ADPOL
Analyse élémentaire précise par spectrométrie de fluorescence X des additifs de polymère fonctionnels
Présentation générale
Mettre l'accent sur la qualité et l'homogénéité des produits
L'Epsilon 4 offre directement sa valeur ajoutée aux producteurs de polymères, de plastiques et de peintures. Bénéficiez d'une traçabilité totale grâce à une analyse rapide et directe tout au long des procédés de production. Validez la qualité des matières premières entrantes et analysez la présence d'additifs, de résidus de catalyseurs et d'éléments toxiques dans les produits finaux. Les solutions d'étalonnage uniques de Malvern Panalytical ADPOL, TOXEL et RoHS aident ses utilisateurs à assurer la sécurité des consommateurs et à obtenir une qualité et des performances constantes et haut de gamme des produits.
Vous trouverez ci-dessous les endroits dans les processus de production du polymère où Epsilon 4 offre sa valeur ajoutée à ses utilisateurs.
Fonctionnalités
Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse
Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.
Solutions d'application polymères uniques
L'accès aux échantillons d'étalonnage adéquats est essentiel dans la fluorescence X. Pour l'industrie des plastiques et des polymères, nous avons développé des solutions d'étalonnages uniques pour analyser avec précision les additifs et les résidus de catalyseur (ADPOL), les éléments toxiques (TOXEL) et pour assurer la conformité à la directive RoHS (RoHS) conformément aux normes ASTM F2617 et CEI 62321-3-1.
Sensible et rapide
Des mesures rapides sont obtenues grâce à l'utilisation d'une technologie de pointe en matière de détecteur à dérive en silicium produisant des intensités nettement plus élevées.Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieur à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXR classiques.
Faibles coûts d'exécution
L'Epsilon 4 n'exige pas l'utilisation d'acides, de gaz et de hottes onéreux, comme l'ICP et l'AAS. La seule exigence est l'alimentation secteur et, dans certains cas, l'utilisation d'hélium pour accroître la sensibilité des éléments légers dans l'échantillon. En outre, les composants individuels des spectromètres de fluorescence X ne sont pas exposés à la friction ni à la chaleur et durent donc de nombreuses années.
Analyse non destructive
Les mesures avec l'Epsilon 4 sont réalisées directement sur des poudres libres ou des produits finaux avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Dans la mesure où la spectrométrie de fluorescence X est une technique non destructive, l'échantillon peut également être mesuré ultérieurement par d'autres techniques d'analyse, si nécessaire.
Spécifications
| Manipulation des échantillons | Tube à rayons X | Détecteur | Logiciels |
|---|---|---|---|
| Passeur d'échantillon amovible à 10 positions | Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale | Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα | Criblage élémentaire avec la solution d'analyse sans étalon Omnian |
| Le spectromètre peut accueillir des échantillons (poudres libres, liquides, boues et solides) d'un diamètre maximal de 52 mm | Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si) | Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort | Analyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint |
| Un porte-échantillon est inclus pour des résultats plus précis des liquides, boues et poudres | Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI | Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité | Option de logiciel de piste de contrôle pour une sécurité des données renforcée en conformité avec la norme FDA 21 CFR Partie 11 |
Accessoires
Étalons (matériaux de référence)
Logiciels
Logiciel Epsilon
La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical.
Omnian
Le logiciel Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalons certifiés.
Stratos
Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches.
Sécurité renforcée des données
Sécurisation des données et satisfaction des régulateurs.
FingerPrint
Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt.
Assistance
Équipements
Solutions pour optimiser votre retour sur investissement
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Assistance
Service à vie
- Assistance téléphonique et à distance
- Maintenance préventive et contrôles
- Contrats de service client flexibles
- Certificat de performances
- Mises à niveau matérielles et logicielles
- Assistance locale et mondiale
Expertise
Ajout de valeur à vos procédés
- Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
- Méthodes analytiques
- Solutions clé en main pour XRD
- Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
- Automatisation des procédés de laboratoire
- Services de conseils
Formation et éducation
- Formation sur site ou dans nos centres de compétence
- Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Services analytiques et matériel d'étalonnage
- Services d'analyses d'experts (XRF)
- Analyse d'oxydes et d'éléments traces
- Matériel d'étalonnage personnalisé
Applications clés
Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux.
Les échantillons peuvent être mesurés comme :
- Solides
- Poudres compactes
- Poudres libres
- Liquides
- Perles de fusion
- Boues
- Granules
- Filtres
- Films & revêtements