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Claisse는 항상 여러분의 필요를 충족시키기 위해 존재합니다!
Claisse는 전 세계의 고객에게 경쟁력 있는 가격으로 CRM(인증 표준 물질) 및 RM(표준 물질)을 제공합니다. Claisse는 XRF, AA 및 ICP 분광 분석을 위한 완벽한 솔루션을 얻는 데 필요한 모든 서비스를 제공하기 위해 노력하고 있습니다.
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Download nowEpsilon 1 ULS는 이상적인 분석 솔루션입니다.
공장에서 사전 보정된 당사의 기기는 연료의 낮은 황 성분을 분석하기 위해 즉시 사용 가능한 솔루션이며 ISO 13032 및 ASTM D4294, ISO 20847, ISO 8754, IP496, IP336, JIS K2541-4와 같은 기타 여러 황 관련 국제 테스트 방법을 준수합니다.
Epsilon 1 ULS는 최소 샘플 준비와 헬륨이 필요 없는 5ppm 황 및 염소로부터 시작하는 정밀하고 정확한 데이터를 제공하므로 총 운영 비용을 최소로 유지할 수 있습니다.
Epsilon 1은 자동차 연료의 초저황 분석을 위해 사전 보정된 우수한 품질의 탁상용 X선 형광 기기입니다.
가장 엄격한 다음 기준을 포함하여 최신 국제 테스트 방법을 완벽하게 준수합니다. ISO 13032. 유황에 대한 반복성 테스트 결과는 이 표준으로 설정된 제한 범위 내에 있습니다.
원유 내 염소의 미량 분석 방법을 찾고 계십니까? 당사는 이를 Epsilon 1 ULS 기기에 대한 또 다른 사전 보정 옵션으로 제공합니다.
유황 및 염소에 대한 최대 감도
Malvern Panalytical에서 특별히 설계하고 제조한 얇은 창 바나듐 양극 X선 선관은 높은 감도와 최고 품질의 측정을 보장합니다. 바나듐을 양극용 소재로 사용하여 XRF 스펙트럼에서 잠재적인 라인 중첩으로 인한 간섭 없이 황 및 염소 성분에 대한 정량화에 이상적이며 이를 통해 결과의 신뢰성과 정확도를 높여 줍니다. 또한, 고객들은 촉매를 보호하는 데 필요한 수준에서 바나듐 및 니켈 분석이 가능하다는 사실을 알게 되면 기쁠 것입니다.
헬륨 가스가 필요 없습니다.
Epsilon 1은 최소한의 샘플 준비 및 운영 비용으로 정확하고 정밀한 데이터를 제공합니다. 높은 자극 강도 및 검출 구성 요소가 있어 헬륨 가스가 없어도 ISO 13032를 준수할 수 있습니다. 기기에 설치된 공기 압력 및 온도 센서가 고급 소프트웨어 알고리즘과 결합되어 주변 환경 조건과 관계없이 모든 측정 결과가 안정적으로 도출되도록 합니다. 이러한 혁신 덕분에 총 운영 비용이 최소한으로 유지됩니다.
외부 물질 침투로부터 보호
외부 물질 침투 보호용 포일이 정교한 시스템 핵심부를 보호합니다. 외부 물질과 접촉이 일어난 경우 오퍼레이터가 쉽게 포일을 교체할 수 있습니다.
간편한 통신
표준 컴퓨터 주변 장치용 USB 및 네트워크 연결을 통해 사용의 확장성, 응용 프로그램 개발 및 앉아서 작업하는 오퍼레이터를 지원합니다.
독립형 시스템
강력한 CPU와 120GB 하드 드라이브를 갖춘 Microsoft Windows 10으로 구동되는 내장 컴퓨터를 통해 수많은 결과를 유연하게 저장하고 처리할 수 있습니다. 고해상도의 10.4” LCD 터치스크린은 간편하고 준비된 작동에 이상적입니다.
이 기기 구성은 석유화학 부문, 특히 황 및 염소가 중요한 요소인 정유 공장에 적합하도록 특별히 설계 및 제조되었습니다.
Epsilon 1은 다음과 같은 EDXRF 기기에 대한 다양한 황 관련 국제 테스트 방법을 준수합니다.
샘플 로딩 | 반복성이 우수한 샘플 위치 설정 |
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샘플 크기 | 일반적으로 5ml의 액체 |
Safety | 액체의 침투로부터 보호 |
규제 시험 | ISO 13032를 준수하는 황 분석
원유의 염소 분석 |
Features | 안정성이 높은 세라믹 측면 창
50 마이크로미터 두께의 창(Be) 바나듐 양극, 황 및 염소 분석에 이상적 |
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전원 | 소프트웨어를 통해 조절되는 최대 전압 30 kV |
해상도 | 일반적으로 135eV의 높은 분해능 |
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Features | 8 마이크로미터 두께의 창(Be)
높은 계수율 용량 |
소프트웨어 | 요구 사항에 따라 선택 사항입니다. 예:
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인터페이스 | 간편한 사용을 위해 큰 버튼을 사용하는 오퍼레이터 모드
다양한 기능을 가진 고급 모드
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Claisse는 전 세계의 고객에게 경쟁력 있는 가격으로 CRM(인증 표준 물질) 및 RM(표준 물질)을 제공합니다. Claisse는 XRF, AA 및 ICP 분광 분석을 위한 완벽한 솔루션을 얻는 데 필요한 모든 서비스를 제공하기 위해 노력하고 있습니다.
Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 벤치톱 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다. Epsilon 소프트웨어는 Epsilon 벤치탑 시스템을 설정하고 운용하는 데 필요한 모든 기능을 제공합니다. 분석 프로그램 어셈블리가 소프트웨어에 내장된 높은 수준의 인텔리전스를 통해 활용되므로 사용자는 반세기에 이르는 작업 전문 지식을 활용할 수 있습니다. 이제 경험이 없는 직원도 최소한의 교육만 받으면 매일 반복되는 XRF 분석 작업을 일상적인 작업으로 편리하게 수행할 수 있습니다. 소프트웨어의 유용성을 향상시키기 위해 많은 기능이 제공됩니다.
Stratos 소프트웨어 모듈은 측정에서 획득한 층상 재료의 화학적 조성과 두께를 동시에 확인할 수 있는 알고리즘을 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어는 코팅, 표면층 및 다층 구조를 분석하는 빠르고 간단하며 비파괴적인 수단을 제공합니다. Virtual Analyst는 복잡한 스택에 대한 측정 프로그램을 설정하는 동안 인텔리전스를 제공합니다.
Epsilon 4 EDXRF 및 Zetium XRF 분광계에 사용할 수 있는 Stratos는 샘플 유형 또는 매트릭스에 관계없이 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다.
Omnian을 사용하면 전용 기법이나 인증된 표준물질이 존재하지 않는 상황에서도 가능한 최고의 분석을 수행할 수 있습니다. 트렌드세팅 비표준 분석 패키지인 Omnian은 기술을 초월한 첨단 소프트웨어와 설정 시료를 통합합니다. Epsilon 1, Epsilon 4 및 Zetium 분석기에 사용할 수 있는 Omnian은 시료 유형 또는 매트릭스에 관계없이 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다.
Epsilon 4 EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 재료 테스트에 이상적입니다. FingerPrinting은 일반적으로 샘플 전처리가 거의 또는 전혀 필요하지 않으며 비파괴적입니다.
EDS(Enhanced Data Security) 모듈은 Zetium XRF 분광계(SuperQ 소프트웨어를 통해) 및 Epsilon XRF 분광계 사용자에게 결과의 신뢰성을 높여 주는 소프트웨어 옵션입니다. EDS는 고급 사용자 관리, 액션 로깅, 데이터 보호, 작업 프로그램 상태 지정 등의 기능을 통해 감사 추적을 강화하고 오류 위험을 최소화하며 XRF 장비가 예상대로 작동하고 있음을 입증할 수 있도록 지원합니다.
Epsilon 1을 올바르게 설치하면 신뢰할 수 있는 분석 결과를 얻을 수 있습니다. Epsilon 1은 간단하게 설치할 수 있습니다. 시스템의 포장을 풀고 플러그를 꽂은 다음, 안내 지침을 따르십시오. 마지막으로 간단한 방사선 검사를 통해 설치를 완료하고 시스템이 안전하게 작동하는지 확인합니다. Epsilon 1을 사용하는 것은 정말 쉽습니다. 그리고 더 중요한 것은 시스템에 필요한 안전 인증이 제공된다는 점입니다.
예기치 않은 상황이나 원격 위치로 인해 엔지니어가 시설에 접근할 수 없는 경우에도 자체 설치를 통해 새 장비를 가동하고 실행할 수 있습니다. Epsilon 1의 경우 안내에 따른 자체 설치를 제공하여 시스템을 직접 설치하고 장비의 무결성과 안전 인증을 유지할 수 있습니다.
안내에 따른 자체 설치의 이점:
버전 번호: 1
버전 번호: 5
최신 소프트웨어 버전에 대한 지원을 문의 하십시오
Epsilon 1에 대한 자세한 내용은 당사의 기본 지침 동영상 시리즈를 참조하십시오.
장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.
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