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Sus clientes exigen consistencia superior en el rendimiento de sus polímeros y en la seguridad del consumidor, independientemente del lugar de producción. El Epsilon 4, un espectrómetro de mesa de fluorescencia de rayos X por dispersión de energías (EDXRF), proporciona un análisis elemental con repetibilidad y exactitud superiores, lo que satisface las demandas de consistencia de sus clientes.
Los procedimientos de medición fáciles de usar y los requisitos limitados de utilidades permiten un análisis reproducible cerca de las líneas de producción y en diferentes centros de producción. El Epsilon 4 proporciona resultados confiables por meses sin recalibración. Garantizar la calidad del producto nunca fue tan fácil.
La potencia de XRF para mesas de trabajo: Si combina las tecnologías de excitación y detección más recientes con un diseño inteligente, el rendimiento analítico del Epsilon 4 se acerca más a los espectrómetros de piso más potentes. La excitación selectiva y la correspondencia cuidadosa de la salida del tubo de rayos X a las capacidades del sistema de detección forman la base del destacado rendimiento del sistema.
Rapidez y sensibilidad: Las mediciones rápidas se logran mediante el uso de la tecnología más reciente del detector de desplazamiento de silicio, que produce intensidades significativamente mayores. La electrónica de detector única permite una capacidad de tasa de conteo linear por sobre 1 500 000 cps (al 50 % del tiempo muerto) y una resolución independiente de tasa de conteo normalmente mejor que 135 eV para una mejor separación de las líneas analíticas en el espectro. Esto permite que el espectrómetro Epsilon 4 funcione a máxima potencia y, por lo tanto, entregue un mayor rendimiento de la muestra en comparación con los instrumentos de EDXRF para mesas de trabajo tradicionales.
Bajos costos de funcionamiento: El Epsilon 4 no requiere el uso de costosos ácidos, gases ni campanas extractoras como en ICP y AAS. El único requisito es la electricidad de red y, en algunos casos, el uso de helio para impulsar la sensibilidad de los elementos livianos en la muestra. También, los componentes individuales en los espectrómetros de XRF no están expuestos a la fricción o al calor y, por lo tanto, duran muchos años.
Análisis no destructivo: Las mediciones con el Epsilon 4 se realizan directamente en polvos sueltos o en productos acabados, con poco o nada de preparación de la muestra. Debido a que la XRF es una técnica no destructiva, la muestra se puede medir posteriormente mediante otras técnicas analíticas, si es necesario.
El Epsilon 4 ofrece directamente su valor para producir polímeros, plásticos y pinturas. Permite una completa trazabilidad mediante el análisis rápido y directo a lo largo y cerca de los procesos de producción.
Valide la calidad de las materias primas entrantes y analice la presencia de aditivos, residuos del catalizador y elementos tóxicos en los productos finales. Las soluciones de calibración únicas analíticas de Mavern Panalytical ADPOL, TOXEL y RoHS permiten a sus usuarios alcanzar la seguridad del consumidor, además de una calidad y un rendimiento consistentes y de alta gama de los productos.
El acceso a las muestras de calibración correctas es clave en XRF.
Para la industria de plásticos y polímeros, desarrollamos soluciones de calibración únicas para analizar con precisión los aditivos y los residuos del catalizador (ADPOL), los elementos tóxicos (TOXEL) y para garantizar la conformidad con RoHS (RoHS), de acuerdo con ASTM F2617 e IEC 62321-3-1.
Los espectrómetros Epsilon 4 pueden manejar una gran variedad de tipos de muestras, que van de unos pocos miligramos hasta muestras a granel más grandes. Las muestras se pueden medir de las siguientes formas:
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| Capacidad de muestra | Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones |
|---|---|
| Tamaño de muestra | El espectrómetro puede acomodar muestras (polvos sueltos, líquidos, pastas y sólidos) de hasta 52 mm de diámetro |
| Features | Se incluye centrifugador para obtener resultados más precisos de líquidos, pastas y polvos |
| Features | Ventana lateral de metal y cerámica para una máxima estabilidad
Ventana delgada de berilio de 50 micrómetros para una alta sensibilidad de elementos livianos (Na, Mg, Al, Si) |
|---|---|
| Tube setting | Tubo de rayos X del ánodo de Ag para el mejor rendimiento de análisis de P, S y CI |
| Tipo de detector | Detector de deriva de silicio (SDD), generalmente de 135 eV a Mn-Kα |
|---|---|
| Features | Máx. velocidad de conteo de 1 500 000 conteos por segundo a tiempo muerto del 50 %
Ventana de entrada delgada del detector para una alta sensibilidad |
| Software |
|
|---|
Paquete de software analítico EDXRF para sistemas de mesas de trabajo Epsilon
Análisis sin estándares de todos los tipos de muestras
Determinación de la composición y espesor de recubrimientos y multicapas
Protegemos sus datos y satisfacemos a los auditores
Identificación instantánea de material
Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
Para el análisis preciso de elementos tóxicos en polímeros
Para el análisis de materiales restringidos por la RoHS
Claisse está siempre ahí para satisfacer sus necesidades
Comuníquese con el soporte para obtener los manuales de usuario más recientes.
Por favor, póngase en contacto con soporte para la última versión del software.
Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
Servicio durante toda la vida útil
Agregamos valor a sus procesos
Sus clientes exigen consistencia superior en el rendimiento de sus polímeros y en la seguridad del consumidor, independientemente del lugar de producción. El Epsilon 4, un espectrómetro de mesa de fluorescencia de rayos X por dispersión de energías (EDXRF), proporciona un análisis elemental con repetibilidad y exactitud superiores, lo que satisface las demandas de consistencia de sus clientes.
Los procedimientos de medición fáciles de usar y los requisitos limitados de utilidades permiten un análisis reproducible cerca de las líneas de producción y en diferentes centros de producción. El Epsilon 4 proporciona resultados confiables por meses sin recalibración. Garantizar la calidad del producto nunca fue tan fácil.
La potencia de XRF para mesas de trabajo: Si combina las tecnologías de excitación y detección más recientes con un diseño inteligente, el rendimiento analítico del Epsilon 4 se acerca más a los espectrómetros de piso más potentes. La excitación selectiva y la correspondencia cuidadosa de la salida del tubo de rayos X a las capacidades del sistema de detección forman la base del destacado rendimiento del sistema.
Rapidez y sensibilidad: Las mediciones rápidas se logran mediante el uso de la tecnología más reciente del detector de desplazamiento de silicio, que produce intensidades significativamente mayores. La electrónica de detector única permite una capacidad de tasa de conteo linear por sobre 1 500 000 cps (al 50 % del tiempo muerto) y una resolución independiente de tasa de conteo normalmente mejor que 135 eV para una mejor separación de las líneas analíticas en el espectro. Esto permite que el espectrómetro Epsilon 4 funcione a máxima potencia y, por lo tanto, entregue un mayor rendimiento de la muestra en comparación con los instrumentos de EDXRF para mesas de trabajo tradicionales.
Bajos costos de funcionamiento: El Epsilon 4 no requiere el uso de costosos ácidos, gases ni campanas extractoras como en ICP y AAS. El único requisito es la electricidad de red y, en algunos casos, el uso de helio para impulsar la sensibilidad de los elementos livianos en la muestra. También, los componentes individuales en los espectrómetros de XRF no están expuestos a la fricción o al calor y, por lo tanto, duran muchos años.
Análisis no destructivo: Las mediciones con el Epsilon 4 se realizan directamente en polvos sueltos o en productos acabados, con poco o nada de preparación de la muestra. Debido a que la XRF es una técnica no destructiva, la muestra se puede medir posteriormente mediante otras técnicas analíticas, si es necesario.
El Epsilon 4 ofrece directamente su valor para producir polímeros, plásticos y pinturas. Permite una completa trazabilidad mediante el análisis rápido y directo a lo largo y cerca de los procesos de producción.
Valide la calidad de las materias primas entrantes y analice la presencia de aditivos, residuos del catalizador y elementos tóxicos en los productos finales. Las soluciones de calibración únicas analíticas de Mavern Panalytical ADPOL, TOXEL y RoHS permiten a sus usuarios alcanzar la seguridad del consumidor, además de una calidad y un rendimiento consistentes y de alta gama de los productos.
El acceso a las muestras de calibración correctas es clave en XRF.
Para la industria de plásticos y polímeros, desarrollamos soluciones de calibración únicas para analizar con precisión los aditivos y los residuos del catalizador (ADPOL), los elementos tóxicos (TOXEL) y para garantizar la conformidad con RoHS (RoHS), de acuerdo con ASTM F2617 e IEC 62321-3-1.
Los espectrómetros Epsilon 4 pueden manejar una gran variedad de tipos de muestras, que van de unos pocos miligramos hasta muestras a granel más grandes. Las muestras se pueden medir de las siguientes formas:
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| Capacidad de muestra | Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones |
|---|---|
| Tamaño de muestra | El espectrómetro puede acomodar muestras (polvos sueltos, líquidos, pastas y sólidos) de hasta 52 mm de diámetro |
| Features | Se incluye centrifugador para obtener resultados más precisos de líquidos, pastas y polvos |
| Features | Ventana lateral de metal y cerámica para una máxima estabilidad
Ventana delgada de berilio de 50 micrómetros para una alta sensibilidad de elementos livianos (Na, Mg, Al, Si) |
|---|---|
| Tube setting | Tubo de rayos X del ánodo de Ag para el mejor rendimiento de análisis de P, S y CI |
| Tipo de detector | Detector de deriva de silicio (SDD), generalmente de 135 eV a Mn-Kα |
|---|---|
| Features | Máx. velocidad de conteo de 1 500 000 conteos por segundo a tiempo muerto del 50 %
Ventana de entrada delgada del detector para una alta sensibilidad |
| Software |
|
|---|
Paquete de software analítico EDXRF para sistemas de mesas de trabajo Epsilon
Análisis sin estándares de todos los tipos de muestras
Determinación de la composición y espesor de recubrimientos y multicapas
Protegemos sus datos y satisfacemos a los auditores
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Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
Para el análisis preciso de elementos tóxicos en polímeros
Para el análisis de materiales restringidos por la RoHS
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