Epsilon 4 Plásticos y pinturas de polímeros

La potencia de XRF para mesas de trabajo: Si combina las tecnologías de excitación y detección más recientes con un diseño inteligente, el rendimiento analítico del Epsilon 4 se acerca más a los espectrómetros de piso más potentes. La excitación selectiva y la correspondencia cuidadosa de la salida del tubo de rayos X a las capacidades del sistema de detección forman la base del destacado rendimiento del sistema.

Rapidez y sensibilidad: Las mediciones rápidas se logran mediante el uso de la tecnología más reciente del detector de desplazamiento de silicio, que produce intensidades significativamente mayores. La electrónica de detector única permite una capacidad de tasa de conteo linear por sobre 1 500 000 cps (al 50 % del tiempo muerto) y una resolución independiente de tasa de conteo normalmente mejor que 135 eV para una mejor separación de las líneas analíticas en el espectro. Esto permite que el espectrómetro Epsilon 4 funcione a máxima potencia y, por lo tanto, entregue un mayor rendimiento de la muestra en comparación con los instrumentos de EDXRF para mesas de trabajo tradicionales.

Bajos costos de funcionamiento: El Epsilon 4 no requiere el uso de costosos ácidos, gases ni campanas extractoras como en ICP y AAS. El único requisito es la electricidad de red y, en algunos casos, el uso de helio para impulsar la sensibilidad de los elementos livianos en la muestra. También, los componentes individuales en los espectrómetros de XRF no están expuestos a la fricción o al calor y, por lo tanto, duran muchos años.

Análisis no destructivo: Las mediciones con el Epsilon 4 se realizan directamente en polvos sueltos o en productos acabados, con poco o nada de preparación de la muestra. Debido a que la XRF es una técnica no destructiva, la muestra se puede medir posteriormente mediante otras técnicas analíticas, si es necesario.