材料元素組成的分析技術
材料的元素分析常是產品品質與安全性的重要參數。例如，為確保順暢運作及最佳效率，送入水泥窯爐的原料是否為正確的元素組成非常重要。
硫、鈉、鉀和汞等可能有害的元素是否存在也同等重要，由於這些元素可能會干擾製程或危害環境，因此必須嚴格監測。
最適合進行元素分析的技術視材料、地點和產業特定標準而定。
元素分析技術有許多種，可用於瞭解物質的元素組成。此技術可提供寶貴機會洞察材料的化學成分，進而協助研究人員和產業做出明智的決策。不論是分析藥物的純度、識別食品中的汙染物或將地質樣本分類均可應用。
X 光螢光光譜儀 (XRF) 是一種利用樣本曝露於 X 光輻射時所發出之特殊 X 光的非破壞性技術。
此技術廣泛用於多元應用的元素分析，包含合金識別、礦物探勘和製造品質控制。
脈衝快速熱中子活化 (PFTNA) 是一種專業技術，利用脈衝快速熱中子來活化材料。
此技術在分析各種樣本 (包含地質、環境與核能材料) 中的微量元素與同位素具有獨特優勢。
雷射誘發擊穿光譜 (LIBS) 技術採用高能量雷射脈衝聚焦樣品表面，能快速分析材料元素組成，且對樣品僅造成輕微破壞。此過程會產生微量電漿，並釋放出該樣品所含元素的特徵光譜。
手持式 LIBS 儀器因其快速、可攜帶的特性，以及能夠分析鋰、鈹、硼等輕元素的優勢而備受青睞 - 這些元素對其他分析技術而言往往具有挑戰性。其多樣性使其成為冶金、電池製造、礦業及環境監控等現場應用的理想選擇。
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ICP 是一種高溫電漿源，其會激發樣本中的原子與離子，可進行精準的元素定量。
此技術用途多元，可用於環境分析、地球化學及測定各種基質中的微量元素。
AAS 可測量樣本中自由原子所吸收的光。在定量生物與環境樣本中的微量金屬特別實用，因而對分析化學不可或缺。
NAA 以中子撞擊樣本，以引發核反應。此技術是一種靈敏的方法，可用於識別並定量廣泛材料中的微量元素，從考古學器物到法醫樣本皆適用。
Malvern Panalytical 擁有一系列元素分析儀，提供您元素分析技術的選擇。如果需要以最低限度的樣品製備達到精準分析，可考慮非常有吸引力的 X 光螢光光譜儀 (XRF) 技術。其已成為許多產業的元素組成分析「黃金標準」。
XRF 特別適合分析固體、粉體、漿體、過濾物和油品。針對線上分析輸送帶運送的材料，脈衝快速熱中子活化 (PFTNA) 分析是一項價值極高的技術。即時元素分析可實現前饋與回饋控制，在許多製程中極為重要。
我們的全方位元素解決方案系列可滿足多元應用，確保準確與可靠的結果。探索我們的以下元素分析儀系列。
Zetium 系列智能 Zetium 提供可靠的結果與強而有力的運行 |
Epsilon 系列快速準確的在線 (at-line) 與線上 (on-line) 元素分析 |
Axios FAST高样品处理量 |
2830 ZT先進半導體薄膜的精密量測解決方案 |
CNA 系列線上元素分析儀，可有效控管許多工業製程 |
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| 量測類型 | |||||
| 薄膜測量 | |||||
| 汙染物偵測和分析 | |||||
| 化學鑑定 | |||||
| 技術類型 | |||||
| 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF) | |||||
| 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) | |||||
| 脈衝快熱中子活化 (PFTNA) | |||||
| 元素范围 | |||||
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
| 分辨率 (Mg-Ka) | |||||
| 通量 | |||||
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