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Vos clients exigent une homogénéité supérieure de vos performances en matière de polymères et de la sécurité des consommateurs, quel que soit le lieu de production. L'Epsilon 4, un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de paillasse, fournit une analyse élémentaire avec une répétabilité et une précision supérieures, répondant ainsi aux exigences d'homogénéité de vos clients.
Les procédures de mesure simples d'utilisation et les exigences limitées en matière d'utilisation permettent une analyse reproductible à proximité des lignes de production et sur plusieurs sites de production. L'Epsilon 4 fournit des résultats fiables pendant des mois sans nouvelle calibration. Garantir la qualité de vos produits n'a jamais été aussi facile.
Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse: Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.
Sensible et rapide: Des mesures rapides sont obtenues grâce à l'utilisation d'une technologie de pointe en matière de détecteur à dérive en silicium produisant des intensités nettement plus élevées. Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieur à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXR classiques.
Faibles coûts d'exécution: L'Epsilon 4 n'exige pas l'utilisation d'acides, de gaz et de hottes onéreux, comme l'ICP et l'AAS. La seule exigence est l'alimentation secteur et, dans certains cas, l'utilisation d'hélium pour accroître la sensibilité des éléments légers dans l'échantillon. En outre, les composants individuels des spectromètres de fluorescence X ne sont pas exposés à la friction ni à la chaleur et durent donc de nombreuses années.
Analyse non destructive: Les mesures avec l'Epsilon 4 sont réalisées directement sur des poudres libres ou des produits finaux avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Dans la mesure où la spectrométrie de fluorescence X est une technique non destructive, l'échantillon peut également être mesuré ultérieurement par d'autres techniques d'analyse, si nécessaire.
L'Epsilon 4 offre directement sa valeur ajoutée aux producteurs de polymères, de plastiques et de peintures. Bénéficiez d'une traçabilité totale grâce à une analyse rapide et directe tout au long des procédés de production.
Validez la qualité des matières premières entrantes et analysez la présence d'additifs, de résidus de catalyseurs et d'éléments toxiques dans les produits finaux.
Les solutions d'étalonnage uniques de Malvern Panalytical ADPOL, TOXEL et RoHS aident ses utilisateurs à assurer la sécurité des consommateurs et à obtenir une qualité et des performances constantes et haut de gamme des produits.
L'accès aux échantillons d'étalonnage adéquats est essentiel dans la fluorescence X.
Pour l'industrie des plastiques et des polymères, nous avons développé des solutions d'étalonnages uniques pour analyser avec précision les additifs et les résidus de catalyseur (ADPOL), les éléments toxiques (TOXEL) et pour assurer la conformité à la directive RoHS (RoHS) conformément aux normes ASTM F2617 et CEI 62321-3-1.
Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux. Les échantillons peuvent être mesurés comme :
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| Capacité d'échantillon | Passeur d'échantillon amovible à 10 positions |
|---|---|
| Taille d'échantillon | Le spectromètre peut accueillir des échantillons (poudres libres, liquides, boues et solides) d'un diamètre maximal de 52 mm |
| Features | Un porte-échantillon est inclus pour des résultats plus précis des liquides, boues et poudres |
| Features | Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale
Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si) |
|---|---|
| Tube setting | Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI |
| Type de détecteur | Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα |
|---|---|
| Features | Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort
Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité |
| Logiciels |
|
|---|
Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon
Analyse sans étalon de tous les types d'échantillons
Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches
Sécurisation des données et satisfaction des contrôleurs
Identification instantanée des matériaux
Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
Pour l'analyse des matériaux à usage restreint RoHS
Pour l'analyse précise des éléments toxiques dans les polymères
Claisse est toujours là pour répondre à vos besoins !
Veuillez contacter l'assistance pour obtenir les derniers manuels d'utilisation.
Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
Ajout de valeur à vos procédés
Vos clients exigent une homogénéité supérieure de vos performances en matière de polymères et de la sécurité des consommateurs, quel que soit le lieu de production. L'Epsilon 4, un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de paillasse, fournit une analyse élémentaire avec une répétabilité et une précision supérieures, répondant ainsi aux exigences d'homogénéité de vos clients.
Les procédures de mesure simples d'utilisation et les exigences limitées en matière d'utilisation permettent une analyse reproductible à proximité des lignes de production et sur plusieurs sites de production. L'Epsilon 4 fournit des résultats fiables pendant des mois sans nouvelle calibration. Garantir la qualité de vos produits n'a jamais été aussi facile.
Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse: Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.
Sensible et rapide: Des mesures rapides sont obtenues grâce à l'utilisation d'une technologie de pointe en matière de détecteur à dérive en silicium produisant des intensités nettement plus élevées. Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieur à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXR classiques.
Faibles coûts d'exécution: L'Epsilon 4 n'exige pas l'utilisation d'acides, de gaz et de hottes onéreux, comme l'ICP et l'AAS. La seule exigence est l'alimentation secteur et, dans certains cas, l'utilisation d'hélium pour accroître la sensibilité des éléments légers dans l'échantillon. En outre, les composants individuels des spectromètres de fluorescence X ne sont pas exposés à la friction ni à la chaleur et durent donc de nombreuses années.
Analyse non destructive: Les mesures avec l'Epsilon 4 sont réalisées directement sur des poudres libres ou des produits finaux avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Dans la mesure où la spectrométrie de fluorescence X est une technique non destructive, l'échantillon peut également être mesuré ultérieurement par d'autres techniques d'analyse, si nécessaire.
L'Epsilon 4 offre directement sa valeur ajoutée aux producteurs de polymères, de plastiques et de peintures. Bénéficiez d'une traçabilité totale grâce à une analyse rapide et directe tout au long des procédés de production.
Validez la qualité des matières premières entrantes et analysez la présence d'additifs, de résidus de catalyseurs et d'éléments toxiques dans les produits finaux.
Les solutions d'étalonnage uniques de Malvern Panalytical ADPOL, TOXEL et RoHS aident ses utilisateurs à assurer la sécurité des consommateurs et à obtenir une qualité et des performances constantes et haut de gamme des produits.
L'accès aux échantillons d'étalonnage adéquats est essentiel dans la fluorescence X.
Pour l'industrie des plastiques et des polymères, nous avons développé des solutions d'étalonnages uniques pour analyser avec précision les additifs et les résidus de catalyseur (ADPOL), les éléments toxiques (TOXEL) et pour assurer la conformité à la directive RoHS (RoHS) conformément aux normes ASTM F2617 et CEI 62321-3-1.
Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux. Les échantillons peuvent être mesurés comme :
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| Capacité d'échantillon | Passeur d'échantillon amovible à 10 positions |
|---|---|
| Taille d'échantillon | Le spectromètre peut accueillir des échantillons (poudres libres, liquides, boues et solides) d'un diamètre maximal de 52 mm |
| Features | Un porte-échantillon est inclus pour des résultats plus précis des liquides, boues et poudres |
| Features | Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale
Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si) |
|---|---|
| Tube setting | Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI |
| Type de détecteur | Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα |
|---|---|
| Features | Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort
Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité |
| Logiciels |
|
|---|
Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon
Analyse sans étalon de tous les types d'échantillons
Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches
Sécurisation des données et satisfaction des contrôleurs
Identification instantanée des matériaux
Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
Pour l'analyse des matériaux à usage restreint RoHS
Pour l'analyse précise des éléments toxiques dans les polymères
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Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
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