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2830 ZT

2830 ZT 파장 분산형 X선 형광(WDXRF) 웨이퍼 분석기는 필름 두께와 구조 측정을 위한 완벽한 기능을 갖추고 있습니다. 반도체 및 데이터 저장 산업을 위해 특수하게 설계된 2830 ZT 웨이퍼 분석기는 최대 300mm에 이르는 다양한 웨이퍼에 대해 층 구조, 두께, 불순물 수준, 표면 균일성을 측정할 수 있습니다.
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장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.

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  • 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
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  • 자문 서비스

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  • 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
  • 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정

분석 서비스 및 교정 물질

  • 전문가(XRF) 분석 서비스
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