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Reserve your spot!近紅外線光譜法是一種高度彈性的分析形式，可以用於多種研究與工業製程應用
近紅外線 (NIR) 光譜法是一種高度彈性的分析形式，可以用於多種研究與工業製程應用。NIR 光譜法一直是遠端感測的標準技術，而在工業使用情境中可用以測量材料、最佳化製成以及管理成本，而且經濟實惠，在工業市場中廣受歡迎。
NIR 光譜法是一種利用電磁譜近紅外線區 (從約 700 到 2500 奈米) 的測量方法。透過測量從樣本散射和穿過的 光 ，NIR 反射光譜可用已快速測定材料的性質，並且不會對樣本造成改變。
NIR 可將測得的數據轉換為可據以行動的資訊，有助於最佳化製程或改善研究。NIR 能夠輕鬆檢驗不規則表面，且操作方式與處理經過仔細製備的樣本無異，不僅不會破壞樣本，亦可大幅減少樣本製備的相關作業需求。它也可透過單次掃描分析多種成分。
ASD FieldSpec 系列野外便携式光谱辐射仪 |
ASD LabSpec® 系列用于定性和定量材料分析的实验室仪器 |
ASD TerraSpec® 系列用于矿物勘探和矿石分析的便携式和手持式 NIR 分析仪 |
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| 量測類型 | |||
| 遙測 | |||
| 分子結構 | |||
| 精确度 | Spectral performance | Spectral performance | Spectral performance |
| 技術類型 | |||
| 近紅外線光譜 (NIR) | |||
