优化工艺控制。
马尔文帕纳科工艺颗粒测量系统提供必要的实时数据,以便:
马尔文帕纳科与加工设备供应商及运营团队共同协作。 分析决窍与应用经验可为各类工艺提供稳健的解决方案并得出需要的可靠数据,从而达成制造目标。
![]() Insitec 線上粒徑分析儀系列稳健可靠的实时粒径测量 |
![]() Parsum 線上粒徑分析儀系列线内探头使用空间滤波测速技术进行粒度测量 |
![]() Zetasizer 奈米粒徑電位分析儀系列應用廣泛的粒徑和Zeta電位量測系統,更多奈米顆粒、膠體樣品、生物分子的完整資訊 |
![]() Epsilon Xflow直接洞悉您的生产过程 |
|
---|---|---|---|---|
更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | |
技術類型 | ||||
激光衍射 | ||||
空间滤波测速技术 | ||||
能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) | ||||
动态光散射 | ||||
光散射 | ||||
静态光散射法 | ||||
电泳光散射法 |