HTK 16N – high-temperature chamber
Para XRD de polvo en la geometría de reflexión con calentamiento rápido a 1600 °C
Solución completa para el análisis de rayos X in situ
El análisis de rayos X in situ, a menudo denominado análisis en condiciones no ambientales, es una de las aplicaciones clave para la investigación avanzada de materiales tanto en entornos académicos como industriales.
Cualquier propiedad macroscópica de un material está directamente relacionada con su propiedad estructural (p. ej., simetría cristalográfica, tamaño de cristalito, vacantes, tamaño y forma de nanopartículas o poros). La temperatura, la presión, la variación de la atmósfera de gas y la transformación de fase de activación de tensión mecánica, las reacciones químicas, la recristalización, etc.
Las técnicas de dispersión de rayos X (XRD) y dispersión de rayos X son la primera y, a veces, la única opción para la caracterización in situ correcta y exacta de estos cambios. Ya sea para la optimización de un proceso de fabricación o el ajuste de un procedimiento de síntesis, o para la investigación y creación de nuevos materiales de vanguardia, el análisis de rayos X in situ es la herramienta más completa para la resolución de problemas.
Descargue el folleto para obtener una descripción general de los accesorios no ambientales y su campo de aplicación.
