Ferrous metal production is monitored continuously during the manufacturing process and as the final product. It must be ensured that material streams are consistent in elemental, structural and particle size composition as well as physical characteristics.

Malvern Panalytical offers flexible, robust analytical solutions for the manufacturing process of iron and steel covering: 

  • Iron sinter monitoring 
  • Direct reduced iron analysis 
  • Steel quality control 

To reduce energy costs during the production of iron sinter, pig iron or steel, frequent monitoring and fast response to the processes are mandatory. For example, the use of 1 kg less coke per ton produced iron sinter correspond to more than €1 million savings during the yearly sinter production.    

Investigating the composition and particle size and shape of metals and alloys is fundamental to gain an understanding of their physical properties and guaranty quality requirements.

Morphologi 시리즈

Morphologi 시리즈

수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술

자세한 내용은
측정 입자의 화학적 성분, 입자 형상, 입자 크기
입도 범위 0.5µm - 1000µm
기술 유형 이미지 분석
분산 유형 습식, 건식

Empyrean

Empyrean

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

자세한 내용은
측정 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 텍스처 분석, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
고니오미터 구성 Vertical goniometer, Θ-Θ
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD)

Aeris 금속 모델

Aeris 금속 모델

제강 공정 최적화

자세한 내용은
측정 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification
X 선관 음극 재료 Co / Cu (option)
검출기 PIXcel1D
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD)

Zetium의 Metals 에디션

Zetium의 Metals 에디션

금속 내 새로운 원소

자세한 내용은
측정 박막 계측학, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
샘플 처리량 160per 8h day - 240per 8h day
전원 2,4-4 kW
기술 유형 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Axios FAST

Axios FAST

고속 샘플 처리

자세한 내용은
측정 박막 계측학, Elemental analysis, Elemental quantification
원소 범위 Be-U
해상도(Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
샘플 처리량 240per 8h day - 480per 8h day
기술 유형 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Morphologi 시리즈

Morphologi 시리즈

수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술

Empyrean

Empyrean

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

Aeris 금속 모델

Aeris 금속 모델

제강 공정 최적화

Zetium의 Metals 에디션

Zetium의 Metals 에디션

금속 내 새로운 원소

Axios FAST

Axios FAST

고속 샘플 처리

자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은
측정 입자의 화학적 성분, 입자 형상, 입자 크기 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 텍스처 분석, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification 박막 계측학, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification 박막 계측학, Elemental analysis, Elemental quantification
입도 범위 0.5µm - 1000µm        
고니오미터 구성   Vertical goniometer, Θ-Θ      
X 선관 음극 재료     Co / Cu (option)    
검출기     PIXcel1D    
샘플 처리량       160per 8h day - 240per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day
전원       2,4-4 kW  
원소 범위         Be-U
해상도(Mg-Ka)         35eV
LLD         0.1 ppm - 100%
기술 유형 이미지 분석 X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
분산 유형 습식, 건식        

Morphologi 시리즈

Empyrean

Aeris 금속 모델

Zetium의 Metals 에디션

Axios FAST

Morphologi 시리즈 Empyrean Aeris 금속 모델 Zetium의 Metals 에디션 Axios FAST

수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

제강 공정 최적화

금속 내 새로운 원소

고속 샘플 처리

자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은
기술 유형
이미지 분석
X-ray Diffraction (XRD)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)