Análise de Wafer WD XRF
Soluções para Análise de Desempenho de Dispositivos Semicondutores
No mundo da tecnologia em rápida evolução, tendências vêm e vão. Fitas de vídeo, discos compactos, telefones de carro, Walkman foram ‘inovações’ que alguma vez tiveram um grande impacto na sociedade, mas foram substituídas por engenharia mais sofisticada e elegante.

No entanto, há uma tendência tecnológica que permanece inalterada com o tempo: o tamanho. Em 2022, assim como todos os anos, “menor é melhor” continua em voga.
Desafios na Indústria de Semicondutores
Mas tornar-se menor também significa se tornar mais complexo. Mais desempenho tecnológico precisa ser incorporado em dispositivos e componentes cada vez menores. Este é um fluxo claro no mercado atual de semicondutores. Para atender às demandas em mudança nos setores de automóveis, computadores e armazenamento de dados, fabricantes estão sob pressão para criar dispositivos mais compactos e complexos.
Tecnologia menor, maiores requisitos
À medida que as camadas de semicondutores se tornam mais finas e complexas, as próprias técnicas de medição, como Medição por Raios X, se tornam mais complicadas. Melhorar a precisão tornou-se uma prioridade principal, exigindo soluções inovadoras para gerar resultados consistentemente confiáveis.
A indústria de semicondutores enfrenta vários desafios na metrologia de wafers por XRF. Isso inclui substratos variados, variabilidade de resultados entre equipamentos e fábricas, e camadas cada vez mais finas, incluindo materiais 2D. Consistência de ferramentas de metrologia semicondutora, monitoramento automático de qualidade, sensibilidade, etc., são todas considerações importantes. Então, como superar esses desafios e preparar as fábricas para o futuro da indústria?
Analisador de Wafer 2830 ZT
O Analisador de Wafer 2830 ZT é um espectrômetro de fluorescência de raios X dispersivo de comprimento de onda (WDXRF) que proporciona a solução ideal para medir a espessura e composição de filmes, resolvendo todos os desafios industriais mencionados acima.

Oferece análise XRF na faixa de 0.2 nm a 10 μm e pode processar substratos planos com diâmetro de até 300mm. O 2830 ZT é totalmente automatizado, em conformidade com ambientes de sala limpa, e é a solução mais estável para fábricas.
Esforços para Otimização Contínua
Malvern Panalytical está pronta para apoiar aqueles que trabalham na indústria de semicondutores. Estamos comprometidos em melhorar continuamente nossos equipamentos e desenvolver tecnologia inovadora. Não importa quanto tempo dure a escassez de microchips, estamos prontos com soluções de ponta para uma indústria que não pode esperar.
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