Análise de tensão residual

Melhora da segurança

A difração de raios X (XRD) é um método não destrutivo bem estabelecido para a determinação de tensão residual em materiais policristalinos. Induzida por usinagem ou tratamento térmico, por exemplo, a tensão pode se acumular durante a vida útil do material e causar falha inesperada de um componente técnico em uma construção mecânica. Por esse motivo, o controle da tensão residual é essencial para melhorar a segurança e a durabilidade de um material.


A tensão residual induz alterações pequenas no espaçamento da cela de cristal de um material, o que pode ser revelado pela XRD com uma alta sensibilidade. Na prática, a posição de um pico de difração adequado é medida em um determinado ponto sob várias orientações da amostra em relação ao feixe de raios X incidente. A partir daí, é possível determinar os espaçamentos da cela em diferentes direções e a deformação elástica relacionada. A tensão de tensionamento ou de compressão pode ser calculada a partir dos dados de tensão, levando em conta a constante elástica do material.

Aplicações versáteis para metais, cerâmicas, filmes finos etc.

A análise de tensão residual de difração de raios X (XRD) pode ser aplicada a uma ampla variedade de materiais policristalinos, como aço endurecido, juntas soldadas ou cerâmicas. Ela é usada como uma ferramenta de controle de qualidade, bem como em pesquisa acadêmica e industrial. Normalmente, nenhuma preparação da amostra especial é necessária.

Com a difração de raios X (XRD), é a tensão residual de superfície próxima (geralmente, em uma profundidade de alguns mícrons) que está sendo sondada. Filmes e revestimentos com espessura de submícron podem também ser investigados pelo uso de uma geometria de incidência rasante. Essa técnica também permite perfil profundo. 


É possível também mapear a tensão na superfície de um material usando um feixe de raios X incidente com um tamanho de ponto muito pequeno. Além disso, há soluções para medir amostras volumosas e pesadas, amostras curvas pequenas ou superfícies de amostras irregulares.

Variedades do Empyrean

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X'Pert³ MRD

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Versátil sistema XRD de pesquisa, desenvolvimento e controle de qualidade

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Tipo de medição
Forma da partícula
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Determinação de estrutura cristalina
Identificação de fase
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Detecção e análise de contaminantes
Análise de epitaxia
Rugosidade da interface
Estrutura/imagem 3D
Metrologia de filme fino
Tecnologia
X-ray Diffraction (XRD)