Epsilon 4 Agroalimentaire et environnement

Faites confiance à la qualité de vos produits

L'augmentation de la population mondiale accroît la nécessité d'une meilleure gestion des ressources de notre planète. L'Epsilon 4, un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF), est un outil d'analyse puissant qui permet d'obtenir des informations élémentaires utiles afin d'optimiser la croissance des cultures et garantir la sécurité des produits et de l'environnement.

Les dernières avancées technologiques en matière d'excitation et de détection de l'Epsilon 4 ouvrent des possibilités pour les applications exigeantes traditionnellement exécutées par l'ICP et l'AAS. Le passage de l'ICP à l'EDXRF réduit considérablement l'utilisation des consommables, des utilitaires et la durée.

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Présentation générale

L'Epsilon 4 est utilisé pour contrôler les nutriments dans l'alimentation pour animaux afin de garder le bétail en bonne santé et de réduire les gaz à effet de serre dans le fumier. D'autres applications incluent la surveillance de la composition élémentaire des particules dans l'air ambiant (EPA IO3-3) ou des nutriments et de la teneur en sel dans les denrées alimentaires. Le sol et les engrais peuvent être analysés afin d'optimiser les conditions de croissance et de garantir l'absence d'éléments toxiques conformément aux normes ISO 18227, ISO 15309 et ASTM C1255.
L'illustration ci-dessous présente les valeurs ajoutées significatives obtenues par l'Epsilon 4, qui ne représente qu'un investissement modeste.

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Fonctionnalités

Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse

Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.

Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse

Faibles coûts d'exécution

  • Aucune nécessité d'acides onéreux
  • Aucune nécessité d'azote liquide
  • Aucune préparation d'échantillon. Il suffit de placer l'échantillon directement dans le spectromètre.
  • Les étalons onéreux (comme les filtres à air) ne sont pas détruits après l'analyse et peuvent être réutilisés comme échantillons de contrôle qualité ou de validation.
  • Entretien minime grâce au tube à rayons X et au détecteur à dérive en silicium
Faibles coûts d'exécution

Précision des résultats

  • L'algorithme de déconvolution puissant du logiciel Epsilon garantit des résultats précis, même lorsque les pics d'élément se chevauchent dans le spectre de fluorescence X.
  • La fonction de soustraction à blanc du logiciel Epsilon offre flexibilité et précision lors de l'analyse de filtres à air avec différents matériaux de support.
  • La rotation continue de l'échantillon pendant la mesure réduit toutes les erreurs occasionnées par le manque d'homogénéité et offre des résultats plus précis.
Précision des résultats

Sensible et rapide

Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées.

Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.

Sensible et rapide

Réduction de la consommation d'hélium

Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.

Réduction de la consommation d'hélium

Spécifications

Manipulation des échantillonsTube à rayons XDétecteurLogiciels
Passeur d'échantillon amovible à 10 positionsFenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimaleDétecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-KαCriblage élémentaire avec la solution d'analyse sans étalon Omnian
Le spectromètre peut accueillir des échantillons (sols, liquides, solides et filtres à air) d'un diamètre maximal de 52 mmFenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si)Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mortAnalyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint
Un porte-échantillon est inclus pour des résultats plus précis des liquides et solidesTube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CIFenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilitéOption de logiciel de piste de contrôle pour une sécurité des données renforcée en conformité avec la norme FDA 21 CFR Partie 11

Accessoires

Étalons (matériaux de référence)

Omnian

Omnian pour l'analyse élémentaire non standardisée d'une vaste gamme de matériaux.
Omnian

MRC

Claisse est toujours là pour répondre à vos besoins !
MRC

Logiciels

Logiciel Epsilon

La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical.

Logiciel Epsilon

Omnian

Le logiciel Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalons certifiés.

Omnian

FingerPrint

Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt.

FingerPrint

Assistance

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Automatisation des procédés de laboratoire
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels

Services analytiques et matériel d'étalonnage

  • Services d'analyses d'experts (XRF)
  • Analyse d'oxydes et d'éléments traces
  • Matériel d'étalonnage personnalisé

Applications clés

Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux.

Les échantillons peuvent être mesurés comme :

  • Solides
  • Poudres compactes
  • Poudres libres
  • Liquides
  • Perles de fusion
  • Boues
  • Granules
  • Filtres
  • Films & revêtements