手持式 XRF 技術

頂級效能始於最先進的手持式 XRF 技術。SciAps X-555 X 光螢光 (XRF) 分析儀配備 55 kV X 光管,可突破關鍵元素 (如 Ag、Cd、Sn、Sb 和 Ba) 的超低偵測限制。 

最多三組自動化光束設定,可為從 Mg 到 U 的完整週期表提供最佳效能。全部整合於堅固儀器中,搭載最先進的軟體與出色的散熱效能。

業界最佳的偵測極限

為何選擇 55 kV X 光管?有效激發輕稀土元素螢光發射所需的 X 光能量位於 40-48 keV 範圍。手持式裝置的典型 X 光管僅運作至 50 kV;因此,僅極小部分的 X 光能量可用於激發稀土元素。

透過將 X 光管操作電壓提升至 55 kV,可用於激發輕稀土元素及前兩種重稀土元素 (釓和銪) 的 X 光能量增加約 10 倍。雖然手持式 XRF 無法以足夠高的電壓有效測量所有重稀土元素,但 X-555 能提供高靈敏度的釔元素分析,該元素是重稀土元素的常見探路指標。

X-555 憑藉卓越的屏蔽技術與 4 公釐光束準直設計,可直接應用於岩石表面與岩心偵測。其亦可配備聯鎖測試支架,安全分析杯裝或袋裝樣本。

針對無干擾 (SiO2) 與極具挑戰性、含多重干擾元素的 OREAS 稀土礦樣本之偵測數值。偵測極限以 120 秒測試時間、背景值以上 3 標準差為基準。

元素 無干擾偵測極限的 SiO2 樣本 OREAS「真實世界」偵測極限樣本
La 13 15
Ce 15 19
Pr 18 34
Nd 27 33
Sm 30 35
Eu 60 120*
Gd 90 180*
*「真實世界」中 Eu 與 Gd 的偵測極限為推估值,並非基於 OREAS 樣本實測得出

在全球範圍內使用:X-555 應用

SciAps XRF 分析儀為史上最輕巧機型,含電池重量僅低於 3 磅。堅固的航空級鋁合金機身通過「意外防護測試」及從 35 英尺高塔墜落的極限測試。

重新設計的外殼搭配最佳化的散熱效能,滿足客戶對高通量測試的需求。

採用突破性窄身設計,可深入最嚴苛測試環境,並配備 2.7″ 後置顯示器,實現化學成分與牌號資料的精準呈現。

頂級輕元素分析效能,對 Mg、Al、Si、P 與 S 等元素實現超低偵測極限,同時具備足夠效能,對 Ag、Sn、Sb 等探路者元素及稀土元素等重元素達成卓越精準度。

X-555 配備專用濾波系統以最佳化靈敏度 - 其鎘元素偵測分析能力較其他 XRF 設備提升達到 2 倍!

它配備業界最強效的 X 光管,實現卓越的偵測極限 - 尤其針對鎘、銀、錫、銻與鋇元素。

搭配全新 Z-901 鈹窗偵測器,還能同步偵測 13 種 EPA 優先管控重金屬。操作員可將 Z-901 鋰窗偵測器升級,使偵測範圍擴增至鋰、硼、碳、氮、氟與鈉元素。

下載 X-555 GeoChem 規格

X-555 的核心功能涵蓋新一代連接性、測試資料管理與報告產生,全面適用於合規性偵測應用,包括 RoHS、無鹵素、CPSIA 及兒童遊樂場含鉛塗層偵測。

最先進的資料管理系統整合於靈活的 Android 平台,提供高度自訂與資料管理功能。 

提供 55 kV 操作電壓 (而非業界常見的 50 kV),使 X-555 在關鍵「輕」稀土元素及部分「重」稀土元素分析上展現更高效能,成為全球稀土元素分析的優選方案。

金屬分析

用于金属分析和合金制造的分析解决方案
金屬分析

土壤分析

在监管规范范围内监测和控制土壤质量
土壤分析

礦業解決方案

提高从勘探到矿物加工的回收率和工艺效率
礦業解決方案

規格

重量
2.98 磅(1.35 kg) 含電池
尺寸:
8.5 x 9.5 x 2.4 inches
显示屏
2.7 吋高亮度彩色電容式觸控螢幕,搭載 400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3D 圖形加速器。面向後方的顯示器,可便於輕鬆檢視,任何環境下皆清晰可讀
電功率
內建可充電式鋰離子電池,可在裝置內充電,或使用外部充電器、AC 電源。熱插拔功能 (更換電池時間最長 60 秒)
Data Transfer
WiFi、藍牙、USB 連線至大部分裝置,包括適用於 PC 或平板電腦的 SciAps Profile Builder 軟體
Security
受密碼保護的多使用者支援,存取權可設定
Excitation source
5 W X 光管。最大 55 kV,200 uA。Au 陽極。
偵測器
50 mm2 矽漂移偵測器 (有效感應區域),在 5.95 Mn K-alpha 射線下的 FWHM 解析度為 <140 eV。
分析器
1.2GHz ARM Cortex-A53 四核心,64/32 位元
RAM:2GB LPDDR3
儲存裝置:16GB eMMC
Pulse processor
12 位元,80 MSPS 8K 通道 MCA USB 2.0 數位速率,可將資料高速傳輸至主機處理器
以 FPGA 實現數位篩選技術,支援 20 nS - 24 uS 峰值時間的高通量脈衝處理
温度范围
10F 至 130F (-12C 至 54C) (25% 工作週期)。
法規測試
CE、RoHS、USFDA 註冊。加拿大 RED 法
应用
稀土元素的土壤與採礦
X-Ray filtering
6 位濾光片輪盤設計,用於光束最佳化
Calibration check
內部 316 不鏽鋼檢查標準,用於校準驗證及波長刻度驗證
Quantified elements
標準配置 32 種元素,具體元素依應用程式而異。可根據使用者要求追加偵測元素
校准类型
基礎參數。針對地球化學與環境土壤應用,使用者亦可選擇「康普頓正規化」方法及/或使用經驗導出的校準方式
Calibration check
外部 316 不鏽鋼檢查標準,用於校準驗證及能量刻度驗證

配件

強化您的分析

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將任何 Z 系列與我們業界領先的 XRF 裝置配對,即可對元素週期表中的每個元素和每個樣品類型,進行最佳分析。相同的電池、纜線、充電器和其他配件。

  • LIBS:分析 XRF 無法測試的元素:鋰、鈹、硼、碳、氟、鈉及其他。與 XRF 相比,鎂、鈣和鉀的效能有所提升。具有 100 um 雷射光斑大小的微量分析。  
  • XRF:非常適合過渡金屬和重金屬。易於使用,尤其適用於散裝、土壤和礦石類型的材料。
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強勁、緊湊的元素分析。

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