Epsilon Xline 結合了我們先進的能量分散式 XRF (EDXRF) 技術與線上功能。此先進解決方案能應用於捲對捲 (R2R) 塗佈製程，用以進行即時材料監測和製程控制。直接分析功能可用以針對材料成分和裝載持續進行最佳化，有助於將成品不符規格的情況降至最低，並且最大化成本效益。彈性靈活的 Epsilon Xline 可因應各種表面與元素，實現精準的製程控制。
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