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可在苛刻工业环境中使用的Insitec干式颗粒粒度分析仪，采用激光衍射技术测量0.1 µm至2500 µm的颗粒粒度。 Insitec干式分析仪通过选件进行配置，适合各种实际的干式颗粒工艺，提供24小时实时监测与控制，可用于：
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