Elemental Analysis 基礎知識與 XRF – 問答

X射線熒光光譜分析 (XRF) 是一種強大的分析技術,能夠為各種類型樣品(包括固體、液體、漿料和散粉)提供定性和定量信息。它可以定量分析從鈹(Be)到鋂(Am)中100%至亞ppm濃度水平的元素。XRF 被應用於許多行業,包括水泥、玻璃、礦業、礦物選礦、鐵、鋼和有色金屬、石油和石化、聚合物及相關行業、法醫、製藥、保健產品、環境、食品以及化妝品。

對於一些人來說,XRF 仍然是一種相對未知的技術。為了向您介紹 XRF 元素分析的更多選擇,我們提供了一系列三個免費網絡研討會。

  1. X射線熒光(XRF)的理論
  2. 能量分散(ED)與波長分散(WD)
  3. XRF 樣品準備的基礎

在網絡研討會期間和之後提出了許多問題,這些問題及其答案列在下面,以便您參考。如果您有任何進一步的問題,請不要猶豫,直接聯繫我 這裡

專題研討1:XRF 理論

XRF 是一種表面技術嗎?

XRF 是一種元素分析技術,可以在樣品中定量許多元素。在樣品中產生的特徵 X 射線光子具有特定的能量(keV),在前往探測器的過程中會被樣品中的其他原子吸收。信息深度取決於感興趣元素的能量和樣品類型(平均原子數)。這一深度範圍從一微米到幾厘米。例如,在黃銅樣品中,鎂(Mg-Ka)的信息深度為1微米,而在土壤中則為11微米;而在黃銅樣品中,錫(Sn-Ka)的信息深度為0.3毫米,而在土壤中為14毫米。因此,對於低能量元素,樣品表面的質量變得很重要。

XRF 是非破壞性的嗎?

在某些情況下,當樣品可以在沒有任何樣品準備的情況下使用低功率台式 EDXRF 儀器進行分析時,XRF 是非破壞性的。此時在測量後樣品依然完好無損。為了獲得最佳的準確結果,建議進行樣品準備,因此 XRF 技術無法被認為是非破壞性的。

另一方面,當使用 XRF 測量樣品後,該樣品仍可繼續接受其他任何分析技術的進一步分析。

XRF 的優勢是什麼?

XRF 是一種分析技術,可用於測定多種類型樣品(包括固體、液體、漿料和散粉)的化學成分。XRF 也用於測定層和塗層的厚度與成分,而且可輕鬆用於快速篩選(半定量)。它可以分析從鈹(Be)到鋂(Am)的元素,濃度範圍從100 wt% 到亞ppm水平。XRF 分析是一種魯棒技術,結合了高精度和快速、簡單的樣品準備。不需要酸和化學品,因為樣品不需要溶解進液體,也不需要稀釋。

XRF 的缺點是什麼?

XRF 也有其限制。XRF 是一種元素分析技術,因此會定量樣品中每種元素的總濃度。XRF 無法區分不同的氧化物。XRD 將是一種適合的方法。

XRF 可以定量100 wt% 到亞ppm水平的元素。但當濃度水平達到更低的ppb或ppt時,即使應用更長時間的測量,XRF 亦無法進行定量。

XRF 需要氦氣嗎?

XRF 儀器可以在沒有氦氣的情況下運行。當在落地式 WDXRF 儀器中分析液體時,需要氦氣。可以在空氣環境下運行的台式 EDXRF 儀器,即使分析液體也不需要氦氣。有時在分析低能量元素(在 F 和 Cl 之間)時會使用氦氣,以提高靈敏度。

XRF 能夠區分元素的不同形式(金屬 vs 氧化物)嗎?

XRF 是一種元素分析技術,因此會定量樣品中每個元素的總濃度。XRF 不能區分不同的氧化物。XRD 將會是一種適合的方法。

XRF 儀器的平均壽命是多少?

典型 XRF 儀器的平均壽命約為10年。壽命取決於儀器的工作條件、日常使用情況及服務頻率。某些儀器甚至超過10年,多達25年的落地式 WDXRF 儀器。

 
專題研討2:ED與WD-XRF

哪種方法更適合分析碳元素?

與 EDXRF 相比,WDXRF 更適合分析低能量元素(B 到 Na)。當使用落地式 WDXRF 儀器分析碳時,至少需要4 kW 的功率。使用專用分析晶體(PX4)和粗准直器(4000 µm)將進一步提高碳的靈敏度。   

使用 EDXRF 對碳和氮的檢測限是多少?

某些台式 EDXRF 儀器,如 Epsilon 4 可分析低能元素碳、氮和氟。與 WDXRF 相比,檢測限相對不太理想。預期典型的檢測限為幾 wt%。由於感興趣的元素能量非常低,信息深度低於一微米。此時樣品表面的質量變得很重要,因此樣品準備也就更重要。

什麼時候更適合使用 EDXRF?

與 WDXRF 相比,EDXRF 的優勢在於分析高能量元素(在 Ca 和 Sn 之間)。另外,XRF 光譜中的元素分辨率(=峰分離)對於元素在 Mo 和 Sn 之間的高能量範圍的分辨率優於 WDXRF。但樣品吞吐量、結果的準確性、基礎設施(占地面積)和預算也是需考慮的因素。

WDXRF 可以與 EDXRF 結合使用嗎?

在 Malvern Panalytical 中,落地式 WDXRF 儀器(Zetium)具有結合 EDXRF 技術的可能性,享受兩種技術的優勢。因此可以同時使用 EDXRF 和 WDXRF 以提升速度或吞吐量。

 
專題研討3:XRF 樣品準備

“通用校準”在這裡是什麼意思?

當校準涵蓋某用戶所擁有的所有(或大量)樣品類型時,我們稱之為“通用”校準。這樣的校準通常具有多個元素的廣濃度範圍。通傳過分析熔融珠來實現,這不會產生礦物學影響或顆粒尺寸影響。一個例子是在水泥廠的實驗室,一個 Clinker、石灰石、沙子、粘土、礦渣和鐵礦石的單一校準。例如,這樣的寬範圍校準,具有非常不同的基質,壓製顆粒是無法做到的。

是否有任何努力在理論上確定均勻度的程度?

樣品的均勻度可以根據所用評估參數和關心的變量以多種方式理解。通常,對於XRF光譜儀(元素化學分析),均勻度只能通過實驗來評估。有許多方法可以進行這種測試,其在很大程度上依賴於如顆粒尺寸分佈、存在相數、礦物學/組成/每個樣品的密度等變量。計算要求如所需分析物的精度、準確性和檢測限也是相關的。評估這些參數後,設計一個恰當的實驗以評估樣品均勻度。這通常涉及以具代表性的方式採取樣品的幾個小份,並為其中每個進行若干次重複分析。正確的結果統計分析將提供關於樣品均勻度程度的見解。

如果我必須分析岩石,這意味著一種多元素材料(包括主要和微量元素),您會推薦選用哪種方法,壓製顆粒還是熔融珠?

對地質材料中的主要、次要及微量元素進行分析的最佳方法是有兩種不同的應用:一個基於主要和次要熔融珠,另一個基於微量元素壓製顆粒。由於微量元素分析受礦物學和顆粒尺寸影響較小,壓製顆粒的結果是令人滿意的,而在熔融珠中,高稀釋使得微量元素分析通常不可能。

如有任何疑問,請不要猶豫與您當地的 Malvern Panalytical 代表聯絡,或直接與我聯繫 這裡

這篇文章可能已自動翻譯