X선 분석

X선 회절(XRD) 및 X선 산란을 사용하여 샘플의 결정 구조(X선 결정화)를 분석하거나 샘플의 결정 상(phase)(X선 분말 회절/XRPD)을 식별 및 정량화할 수 있습니다. 

X선 회절분석기는 도구와 액세서리로 확장하여 물체의 내부 구조를 시각화하거나 X선 산란을 사용하여 나노입자의 크기 분포를 결정할 수 있습니다.    

X선 형광(XRF)은 물질의 원소 조성을 결정하기 위해 널리 사용되는 비파괴 고속 기법으로 샘플 전처리가 최소한으로만 필요합니다. 

XRF 분석기는 수입품의 독성 원소 선별 검사부터 처리량이 많은 생산 핵심 환경의 정밀한 분석에 이르기까지 다양한 분야에 사용할 수 있습니다. 

Malvern Panalytical은 고객의 문제를 해결할 수 있는 다양한 XRF 분석기를 보유하고 있습니다.

X선 흡수 분광법(XAS)은 물질에 포함된 원소의 국소 화학 환경, 산화 상태, 원소 조정을 조사하는 데 사용되는 강력한 원소 단위 기법입니다.

XAS는 원소의 흡수단에서 에너지가 변화함에 따라 X선이 어떻게 흡수되는지 측정함으로써 회절 기법이 한계를 보일 수 있는 비정질, 무질서 또는 희석 시스템에서도 전자 구조 및 단거리 질서에 대한 자세한 정보를 제공합니다.

또한 XAS는 X선 흡수단 구조(XANES)와 확장된 X선 흡수 미세 구조(EXAFS)와 같은 기술을 포괄하므로 촉매, 에너지 저장, 환경 과학, 채광, 첨단 소재, 생명 과학 분야 연구에 귀중한 정보를 제공합니다.

Malvern Panalytical은 연구자들에게 재료 화학 및 구조에 대한 심층적인 통찰력을 얻을 수 있는 XAS 솔루션을 제공합니다.

XRD, XRF, XAS는 모두 X선 상호 작용을 사용하여 물질에 대한 정보를 제공하기 때문에 몇 가지 유사점을 지니고 있는 기법이며 서로를 보완합니다. 그러나 각 기법에서 제공하는 정보는 매우 다릅니다.

XRD는 샘플에 존재하는 결정 상(phase)에 대한 정보를 제공하며, 화합물을 구분할 수 있습니다. 다양한 산화 상태(Fe₂O₃/Fe₃O₄) 또는 여러 가지 다형체(히머테이트 vs 마헤마이트, 둘 다 페릭 옥사이드 Fe₂O₃)의 구분을 예로 들 수 있습니다.

XRF는 샘플의 화학적(원소) 조성, 즉 어떤 원소(Fe, O)가 있고 그 양이 얼마인지에 대한 정보를 제공합니다. XRF의 주요 장점 중 하나는 화학 원소의 양을 100ppb(10억분율)까지 검출할 수 있다는 것입니다. XRF 샘플 전처리도 다른 기법에 비해 빠르고 쉽고 안전합니다.

XAS는 특정 원소의 국소 원자 환경 및 전자 구조에 대한 정보를 제공합니다. 산화 상태, 조정 수, 결합 거리, 화학적 종분화를 결정할 수 있으므로 촉매, 배터리 소재, 지질 샘플, 복잡한 기능성 물질을 연구하는 데 특히 유용합니다.

이러한 기법을 함께 사용하면 물질의 조성, 구조, 화학적 특성을 종합적으로 이해할 수 있습니다.