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Avez-vous besoin d'une analyse élémentaire de petits objets ou de petites inclusions dans des appareils électroniques, jouets, bijoux, roches ou produits finis ?
L'Epsilon 1 pour analyse de cartographie élémentaire, un spectromètre de fluorescence X compact avec une taille de point d'analyse de 0,8 x 1,2 mm, est la solution analytique idéale pour une analyse modulable et précise.
En raison de sa conception autonome et de son faible encombrement, l'Epsilon 1 peut être placé à proximité de l'emplacement échantillon, ce qui fait de l'instrument une solution idéale pour toute analyse élémentaire sur les sites de production, les sites d'exploration, le comptoir d'un magasin, voire sur des scènes de crime pour les enquêtes médico-légales.
Les performances du spectromètre répondent aux méthodes de test standard requises par différentes directives et réglementations sur divers marchés de l'industrie, comme la RoHS-3 pour les composants électroniques et la CPSIA pour de nombreux biens de consommation.
Analyse non destructive : Les mesures sont réalisées directement sur l'échantillon proprement dit avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Dans la mesure où la spectrométrie de fluorescence X est une technique non destructive, l'échantillon peut également être mesuré ultérieurement par d'autres techniques d'analyse, si nécessaire.
Analyse de cartographie élémentaire : Les petites parties ou les petites inclusions dans des échantillons peuvent être facilement analysées à l'aide d'un faisceau de rayons X collimaté. La taille du point sur l'échantillon est généralement de 0,8 x 1,2 mm.
Positionnement de l'échantillon : À l'aide de la caméra couleur et du pointeur dans la photo, l'utilisateur peut positionner manuellement l'échantillon sur le point d'analyse de l'instrument.
Rapport d'analyse : Après chaque analyse, une photographie du point d'analyse est stockée sur l'ordinateur intégré. En un seul clic, un rapport d'analyse qui inclut la photographie est généré.
Des résultats immédiats sont fournis pour une vaste gamme d'applications, comme l'inspection de la RoHS-3, des DEEE, des VHU, des jouets, des bijoux, des roches et des produits finaux. Cela est possible grâce à Omnian, le progiciel d'analyse sans étalon de pointe de Malvern Panalytical, également utilisé sur les instruments de spectrométrie de fluorescence X plus avancés.
En tant que solution originale, Omnian peut être utilisé pour analyser un large éventail de compositions élémentaires, du sodium à l'américium dans l'ensemble du tableau périodique.
Grâce à des calibrages dédiés, il est possible de suivre les méthodes de test internationales, comme ASTM F2617 (RoHS) ou d'analyser des éléments conformément aux spécifications décrites dans la norme ASTM F963 (jouets) et la norme CEI 62123 (éléments électroniques).
La spectrométrie de fluorescence X est une solution éprouvée de criblage et de quantification des métaux et composés toxiques.
La teneur en métaux toxiques dans les produits électroniques est réglementée par des directives internationales, telles que RoHS-3, DEEE, VHU, l'Administration sur le contrôle de la pollution causée par les produits d'information électronique (équivalent chinois de la RoHS) et d'autres directives. Toutes ces directives ont une portée sensiblement différente, mais les points communs sont la restriction du cadmium, du plomb, du mercure, du chrome hexavalent et de plusieurs agents ignifuges phényliques bromés.
La norme ASTM F2617-15 est une méthode de test acceptée pour quantifier la concentration des éléments et composés restreints. Notre fiche technique démontre les capacités de l'Epsilon 1 à se conformer à la norme ASTM F2617-15, même avec une taille de point d'analyse de 0,8 x 1,2 mm.
Epsilon 1 pour l'analyse de petits points est utilisé pour un large éventail d'applications dans le monde entier, notamment :
| Chargement d'échantillon | Positionnement de l'échantillon avec caméra couleur et pointeur projeté numérique |
|---|---|
| Taille d'échantillon | Tout échantillon présentant des dimensions maximales de 15 x 12 x 10 cm (lxpxh) |
| Safety | Protection contre les dommages et la poussière |
| Features | Tube à fenêtre latérale en semi-céramique à haute stabilité de 15 watts
Anode argent, idéale pour la plupart des éléments du système périodique |
|---|---|
| Current | Courant max. de 1,5 mA garantissant une sensibilité maximale des traces |
| Voltage | Tension max. de 50 kV, idéale pour l'analyse d'éléments plus lourds |
| Résolution | Haute résolution, généralement de 135 eV |
|---|---|
| Features | Détecteur SDD10 avec caapcité élevée du taux de comptage
Fenêtre de béryllium fine hautement transparente |
| Logiciels | Analyse sans étalon Omnian, prête à l'emploi pour n'importe quel échantillon |
|---|---|
| Stockage | Stockage automatique de l'image caméra
|
| Interface | Mode opérateur pour une utilisation facile
Mode avancé pour configurer des applications dédiées
|
Claisse fournit à ses clients du monde entier des matériaux de référence certifiés (CRM) et des matériaux de référence (RM) de qualité à des prix compétitifs. Quels que soient vos besoins, Claisse s'efforce de vous fournir les services complets nécessaires pour obtenir la solution idéale pour vos analyses spectroscopiques XRF, AA et ICP.
La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical. Le logiciel offre toutes les fonctions nécessaires à la configuration et au fonctionnement d'un système de paillasse Epsilon. L'assemblage du programme analytique est grandement facilité par le haut degré d'intelligence intégré au logiciel, ce qui permet aux utilisateurs de bénéficier d'un demi-siècle d'expertise en applications. L'analyse XRF quotidienne est une tâche de routine qui peut être facilement réalisée par du personnel inexpérimenté après un minimum d'instructions. De nombreuses fonctionnalités sont présentes pour améliorer l'ergonomie du logiciel.
Le module logiciel Stratos est doté d'un algorithme qui permet de déterminer simultanément la composition chimique et l'épaisseur des couches de matériaux à partir des mesures effectuées. Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches. Virtual Analyst fournit des informations lors de la configuration des programmes de mesure pour les piles complexes.
Disponible à la fois pour les spectromètres EDXRF Epsilon 4 et XRF Zetium, Stratos offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.
Le système Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalon certifié. Progiciel d'analyse sans étalon avant-gardiste, Omnian intègre un logiciel de pointe et des échantillons de configuration qui transcendent les technologies. Disponible pour les spectromètres Epsilon 1, Epsilon 4 et Zetium, Omnian offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.
Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon 4 est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt. FingerPrint implique généralement peu ou pas de préparation d'échantillons et n'est pas destructif.
Le module EDS (Enhanced Data Security) est une option logicielle qui offre une meilleure confiance dans les résultats pour les utilisateurs du spectromètre XRF Zetium (via le logiciel SuperQ) et du spectromètre XRF Epsilon. Grâce à des fonctionnalités telles que la gestion avancée des utilisateurs, la consignation des actions, la protection des données et l'affectation de l'état des applications, EDS vous aide à renforcer votre piste d'audit, à minimiser les risques d'erreur et à prouver que votre instrument XRF fonctionne comme prévu.
Conservez une longueur d'avance grâce l'expertise de Claisse dans la fusion.
L'instrument de fusion Claisse LeNeo prépare des perles pour l'analyse XRF ainsi que des solutions de borate et de peroxyde pour les analyses AA et ICP. Il s'agit d'un instrument électrique à une seule position.
Pour en savoir plus
Une fois installé correctement, votre nouveau système Epsilon 1 vous donnera des résultats d'analyse fiables. L'installation d'un système Epsilon 1 est simple : déballez le système, branchez-le et suivez les instructions qui vous guideront. Enfin, un simple test de rayonnement conclut l'installation et permet de confirmer que votre système fonctionne en toute sécurité. Oui, commencer à utiliser votre système Epsilon 1 n'est pas plus compliqué que ça. Et, plus important encore, soyez assuré que votre système est fourni avec la certification de sécurité nécessaire.
L'installation intelligente vous permet de mettre de nouveaux instruments en service même en cas de circonstances inattendues ou lorsqu'un établissement est trop éloigné pour qu'un ingénieur y accède. Pour l'Epsilon 1, nous proposons une installation intelligente guidée qui vous permet d'installer le système vous-même et de maintenir l'intégrité de l'instrument et de sa certification de sécurité.
Avantages de l'installation intelligente guidée :
En savoir plus sur l'installation intelligente.
Numéro de version: 1
Numéro de version: 5
Numéro de version: 5
Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.
Regardez notre série de vidéos d'instructions de base pour en savoir plus sur l'Epsilon 1 :
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
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