X선 형광 (XRF) 분광법은 다양한 유형의 물질로부터 원소 정보를 얻는 데 사용되는 비파괴 분석 기술입니다.
이 기술은 시멘트 생산, 유리 생산, 채광, 미네랄 선광, 철, 강철 및 비철금속, 석유 및 석유화학 제품, 고분자 및 관련 산업, 법의학, 의약품, 건강관리 제품, 환경, 식품 및 화장품 등의 여러 산업과 응용분야에 사용됩니다.
분광계 시스템은 일반적으로 파장 분산 시스템(WDXRF)과 에너지 분산 시스템(EDXRF)의 두 가지 주요 그룹으로 나뉩니다. 두 시스템의 차이는 검출 시스템에 있습니다.
EDXRF 작동 방법
모든 분광계의 기본 개념은 방사선원, 검체 및 검출 시스템입니다. EDXRF 분광기에서 광원 역할을 하는 x선관으로부터 샘플에 직접 조사하여 샘플에서 나오는 형광을 에너지 분산 검출기로 측정합니다. 이 검출기는 검체에서부터 직접 방출되는 특징적인 방사선의 서로 다른 에너지를 측정할 수 있습니다. 검출기는 검체로부터 나오는 방사선을 검체에 존재하는 다른 원소로부터의 방사선과 분리할 수 있습니다. 이러한 분리를 분산이라고 합니다.
EDXRF 분광법의 장점
- 작고 간단한 기기 설계
- 유지보수가 거의 필요하지 않음
- 물, 압축 공기 또는 기체가 필요하지 않음
- 낮은 전력 소비
- 향상된 시스템 해상도
- 동시 원소 분석
