Epsilon 4 para minería y minerales

Aumente la eficiencia del proceso y el índice de recuperación

  • Analizador XRF de sobremesa multifuncional
  • Diseñado para operaciones mineras, incluidas ubicaciones remotas
  • Análisis elemental de flúor (F) a americio (Am) en áreas de R

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Información general

La espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XRF) tiene una función analítica importante y bien establecida en la industria de la minería y los minerales. Se utiliza ampliamente para la exploración, el control de categoría, la supervisión del proceso y el cumplimiento de los límites de normas y regulaciones medioambientales respecto a la composición de desechos.

Los espectrómetros para mesas de trabajo Epsilon 4 se utilizan en operaciones mineras, incluso en ubicaciones remotas, para análisis de menas, minerales y rocas. La combinación entre exigencias bajas de infraestructura y el alto rendimiento analítico permite la rápida determinación de las estrategias de operación en ubicaciones mineras donde se limitan los servicios.

Descubra las posibilidades del análisis de XRF y reduzca el tiempo de retroalimentación de horas a minutos colocando el espectrómetro de XRF para mesas de trabajo junto a la mina o la planta de procesamiento.

Características

  • La potencia de XRF para mesas de trabajo: Si combina las tecnologías de excitación y detección más recientes con un diseño inteligente, el rendimiento analítico del Epsilon 4 se acerca más a los espectrómetros de piso más potentes. La excitación selectiva y la correspondencia cuidadosa de la salida del tubo de rayos X a las capacidades del sistema de detección forman la base del destacado rendimiento del sistema.

  • Funcionamiento autónomo: La combinación de un cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones con el centrifugador permite el procesamiento automático de lotes de muestras sin la necesidad de la participación del operador. La rotación continua de la muestra durante las mediciones minimiza los errores causados por la falta de homogeneidad o las irregularidades de la superficie dentro de muestras individuales y proporciona resultados más precisos. La transferencia automática de los datos a una ubicación central proporciona acceso a los últimos resultados.

  • Rapidez y sensibilidad: Las mediciones rápidas se logran con el uso de la tecnología más reciente de detector de deriva de silicio que produce intensidades significativamente mayores. La electrónica del detector única posibilita una capacidad lineal de velocidad de conteo alta de más de 1 500 000 cps (a tiempo muerto del 50 %) y una resolución independiente de velocidad de conteo generalmente mejor que 135 eV para una mejor separación de las líneas analíticas en el espectro. Esto permite que el espectrómetro del Epsilon 4 funcione a máxima potencia y, por lo tanto, que brinde un mayor rendimiento de la muestra en comparación con los instrumentos de EDXRF para mesas de trabajo tradicionales.

  • Menor consumo de helio: El alto rendimiento del Epsilon 4 permite que muchas aplicaciones se operen en una atmósfera de aire, sin tiempos prolongados ni costos relacionados con el helio o el mantenimiento del sistema de vacío. Cuando se mide en aire, los fotones de rayos X de baja energía característicos del sodio, magnesio y aluminio son sensibles a las variaciones en la presión y la temperatura del aire. Los sensores integrados de temperatura y de presión de aire compensan las variaciones medioambientales, lo que asegura resultados excelentes sin importar el clima.

Solución de óxido de rango amplio y flexible (WROXI)

Malvern Panalytical ha desarrollado un conjunto único de 15 estándares de óxido de rango amplio (WROXI), de elementos múltiples y sintéticos. Junto con el Epsilon 4, WROXI se puede utilizar para el análisis de elementos mayores y menores en gránulos fusionados. 

Con el algoritmo FP en el software Epsilon, la aplicación WROXI puede determinar las concentraciones de hasta 11 óxidos comunes en un amplio rango de rocas, menas y minerales.

Valor más allá del cumplimiento

La espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método seguro, rentable y altamente confiable, que se establece de forma correcta en la industria minera y de los minerales.

Con el uso del Epsilon 4 en las operaciones de procesamiento de minerales en línea, se ofrece una dirección rápida y eficiente en las plantas de beneficio de minerales.

Aplicaciones clave

Los espectrómetros Epsilon 4 pueden manejar una gran variedad de tipos de muestras, que van de unos pocos miligramos hasta muestras a granel más grandes. Las muestras se pueden medir de las siguientes formas:

  • Sólidos
  • Polvos compactos
  • Polvos sueltos
  • Líquidos
  • Perlas fusionadas
  • Lodos
  • Gránulos
  • Filtros
  • Películas y recubrimientos

Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.

Omar Scaccabarozzi — Analyst

Especificación

Manipulación de muestras

Capacidad de muestra Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones
Tamaño de muestra El espectrómetro puede acomodar muestras de hasta 52 mm (2") de diámetro
Features Se incluye centrifugador para una mejor precisión del análisis del filtro de aire

Tubos de rayos X

Features Ventana lateral de metal y cerámica para una máxima estabilidad
Ventana delgada de berilio de 50 micrómetros para una alta sensibilidad de elementos livianos (Na, Mg, Al, Si)
Tube setting Tubo de rayos X del ánodo de Ag para el mejor rendimiento de análisis de P, S y CI

Detector

Tipo de detector Alta resolución, generalmente de 135 eV a Mn-Kα
Features Velocidad de conteo máxima de 1 500 000 conteos por segundo a tiempo muerto del 50 %
Ventana de entrada delgada del detector para una alta sensibilidad

Software

Software
  • Detección elemental con solución de análisis sin estándares de Omnian
  • Análisis de APROBACIÓN/FALLA con la solución FingerPrint
  • Una calibración flexible para metales de desgaste en aceites lubricantes nuevos y usados mediante Oil-Trace

Accesorios

Software

Software Epsilon

Paquete de software analítico EDXRF para sistemas de mesas de trabajo Epsilon

El software Epsilon es la plataforma de software de análisis de XRF que se utiliza con la gama de sistemas de EDXRF para mesas de trabajo Epsilon 1 y Epsilon 4 de PANalytical. El software ofrece todas las funciones necesarias para configurar y utilizar un sistema de mesas de trabajo Epsilon. El montaje del programa analítico se ve facilitado en gran medida por el alto grado de inteligencia integrado en el software, lo que permite a los usuarios beneficiarse de medio siglo de experiencia en aplicaciones. El análisis diario de XRF es una tarea rutinaria que puede ser realizada fácilmente por personal inexperto después de un mínimo de instrucción. Muchas características están presentes para mejorar la facilidad de uso del software.

Stratos

Determinación de la composición y espesor de recubrimientos y multicapas

El módulo del software Stratos presenta un algoritmo que permite la determinación simultánea de la composición química y el espesor de los materiales en capas a partir de las medidas tomadas. El software proporciona un medio rápido, simple y no destructivo de análisis de recubrimientos, capas superficiales y estructuras multicapa. El Virtual Analyst proporciona inteligencia durante la configuración de programas de medición para pilas complicadas. 


Disponible tanto para los espectrómetros Epsilon 4 EDXRF como para Zetium, Stratos ofrece resultados rápidos y confiables, independientemente del tipo de muestra o matriz.

Omnian

Análisis sin estándares de todos los tipos de muestras

Omnian permite que los usuarios obtengan el mejor análisis posible cuando no hay disponibles métodos especializados o estándares certificados. Omnian, un paquete vanguardista y sin estándares, incorpora software de última generación y muestras de configuración que trascienden las tecnologías. Disponible para los espectrómetros Epsilon 1, Epsilon 4 y Zetium, Omnian ofrece resultados rápidos y confiables, independientemente del tipo de muestra o la matriz.

Oil-Trace

Análisis preciso de elementos traza

Oil-Trace es un paquete de software que consta de un conjunto de estándares que permite a los usuarios realizar análisis elementales precisos y confiables de líquidos mediante WDXRF y EDXRF. Oil-Trace resuelve dos problemas al analizar líquidos:

1) Corrección adecuada de matriz en presencia de una mezcla desconocida de elementos CHON

2) Corrección de errores debidos a variaciones en el volumen de la muestra analizada

Al abordar estos problemas de manera efectiva, Oil-Trace aporta importantes beneficios al análisis del petróleo.

FingerPrint

Identificación instantánea de material

Un módulo de software de FingerPrint, combinado con un sistema de Epsilon 4 EDXRF, es ideal para la prueba de materiales cuando la velocidad del análisis es importante, pero la composición real no es de interés. La identificación de características específicas generalmente implica poca o ninguna preparación de muestras y no es destructiva.

Seguridad de datos mejorada

Protegemos sus datos y satisfacemos a los auditores

El módulo Seguridad de datos mejorada (EDS) es una opción de software que proporciona una mayor confianza en los resultados para los usuarios del espectrómetro Zetium XRF (a través del software SuperQ) y el espectrómetro Epsilon XRF. Con funciones que incluyen la administración avanzada de usuarios, el registro de acciones, la protección de datos y la asignación del estado de la aplicación, EDS lo ayuda a reforzar su registro de auditoría, minimizar el riesgo de error y demostrar que su instrumento XRF funciona como se espera.

Estándares (materiales de referencia)

ADPOL

Composición elemental XRF precisa y confiable de sus polímeros, compuestos y plásticos, obtenida en minutos.

Más información

WROXI

Análisis preciso de óxidos de minerales de amplio rango

WROXI CRM es un kit de materiales de referencia certificados sintéticos de alta calidad que cubre una amplia gama de materiales de óxido, como minerales, rocas y materiales geológicos.

Más información

LAS

Análisis de aceros de baja aleación con espectrómetros XRF de Malvern Panalytical.

El paquete de acero de baja aleación (LAS) para los espectrómetros XRF secuenciales y simultáneos Zetium y Axios FAST se basa en >90 CRM que cubren hasta 21 elementos y 4 muestras de monitor para corrección de deriva y preparación de muestras.

Más información

RoHS

Análisis elemental preciso de materiales restringidos por RoHS.

El módulo de calibración RoHS ayuda a los fabricantes y laboratorios de investigación a cumplir con los requisitos de la legislación RoHS 2. El análisis elemental preciso utilizando los estándares de calibración RoHS puede ahorrarle dinero y respaldar el cumplimiento de regulaciones internacionales como REACH.

Más información

TOXEL

Análisis preciso por XRF de elementos tóxicos en polímeros y plásticos

El módulo TOXEL permite un análisis elemental sencillo y preciso de elementos tóxicos en poliolefinas, incluidos muchos tipos de PP y PE.

Más información

Materiales de referencia certificados

Materiales de referencia certificados, incluidos módulos de calibración XRF y materiales de referencia

Más información

Preparación de muestras

Claisse LeNeo

A la vanguardia con la experiencia de Claisse en fusión.

El instrumento de fusión Claisse LeNeo prepara los discos de vidrio para XRF, además de las soluciones de borato y peróxido para los análisis AA e ICP. Se trata de un instrumento eléctrico de posición única.

Más información
Claisse LeNeo

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