Fluorescencia de rayos X (XRF)
Espectroscopia de fluorescencia de rayos X y aplicaciones XRF
Cuantificación de concentraciones elementales mediante fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) y activación por neutrones térmicos por pulso rápido (PFTNA, por sus siglas en inglés)
En muchas aplicaciones, conocer la concentración elemental es un factor fundamental para controlar las propiedades materiales o para garantizar el cumplimiento de regulaciones sanitarias y de seguridad. Por lo tanto, a menudo no es suficiente tan solo detectar la presencia de elementos, sino que también es necesario cuantificar siempre sus concentraciones.
El grado de precisión requerido depende de la aplicación.
La fluorescencia de rayos X y la activación por neutrones térmicos por pulso rápido son técnicas analíticas no destructivas, estables y fáciles de usar para determinar la composición elemental de diversos materiales en una amplia gama de aplicaciones. Para cuantificar las concentraciones elementales con estas técnicas, las intensidades medidas se comparan con las intensidades de materiales de referencia certificados, o con estándares de cada empresa con concentraciones conocidas. Estos estándares deben asemejarse al material de la muestra al máximo posible para obtener resultados precisos. Las intensidades medidas también se ven afectadas por las propiedades físicas de la muestra y, así, se deben aplican varias correcciones de las que se encarga el software del usuario.
En muchas industrias, se requiere un análisis rápido de un material de muestra de composición desconocida sin tener estándares especializados.
En tales casos, el software de análisis sin estándares como Omnian puede utilizarse para determinar la composición elemental general y proporcionar valores semicuantitativos de las concentraciones elementales.
ZetiumExcelencia elemental |
Gama EpsilonAnálisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea |
Axios FASTAlto rendimiento de muestras |
2830 ZTSolución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores |
Gama de equipos CNAAnalizadores elementales en línea para un control eficaz de muchos procesos industriales |
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| Tipo de medición | |||||
| Metrología de película delgada | |||||
| Detección y análisis de contaminantes | |||||
| Identificación química | |||||
| Tecnología | |||||
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |||||
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
| Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA) | |||||
| Rango primario | |||||
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
| Resolución (Mg-Ka) | |||||
| Rendimiento de muestra | |||||
