金屬塗佈分析解決方案
由於使用多層純金屬或合金來強化產品的部分特性,因此精準判斷塗佈厚度非常重要。金屬塗佈的品質控制需要非破壞性的金屬分析,以及物理特性的詳細分析。X 光螢光 (XRF)、顆粒形狀分析和 X 光繞射 (XRD) 為非破壞性、非接觸式的分析技術,僅需些微樣本製備或不需樣本製備,因此非常適合此應用。
典型應用包括: