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미소부위 분석용 Epsilon 1

미소 분석을 통한 큰 그림 보기

가전제품, 장난감, 보석류, 암석 또는 완제품에 포함된 작은 물질이나 함유물에 대한 원소 분석이 필요한 경우 0.8 x 1.2mm 크기의 미소부위 분석용 소형 Epsilon 1 X선 형광 분광기는 유연성 있는 정밀한 즉석 분석을 위한 이상적인 분석 솔루션입니다.

독립형 설계 방식이 적용되었고 차지하는 공간이 작기 때문에 Epsilon 1은 샘플 위치와 가까운 곳에서 사용할 수 있어 생산 시설, 탐사 현장, 매장 카운터 또는 법의학 조사를 위한 범죄 현장에서 어떠한 원소 분석을 위해서도 이상적입니다. 분광기의 성능은 다양한 산업 분야의 시장에서 전자 제품용 RoHS-3 및 다양한 소비재용 CPSIA와 같이 서로 다른 지침과 규정에서 요구하는 표준 테스트 방법을 만족합니다.

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개요

신뢰성 및 유연성을 제공하는 정량 분석

RoHS-3, WEEE, ELV, 장난감, 보석류, 암석 및 완제품 검사와 같은 다양한 범위의 응용 분야에서 즉석의 분석 결과를 제공합니다. 이는 시장을 선도하는 PANalytical의 무표준 분석 소프트웨어 패키지로서 더욱 고급형 XRF 기기에도 사용되는 Omnian을 통해 가능합니다.  

새로운 방식의 솔루션인 Omnian은 전체 주기율표에서 나트륨에서부터 아메리슘에 이르는 다양한 원소 조성을 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 

Periodic Table GENERIC MP style.jpg

전용 보정 방법을 사용하여 ASTM F2617(RoHS)과 같은 국제적 표준 테스트 방법을 따르거나, ASTM F963(장난감) 및 IEC 62123(전자 제품)에 명시된 사양에 따라 스크리닝할 수 있습니다.

RoHS-3에 대한 ASTM F2617-15 요건 준수

XRF는 독성 금속 및 화합물의 스크리닝과 정량화를 위해 널리 사용되는 솔루션입니다. 전자 제품에 포함된 독성 금속 함량은 RoHS-3, WEEE, ELV, 전자정보 제품 오염 방지관리법(RoHS와 동등한 중국 규정) 등의 국제적 지침과 기타 이와 유사한 지침에 의해 규제됩니다. 이들 지침은 모두 범위가 약간씩 다르지만 공통적으로 카드뮴, 납, 수은, 6가 크롬 및 일부 브롬화 페닐 난연재의 사용에 제한을 둡니다. ASTM F2617-15는 제한 원소 및 화합물의 농도 정량화를 위해 널리 사용되는 테스트 방법입니다. 당사의 데이터 시트는 0.8 x 1.2mm의 샘플 크기에서도 ASTM F2617-15의 요건을 준수하는 Epsilon 1의 성능을 보여줍니다.

RoHS-3에 대한 ASTM F2617-15 요건 준수

특징

비파괴 분석

샘플 준비가 거의 또는 아예 필요 없이 샘플에서 직접 측정을 수행합니다. XRF는 비파괴 기법을 사용하기 때문에 필요한 경우 계속해서 다른 분석 기법을 사용하여 샘플을 측정할 수도 있습니다.
비파괴 분석

미소 분석 부위

시준된 X선 빔을 사용하여 작은 조각 또는 샘플에 함유된 물질을 쉽게 분석할 수 있습니다. 미소 샘플의 크기는 일반적으로 0.8 x 1.2mm입니다.
미소 분석 부위

샘플 위치 설정

컬러 카메라와 사진 속 십자선을 사용하여 기기의 분석 지점에 샘플 위치를 수동으로 설정할 수 있습니다.
샘플 위치 설정

분석 보고서

각각의 분석을 완료하면 분석 부위의 사진이 내장형 컴퓨터에 저장됩니다. 단 한 번의 클릭으로 이 사진이 포함된 분석 보고서가 생성됩니다.
분석 보고서

주요 응용 분야

주요 응용 분야:

• RoHS-3(ASTM F2617-15)
• 장난감(ASTM F963-16)
• 보석류
• 이질성 암석
• 고분자 포섭
• 제품 검사
• 법의학

사양

샘플 처리X선관검출기소프트웨어 특징
최대 치수가 15x12x10cm(WxDxH)인 모든 샘플15와트 고안정성 반세라믹 측면 창 튜브일반적으로 135eV의 높은 분해능어떠한 샘플에 대해서도 사용 가능한 Omnian 무표준 분석
컬러 카메라 및 디지털 투영 십자선을 통한 샘플 위치 설정미량 원소 분석 시 최대 감도 활성화를 위한 최대 전류 1.5mA 높은 계수율 용량을 가진 SDD10 검출기카메라 사진의 자동 보관
먼지 및 손상으로부터 보호대부분의 주기율표 원소에 이상적인 은 양극투명도가 높은 얇은 베릴륨 창간편한 작동을 위한 오퍼레이터 모드
더 무거운 원소 분석에 이상적인 최대 전압 50kV전용 응용 분야 설정을 위한 고급 모드

악세서리

표준(참조 물질)

RoHS

RoHS 제한 물질의 정확한 원소 분석
RoHS

TOXEL

XRF를 사용한 폴리머 및 플라스틱 내 독성 원소의 정확한 분석
TOXEL

CRM

Claisse는 항상 여러분의 필요를 충족시키기 위해 존재합니다!
CRM

소프트웨어

Epsilon 소프트웨어

Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 벤치톱 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다.

Epsilon 소프트웨어

Stratos

이 소프트웨어는 코팅, 표면층 및 다층 구조를 분석하는 빠르고 간단하며 비파괴적인 수단을 제공합니다.
Stratos

Omnian

Omnian 소프트웨어를 사용하면 전용 분석법이나 인증된 표준물질이 없더라도 가장 최적의 분석을 수행할 수 있습니다.

Omnian

FingerPrint

Epsilon EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 물질 테스트에 이상적입니다.

FingerPrint

지원팀

서비스

투자 수익 극대화를 위한 솔루션

장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.

지원팀

평생 서비스

  • 전화 및 원격 지원
  • 예방적 유지보수 및 점검
  • 유연한 고객 관리 계약
  • 성능 인증서
  • 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
  • 지역 및 글로벌 지원

전문 기술

공정에 가치 추가 

  • 샘플 준비 개발/최적화
  • 분석 방법 
  • XRD를 위한 턴키 솔루션 
  • IQ/OQ/PQ, 품질 보증(GLP, ISO17025) 또는 순차순환/연구실 간 연구를 통한 운영
  • 연구실 공정 자동화
  • 자문 서비스

훈련 및 교육

  • 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
  • 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정

분석 서비스 및 교정 물질

  • 전문가(XRF) 분석 서비스
  • 산화물 및 미량 분석
  • 맞춤형 교정 물질