Take your lab to the sample | Technical guide. Download now

Download now

Epsilon 1 pour l'analyse de cartographie élémentaire

Focalisez-vous sur les détails pour saisir la vision d'ensemble

Avez-vous besoin d'une analyse élémentaire de petits objets ou de petites inclusions dans des appareils électroniques, jouets, bijoux, roches ou produits finis ? L'Epsilon 1 pour analyse de cartographie élémentaire, un spectromètre de fluorescence X compact avec une taille de point d'analyse de 0,8 x 1,2 mm, est la solution analytique idéale pour une analyse modulable et précise.

En raison de sa conception autonome et de son faible encombrement, l'Epsilon 1 peut être placé à proximité de l'emplacement échantillon, ce qui fait de l'instrument une solution idéale pour toute analyse élémentaire sur les sites de production, les sites d'exploration, le comptoir d'un magasin, voire sur des scènes de crime pour les enquêtes médico-légales. Les performances du spectromètre répondent aux méthodes de test standard requises par différentes directives et réglementations sur divers marchés de l'industrie, comme la RoHS-3 pour les composants électroniques et la CPSIA pour de nombreux biens de consommation.

Télécharger la brochure
Demander un devis Contact commercial

Présentation générale

Quantification robuste et modulable

Des résultats immédiats sont fournis pour une vaste gamme d'applications, comme l'inspection de la RoHS-3, des DEEE, des VHU, des jouets, des bijoux, des roches et des produits finaux. Cela est possible grâce à Omnian, le progiciel d'analyse sans étalon de pointe de PANalytical, également utilisé sur les instruments de spectrométrie de fluorescence X plus avancés.  

En tant que solution originale, Omnian peut être utilisé pour analyser un large éventail de compositions élémentaires, du sodium à l'américium dans l'ensemble du tableau périodique. 

Periodic Table GENERIC MP style.jpg

Grâce à des calibrages dédiés, il est possible de suivre les méthodes de test internationales, comme ASTM F2617 (RoHS) ou d'analyser des éléments conformément aux spécifications décrites dans la norme ASTM F963 (jouets) et la norme CEI 62123 (éléments électroniques).

Conformité à la norme ASTM F2617-15-2 en matière de RoHS-3

La spectrométrie de fluorescence X est une solution éprouvée de criblage et de quantification des métaux et composés toxiques. La teneur en métaux toxiques dans les produits électroniques est réglementée par des directives internationales, telles que RoHS-3, DEEE, VHU, l'Administration sur le contrôle de la pollution causée par les produits d'information électronique (équivalent chinois de la RoHS) et d'autres directives. Toutes ces directives ont une portée sensiblement différente, mais les points communs sont la restriction du cadmium, du plomb, du mercure, du chrome hexavalent et de plusieurs agents ignifuges phényliques bromés. La norme ASTM F2617-15 est une méthode de test acceptée pour quantifier la concentration des éléments et composés restreints. Notre fiche technique démontre les capacités de l'Epsilon 1 à se conformer à la norme ASTM F2617-15, même avec une taille de point d'analyse de 0,8 x 1,2 mm.

Conformité à la norme ASTM F2617-15-2 en matière de RoHS-3

Fonctionnalités

Analyse non destructive

Les mesures sont réalisées directement sur l'échantillon proprement dit avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Dans la mesure où la spectrométrie de fluorescence X est une technique non destructive, l'échantillon peut également être mesuré ultérieurement par d'autres techniques d'analyse, si nécessaire.
Analyse non destructive

Analyse de cartographie élémentaire

Les petites parties ou les petites inclusions dans des échantillons peuvent être facilement analysées à l'aide d'un faisceau de rayons X collimaté. La taille du point sur l'échantillon est généralement de 0,8 x 1,2 mm.
Analyse de cartographie élémentaire

Positionnement de l'échantillon

À l'aide de la caméra couleur et du pointeur dans la photo, l'utilisateur peut positionner manuellement l'échantillon sur le point d'analyse de l'instrument.
Positionnement de l'échantillon

Rapport d'analyse

Après chaque analyse, une photographie du point d'analyse est stockée sur l'ordinateur intégré. En un seul clic, un rapport d'analyse qui inclut la photographie est généré.
Rapport d'analyse

Applications clés

Applications clés :

• RoHS-3 (ASTM F2617-15)
• Jouets (ASTM F963-16)
• Bijoux
• Roches hétérogènes
• Inclusions de polymères
• Inspection du produit
• Expertise légale

Spécifications

Manipulation des échantillonsTube à rayons XDétecteurFonctions logicielles
Tout échantillon présentant des dimensions maximales de 15 x 12 x 10 cm (lxpxh)Tube à fenêtre latérale en semi-céramique à haute stabilité de 15 wattsHaute résolution, généralement de 135 eVAnalyse sans étalon Omnian, prête à l'emploi pour n'importe quel échantillon
Positionnement de l'échantillon avec caméra couleur et pointeur projeté numériqueCourant max. de 1,5 mA garantissant une sensibilité maximale des tracesDétecteur SDD10 avec caapcité élevée du taux de comptageStockage automatique de l'image caméra
Protection contre les dommages et la poussièreAnode argent, idéale pour la plupart des éléments du système périodiqueFenêtre de béryllium fine hautement transparenteMode opérateur pour une utilisation facile
Tension max. de 50 kV, idéale pour l'analyse d'éléments plus lourdsMode avancé pour configurer des applications dédiées

Accessoires

Étalons (matériaux de référence)

RoHS

Analyse élémentaire précise des matériaux limités par la norme LdSD
RoHS

TOXEL

Analyse précise par spectrométrie de fluorescence X des éléments toxiques dans les polymères et les plastiques
TOXEL

MRC

Claisse est toujours là pour répondre à vos besoins !
MRC

Logiciels

Logiciel Epsilon

La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical.

Logiciel Epsilon

Stratos

Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches.
Stratos

Omnian

Le logiciel Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalons certifiés.

Omnian

FingerPrint

Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt.

FingerPrint

Assistance

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Automatisation des procédés de laboratoire
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels

Services analytiques et matériel d'étalonnage

  • Services d'analyses d'experts (XRF)
  • Analyse d'oxydes et d'éléments traces
  • Matériel d'étalonnage personnalisé