Polymères, plastiques et peintures Epsilon 4

Améliorer l'homogénéité des produits à base de polymères

  • Analyseur XRF de paillasse multifonctionnel 
  • Analyse élémentaire pour les performances et la sécurité des polymères
  • Procédures de mesure faciles à utiliser

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Présentation générale

Vos clients exigent une homogénéité supérieure de vos performances en matière de polymères et de la sécurité des consommateurs, quel que soit le lieu de production. L'Epsilon 4, un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de paillasse, fournit une analyse élémentaire avec une répétabilité et une précision supérieures, répondant ainsi aux exigences d'homogénéité de vos clients. 

Les procédures de mesure simples d'utilisation et les exigences limitées en matière d'utilisation permettent une analyse reproductible à proximité des lignes de production et sur plusieurs sites de production. L'Epsilon 4 fournit des résultats fiables pendant des mois sans nouvelle calibration. Garantir la qualité de vos produits n'a jamais été aussi facile.

Fonctionnalités

  • Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse: Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.

  • Sensible et rapide: Des mesures rapides sont obtenues grâce à l'utilisation d'une technologie de pointe en matière de détecteur à dérive en silicium produisant des intensités nettement plus élevées. Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieur à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXR classiques.

  • Faibles coûts d'exécution: L'Epsilon 4 n'exige pas l'utilisation d'acides, de gaz et de hottes onéreux, comme l'ICP et l'AAS. La seule exigence est l'alimentation secteur et, dans certains cas, l'utilisation d'hélium pour accroître la sensibilité des éléments légers dans l'échantillon. En outre, les composants individuels des spectromètres de fluorescence X ne sont pas exposés à la friction ni à la chaleur et durent donc de nombreuses années.

  • Analyse non destructive: Les mesures avec l'Epsilon 4 sont réalisées directement sur des poudres libres ou des produits finaux avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Dans la mesure où la spectrométrie de fluorescence X est une technique non destructive, l'échantillon peut également être mesuré ultérieurement par d'autres techniques d'analyse, si nécessaire.

Mettre l'accent sur la qualité et l'homogénéité des produits

L'Epsilon 4 offre directement sa valeur ajoutée aux producteurs de polymères, de plastiques et de peintures. Bénéficiez d'une traçabilité totale grâce à une analyse rapide et directe tout au long des procédés de production. 

Validez la qualité des matières premières entrantes et analysez la présence d'additifs, de résidus de catalyseurs et d'éléments toxiques dans les produits finaux. 

Les solutions d'étalonnage uniques de Malvern Panalytical ADPOL, TOXEL et RoHS aident ses utilisateurs à assurer la sécurité des consommateurs et à obtenir une qualité et des performances constantes et haut de gamme des produits.

Solutions d'application polymères uniques

L'accès aux échantillons d'étalonnage adéquats est essentiel dans la fluorescence X. 

Pour l'industrie des plastiques et des polymères, nous avons développé des solutions d'étalonnages uniques pour analyser avec précision les additifs et les résidus de catalyseur (ADPOL), les éléments toxiques (TOXEL) et pour assurer la conformité à la directive RoHS (RoHS) conformément aux normes ASTM F2617 et CEI 62321-3-1.

Applications clés

Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux. Les échantillons peuvent être mesurés comme :

  • Solides
  • Poudres compactes
  • Poudres libres
  • Liquides
  • Perles de fusion
  • Boues
  • Granules
  • Filtres
  • Films & revêtements

Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.

Omar Scaccabarozzi — Analyst

Spécifications

Manipulation des échantillons

Capacité d'échantillon Passeur d'échantillon amovible à 10 positions
Taille d'échantillon Le spectromètre peut accueillir des échantillons (poudres libres, liquides, boues et solides) d'un diamètre maximal de 52 mm
Features Un porte-échantillon est inclus pour des résultats plus précis des liquides, boues et poudres

Tube à rayons X

Features Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale
Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si)
Tube setting Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI

Détecteur

Type de détecteur Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα
Features Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort
Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité

Logiciels

Logiciels
  • Criblage élémentaire avec la solution d'analyse sans étalon Omnian
  • Analyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint
  • Option de logiciel de piste de contrôle pour une sécurité des données renforcée en conformité avec la norme FDA 21 CFR Partie 11

Accessoires

Logiciels

Logiciel Epsilon

Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon

La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical. Le logiciel offre toutes les fonctions nécessaires à la configuration et au fonctionnement d'un système de paillasse Epsilon. L'assemblage du programme analytique est grandement facilité par le haut degré d'intelligence intégré au logiciel, ce qui permet aux utilisateurs de bénéficier d'un demi-siècle d'expertise en applications. L'analyse XRF quotidienne est une tâche de routine qui peut être facilement réalisée par du personnel inexpérimenté après un minimum d'instructions. De nombreuses fonctionnalités sont présentes pour améliorer l'ergonomie du logiciel.

Omnian

Analyse sans étalon de tous les types d'échantillons

Le système Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalon certifié. Progiciel d'analyse sans étalon avant-gardiste, Omnian intègre un logiciel de pointe et des échantillons de configuration qui transcendent les technologies. Disponible pour les spectromètres Epsilon 1, Epsilon 4 et Zetium, Omnian offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

Stratos

Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches

Le module logiciel Stratos est doté d'un algorithme qui permet de déterminer simultanément la composition chimique et l'épaisseur des couches de matériaux à partir des mesures effectuées. Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches. Virtual Analyst fournit des informations lors de la configuration des programmes de mesure pour les piles complexes. 


Disponible à la fois pour les spectromètres EDXRF Epsilon 4 et XRF Zetium, Stratos offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

Enhanced Data Security

Sécurisation des données et satisfaction des contrôleurs

Le module EDS (Enhanced Data Security) est une option logicielle qui offre une meilleure confiance dans les résultats pour les utilisateurs du spectromètre XRF Zetium (via le logiciel SuperQ) et du spectromètre XRF Epsilon. Grâce à des fonctionnalités telles que la gestion avancée des utilisateurs, la consignation des actions, la protection des données et l'affectation de l'état des applications, EDS vous aide à renforcer votre piste d'audit, à minimiser les risques d'erreur et à prouver que votre instrument XRF fonctionne comme prévu.

FingerPrint

Identification instantanée des matériaux

Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon 4 est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt. FingerPrint implique généralement peu ou pas de préparation d'échantillons et n'est pas destructif.

Étalons (matériaux de référence)

ADPOL

Analyse élémentaire précise par spectrométrie de fluorescence X des additifs de polymère fonctionnels

Pour en savoir plus

RoHS

Analyse élémentaire précise des matériaux limités par la norme LdSD

Le module d'étalonnage RoHS aide les fabricants et les laboratoires de recherche à se conformer aux exigences de la législation RoHS 2. Une analyse élémentaire précise à l’aide des normes d’étalonnage RoHS peut vous faire économiser de l’argent et garantir la conformité aux réglementations internationales telles que REACH.

Pour en savoir plus

TOXEL

Analyse précise par spectrométrie de fluorescence X des éléments toxiques dans les polymères et les plastiques

Le module TOXEL permet une analyse élémentaire simple et précise des éléments toxiques dans les polyoléfines, y compris de nombreux types de PP et PE.

Pour en savoir plus

Matériaux de référence certifiés

Matériaux de référence certifiés, y compris les modules d'étalonnage XRF et les matériaux de référence

Pour en savoir plus

Manuels d'utilisation

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir les derniers manuels d'utilisation.

Téléchargements de logiciels

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.

Assistance

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Consistance supérieure du produit polymère.

Consistance supérieure du produit polymère.

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