Aeris 研究專用機型

結合了高利用率和高性能，讓您在實驗室的工作進入全新境界 - 提供更好的數據結果和更深入的見解，讓您更有效率地得到答案、改善製程、增進知識，乃至推動科學領域的發展。

讓您有更多時間投入您更有興趣的科學研究

無論您研究的材料為何，快速獲取樣品的晶相成分資訊對您的研究至關重要。只要用 Aeris 研究專用機型進行 X 光繞射實驗量測，再搭配 HighScore 分析軟體就可以立即獲得大量的晶體資訊。支援多元化的量測配置，包括反射式、穿透式以及低掠角薄膜 X 光繞射 (GIXRD) 實驗，讓您即時掌握所有多晶體材料的最佳量測數據。